本实用新型涉及光学技术领域，具体涉及一种荧光检测装置。
背景技术：
目前应用于荧光检测装置的光学系统，如实时荧光定量聚合酶链式反应(Polymerase Chain Reaction，简称PCR)系统，所采用的共聚焦型或基于分支光纤的荧光检测光路在配合热循环系统工作时，通常涉及到多块带通型滤光片及聚光透镜。全封闭的光路通道对于长时间在高温或温差大的环境会严重影响光学元件的使用寿命，加之制作成本随光学元件数量增加的同时，光学传递效率随之减小，不利于实际应用。例如公告号为CN 101705280A的中国发明专利“定量PCR的多波长荧光检测方法及其装置”中所采用多面体反射多个荧光信号到同一传感器，虽然提高了检测效率，但存在潜在的荧光串扰，故此方案的检测误差较大，检测准确率低。
技术实现要素：
本实用新型的目的是针对现有的荧光检测装置中存在的不足，提供一种荧光检测装置，其激发光源的出光方向上设有反射镜，该反射镜的反射光路上的二向色镜镜面与反射镜镜面平行。激发光经反射镜到二向色镜，二向色镜到待测样品检测位为激发光通道；该二向色镜的另一个出光方向上为荧光带通滤光片聚光透镜和光电传感器形成的荧光检测通道。荧光检测通道可相对封闭，不受激发光源的影响，多个样品的通道之间也不会有相互干扰。本装置结构简单、检测准确率高。
本实用新型设计的一种荧光检测装置，包括激发光源，反射镜和光电传感器。激发光源的出光方向上设有反射镜，该反射镜的反射光路上设有二向色镜，二向色镜的镜面与反射镜镜面平行，该二向色镜的一个出光方向上设有待测样品检测位，所述激发光源发出的激发光经反射镜到达二向色镜，由二向色镜到待测样品检测位形成激发光通道；该二向色镜的另一个出光方向设有荧光带通滤光片，该荧光带通滤光片后方依次设有聚光透镜和光电传感器，二向色镜、荧光带通滤光片、聚光透镜和光电传感器形成的荧光检测通道。
进一步的：荧光检测通道处于封闭的机壳内。
进一步的：激发光源发出的主光线与反射镜镜面呈45°角入射；反射光的主光线与二向色镜镜面呈45°角入射。
进一步的：二向色镜为短通型或长通型。
进一步的：所述光电传感器是光电二极管、光电倍增管、互补金属氧化物半导体和电荷耦合元件中的任一种。
进一步的：所述反射镜是平面反射镜。
进一步的：本检测装置设置1～7个待测样品检测位和与每个待测样品对应的激发光源，每个待测样品检测位配置一套二向色镜、荧光带通滤光片、聚光透镜和光电传感器，形成独立的荧光检测通道，各激发光源共用一个反射镜。
进一步的：各待测样品检测位对应的荧光检测通道处于一个封闭的机壳内。
进一步的：各激发光源为不同波长的发光二极管或激光二极管，各相邻的激发光源发出相异波长窄光谱的激发光，相互的光谱没有重叠，避免互扰。
进一步的：各激发光源为单色激光光源或单色发光二极管，或者是配有单色器的复色激发光源。
与现有技术相比，本实用新型一种荧光检测装置具有的有益效果是：
1、一个激发光源对应一个待测样品，且激发光源设置于激发光通道与荧光检测通道的机壳外部，检测不受光源散射光的影响，提高检测准确度；
2、可以同时检测多个样品，提高检测效率；且每个激发光通道与荧光检测通道处于单独的机壳内形成一个独立的检测通道，避免了不同通道间的信号干扰，提高检测准确度；
3、光学结构简单，反射镜为各通道共用，减少了光学元件，提高了激发光和荧光的传递效率，减少光路损耗，提高光的利用率；加工成本低，机械运动要求较低，使用寿命长；
4、各单色窄谱激发光源发出的激发光波长不同，避免激发光源间的光谱重叠产生信号干扰；
5、适于配合加热系统使用，本装置的激发光源和光电传感器可以集成在同一电路板上，远离加热系统且散热条件较好，提高本装置光学元件和电气元件的工作稳定性，并可延长激发光源以及各元件的使用寿命。
附图说明
图1是本荧光检测装置实施例1的光路结构示意图；
图2是荧光检测装置实施例2的光路结构示意图；
图3是本荧光检测装置实施例1的实体示意图。
附图标记：
1、激发光源，2、反射镜，3、二向色镜，4、荧光带通滤光片，5、聚光透镜，6、光电传感器，7、待测样品检测位，8、机壳。
具体实施方式
下面结合附图，对本实用新型进行进一步说明。
实施例1：
本荧光检测装置实施例1的光路结构如图1所示，激发光源1和光电传感器6处于机壳8上方，激发光源1垂直向下的出光方向上设有反射镜2，激发光源1发出的主光线与反射镜2镜面呈45°角入射；该反射镜2的反射光路上设有二向色镜3，二向色镜3的镜面与反射镜2镜面平行，反射光的主光线与二向色镜3镜面呈45°角入射。该二向色镜3的垂直向下的出光方向上设有待测样品检测位7，样品置于待测样品检测位7。所述激发光源1发出的激发光经反射镜2到达二向色镜3，由二向色镜3到待测样品检测位7形成激发光通道；该二向色镜3的垂直向上的出光方向设有荧光带通滤光片4，该荧光带通滤光片4上方依次设有聚光透镜5和光电传感器6，二向色镜3、荧光带通滤光片4、聚光透镜5和光电传感器6形成的荧光检测通道。
本例二向色镜3为长通型。
本例光电传感器是光电二极管。
本例反射镜2是平面反射镜。
如图3所示，本例设置3个待测样品检测位7和与每个待测样品对应的3个激发光源1，每个待测样品检测位7配置一套二向色镜3、荧光带通滤光片4、聚光透镜5和光电传感器6。
本例机壳8左侧上方为3个激发光源1，左侧中部为与水平面成45°角的反射镜2。反射镜2的长度大于3个激发光源1排列的长度。机壳8中部隔板留有与反射镜相对的三个反射光入射口，3个二向色镜3分别设置于三个反射光入射口右侧、位于右侧机壳8内，3个二向色镜3与左侧的反射镜2平行相对，3个二向色镜3下方相对的是处于右侧机壳8开放的底部的三个对应的待测样品检测位7，反射镜2至3个二向色镜3、再至3个待测样品检测位7为激发通道。
3个二向色镜3上方依次为3套荧光带通滤光片4、聚光透镜5和光电传感器6，此为荧光检测通道，3个二向色镜3上方的各部件处于右侧机壳上部封闭的空间内。
本例三个激发光源1分别为波长620nm、590nm和490nm的窄光谱的发光二极管或光电倍增管，各激发光源的光谱互不重叠。根据待测样品产生的荧光范围确定激发光源1的波长范围以及二向色镜3、荧光带通滤光片4的特性参数。
本实施例使用时，根据待测样品荧光染料的吸收发光特性和波长相近不相邻的原则，将待测样品置于对应的待测样品检测位7上。各激发光源1发出的激发光经过反射镜2后分别进入各二向色镜3；二向色镜3将激发光导向待测样品检测位7上的样品；待测样品发出荧光，经二向色镜3进入荧光检测通道；荧光检测通道内的荧光带通滤光片4筛选出所需的波长；聚光透镜5聚焦到光电传感器6上产生光电信号。
实施例2：
本荧光检测装置实施例2的光路结构如图2所示，激发光源1和光电传感器6处于机壳8左侧，激发光源1设置在光电传感器6的上方。激发光源1和光电传感器6集成在同一电路板上，位于整个荧光检测装置的一侧，更加便于与外部机械结构间的装配。
本例激发光源1水平向右的出光方向上设有反射镜2，激发光源1发出的主光线与反射镜2镜面呈45°角入射；该反射镜2的反射光路上设有二向色镜3，二向色镜3的镜面与反射镜2镜面平行，反射光的主光线与二向色镜3镜面呈45°角入射。该二向色镜3的垂直向下的出光方向上设有待测样品检测位7，所述激发光源1发出的激发光经反射镜2到达二向色镜3，由二向色镜3到待测样品检测位7形成激发光通道；该二向色镜3的水平向左的出光方向设有荧光带通滤光片4，该荧光带通滤光片4左侧依次设有聚光透镜5和光电传感器6，二向色镜3、荧光带通滤光片4、聚光透镜5和光电传感器6形成的荧光检测通道。
本例反射镜2与激光光源1对应的镜面朝下设置，在一定程度上可以降低微尘对反射镜2的镜面的污染。
本例二向色镜3为短通型。
本例多个通道组合共用同一个反射镜2，反射镜2为平面反射镜。
本实施例中，光电传感器6为互补金属氧化物半导体或电荷耦合元件。
本例其它结构及使用与实施例1相同。
上述实施例，仅为对本实用新型的目的、技术方案和有益效果进一步详细说明的具体个例，本实用新型并非限定于此。凡在本实用新型的公开的范围之内所做的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本实用新型的保护范围之内。