本实用新型涉及光电子器件测试技术领域，具体为一种100G光电子器件测试装置。
背景技术：
光电子器件是利用电-光子转换效应制成的各种功能器件。如半导体光电探测器、光电倍增管、微光像增强器、真空摄像管、CCD和CMOS成像器件、致冷和非致冷红外成像器件、紫外成像器件和X射线成像器件等。
近年来，中国光电子器件制造行业实现了较快发展。在光通信、光显示等应用领域需求不断扩大的刺激下，产品有了更大的突破。尤其是100G光电子器件的出现，在生产时，由于100G光电子器件的集成化更高，插口更为密集，普通的在线测试装置无法进行准确定位，现有的多采用人工测试，工作量大，效率低，浪费大量人力，无法实现自动化在线测试。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种100G光电子器件测试装置，对针准确，可在输送线上进行测试，便于实现自动化，以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种100G光电子器件测试装置，包括输送带和滑座，所述输送带的上部中心固定连接有放置槽，且输送带的上部两侧固定连接有导柱，所述滑座设置在输送带的上方，所述滑座的下表面滑动安装有滑块，所述滑块的下部固定安装有气缸，所述气缸的下端固定连接有固定板，所述固定板的下部固定连接有导套和固定柱，且固定板的下部中心固定安装有测试探针，所述固定柱的上部套接有弹簧，且固定柱的下部滑动套接有压套。
优选的，所述弹簧的上端固定连接在固定板的下部，且弹簧的下端固定连接在压套的上部。
优选的，所述导套的下部开设有便于与导柱滑动套接的喇叭口。
优选的，所述滑座的下部表面固定连接有用于限制滑块滑动距离的限位块。
优选的，所述测试探针通过电缆信号线与测试平台的信号采集端信号连接。
优选的，所述气缸的电控端和驱动输送带的步进电机的电控端分别与DSP控制器的控制输出端电性连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、通过在输送带上设置导柱，同时在固定板的两侧设置与导柱配合的导套，使得测试探针插针准确；
2、通过在输送带上设置放置槽，将光电子器件准确放置在放置槽内，便于实现自动化在线测试。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型输送带的俯视结构示意图；
图3为本实用新型固定板的测试结构示意图；
图4为本实用新型的电性连接框图。
图中：1步进电机、2输送带、3导柱、4放置槽、5支撑板、6导套、7固定板、8气缸、9滑块、10限位块、11滑座、12固定柱、13弹簧、14测试探针、15压套、16 DSP控制器。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：该100G光电子器件测试装置，包括输送带2和滑座11，所述输送带2的上部中心固定连接有放置槽4，且输送带2的上部两侧固定连接有导柱3，所述滑座11设置在输送带2的上方，所述滑座11的下表面滑动安装有滑块9，所述滑块9的下部固定安装有气缸8，所述气缸8的下端固定连接有固定板7，所述固定板7的下部固定连接有导套6和固定柱12，且固定板7的下部中心固定安装有测试探针14，所述固定柱12的上部套接有弹簧13，且固定柱12的下部滑动套接有压套15。
具体的，所述弹簧13的上端固定连接在固定板7的下部，且弹簧13的下端固定连接在压套15的上部，弹簧13起到缓冲的作用，同时可以压迫压套15使得测试探针14拔出时，压套15压住光电子器件，使光电子器件不会被测试探针14带出放置槽4。
具体的，所述导套6的下部开设有便于与导柱3滑动套接的喇叭口，喇叭口的设计，便于导柱3插入导套6，同时通过导柱3和导套6的插接，使得测试探针14对准光电子器件的测试插口。
具体的，所述滑座11的下部表面固定连接有用于限制滑块9滑动距离的限位块10，滑座11与滑块9的作用，便于测试探针14的准确定位，即使有位置上的偏差，在通过导柱3和导套6的插接时，可自行校准（滑块9可移动）。
具体的，所述测试探针14通过电缆信号线与测试平台的信号采集端信号连接，测试探针14连通光电子器件的插口，进行导通，然后进行测试，采集数据。
具体的，所述气缸8的电控端和驱动输送带2的步进电机1的电控端分别与DSP控制器16的控制输出端电性连接，通过DSP控制器16连接气缸8与步进电机1，步进电机1每步进一次，气缸8上下循环一次，进行一个器件的测试。
工作原理：在使用时，将光电子器件放入放置槽4（放置槽4为微弹性橡胶盒或塑料盒，放置槽4的槽口形状与光电子器件的形状相同，且放置槽4的槽口大于光电子器件，之间存在间隙配合，便于定位）内，然后通过输送带2的作用，将光电子器件输送到测试探针14的下方；此时，控制气缸8下压，导套6套在导柱3（导柱3和导套6为耐磨的硬质塑料制成）上，准确定位，压套15下压压住光电子器件，且测试探针14插入光电子器件的测试口内（此时，气缸8保压一段时间，保持伸长状态），进行测试；测试结束后，气缸8回缩，回缩时，测试探针14拔出，由于弹簧13的设计，压套15压住光电子器件，便于测试探针14拔出；然后步进电机1再步进一次，进行下个光电子器件的测试，依此循环测试生产。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。