一种X射线衍射仪的制作方法

本实用新型涉及X射线衍射分析领域，具体是一种X射线衍射仪。

背景技术：

X射线衍射分析是冶金行业进行物质和材料微观研究的重要物理方法之一，应用十分广泛。通过X射线在晶体中所产生的衍射现象来研究晶体结构中的各类问题，如晶粒大小、晶体取向、晶体的结构类型以及晶体缺陷等。织构使材料出现宏观各向异性，对其使用和再加工性能有明显作用。因此材料织构的检测和控制日益为加工业和制造业所重视。

X射线衍射仪的形式多种多样，但其基本构成很相似，主要部件包括以下四部分。一、高稳定度X射线源：提供测量所需的X射线,改变X射线管阳极靶材质可改变X射线的波长,调节阳极电压可控制X射线源的强度；二、样品及样品位置取向的调整机构系统：样品须是单晶、粉末、多晶或微晶的固体块；三、射线检测器：检测衍射强度或同时检测衍射方向,通过仪器测量记录系统或计算机处理系统可以得到多晶衍射图谱数据；四、衍射图的处理分析系统：现代X射线衍射仪都附带安装有专用衍射图处理分析软件的计算机系统,它们的特点是自动化和智能化。

现有的粉末X射线衍射仪测角仪有立式和卧式两种，对于立式测角仪，样品采取水平放置，测试过程中一般不易从样品架上滑落，而对于卧式测角仪，由于测试时样品是垂直立于样品固定柱中央，对于颗粒较为粗大或附着性不好的粉末样品，会很容易从样品架上滑落到测角仪中央样品室底部，原仪器样品室中央是样品固定柱，空间狭窄，人工清洁底部的洒落样品不能直接操作，需拆卸整个样品室圆柱体套筒，即费时间又影响测角仪稳定性。

技术实现要素：

本实用新型的主要目的在于提供一种X射线衍射仪，便于样品室的清洁。

为达到以上目的，本实用新型采用的技术方案为：一种X射线衍射仪，包括固定在X射线衍射仪内的基座和设在所述基座上方的样品架，所述样品架上方通过转轴旋转连接有可固定样品粘结片的固定架，所述固定架一侧设有限位弹片，所述限位弹片可使所述样品粘结片紧贴所述固定架。

作为改进，所述样品架上设有若干个等距间隔的限位孔，所述限位弹片通过与所述限位孔配合的螺栓固定在所述样品架上。

作为改进，所述限位孔的个数为三个。

作为改进，所述样品粘结片靠近所述限位弹片的一侧粘结有样品；所述限位弹片远离所述固定架的一侧设有挡板，所述挡板与所述限位弹片连接形成可承接所述样品的收集槽。

X射线衍射仪的其他组成部件均为现有技术，本实用新型重点改进其样品的夹持装置，其他部件不多加描述。

与现有技术相比，本实用新型的优点在于：

1.未检测时，样品粘结片在样品架上处于水平状态，样片在样品粘结片上不易脱落；需要检测时，固定架旋转，使样品粘结片处于对应位置；

2.限位弹簧进一步将竖直的样品粘结片固定在固定架上，多个限位孔使限位弹片能适应多种尺寸的样品粘结片；

3.通过限位弹片与挡板形成一个收集槽，充分利用限位弹片的作用，使样品室便于清理。

附图说明

图1～2是本实用新型的剖视图；

各个附图标记对应的部件名称是：1.样品架；2.固定架；21.转轴；3.收集槽；31.限位弹片；32.挡板；4.螺栓；41.限位孔；5.样品粘结片；6.样品；7.基座。

具体实施方式

以下描述用于揭露本实用新型以本领域技术人员能够实现本实用新型。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。

本实用新型包括固定在X射线衍射仪内的基座7和设在所述基座7上方的样品架1，所述样品架1上方通过转轴21旋转连接有可固定样品粘结片5的固定架2，所述固定架2一侧设有限位弹片31，所述限位弹片31可使所述样品粘结片5紧贴所述固定架2。

具体的，所述样品架1上设有若干个等距间隔的限位孔41，所述限位弹片31通过与所述限位孔41配合的螺栓4固定在所述样品架1上。

具体的，所述限位孔41的个数为三个。

具体的，所述样品粘结片5靠近所述限位弹片31的一侧粘结有样品6；所述限位弹片31远离所述固定架2的一侧设有挡板32，所述挡板32与所述限位弹片31连接形成可承接所述样品6的收集槽3。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型的范围内。