一种100G光电子器件测试装置的制作方法

文档序号:15439110发布日期:2018-09-14 22:34阅读:来源:国知局
技术总结
本实用新型公开了一种100G光电子器件测试装置,包括输送带和滑座,所述输送带的上部中心固定连接有放置槽,且输送带的上部两侧固定连接有导柱,所述滑座设置在输送带的上方,所述滑座的下表面滑动安装有滑块,所述滑块的下部固定安装有气缸,所述气缸的下端固定连接有固定板,所述固定板的下部固定连接有导套和固定柱,且固定板的下部中心固定安装有测试探针,所述固定柱的上部套接有弹簧,且固定柱的下部滑动套接有压套。通过在输送带上设置导柱,同时在固定板的两侧设置与导柱配合的导套,使得测试探针插针准确;通过在输送带上设置放置槽,将光电子器件准确放置在放置槽内,便于实现自动化在线测试。

技术研发人员:张园海;舒志浩
受保护的技术使用者:合达信科技有限公司
技术研发日:2018.02.14
技术公布日:2018.09.14

当前第3页1 2 3 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1