一种基于光学器件响应的检测系统及方法与流程

技术特征：

技术总结
本发明涉及一种基于光学器件响应的检测系统及方法。该系统包括：支撑型角度刻盘、导轨和滑块、平行激光光源、角度传感器、带积分球光谱仪和载物台，通过该系统实现基于光学器件响应的检测方法，与现有的观测装置和检测方法相比，该系统具有体积小、重量轻、易于安装和实现的特点，同时该系统操作简便、精度高，可以实现单一光学器件的独立检测，提高检测的准确度和精度。

技术研发人员：周红敏;王锦地
受保护的技术使用者：北京师范大学
技术研发日：2018.12.18
技术公布日：2019.02.22