技术总结
本实用新型涉及一种用于全反射X光荧光光谱仪测量滤膜载颗粒的压环装置，包括压环部件、样品盘和样品架；所述样品盘表面高于所述样品架；所述压环部件与所述样品架配合以使待测量滤膜绷紧在所述样品盘表面。本实用新型的有益效果如下：本实用新型能够迅速使滤膜表面平整，实现X光全反射，因而能够使用TXRF技术直接快速分析滤膜载大气颗粒物的元素成分，分析时间从以前的转膜制样分析所需的三个小时缩短为10分钟，大大提高了效率，降低了工作强度和分析成本，并且因为制样和分析都是非破坏性的，可以使珍贵的滤膜载大气颗粒物样品得以保存。
技术研发人员：崔大庆;郑维明;康海英
受保护的技术使用者：中国原子能科学研究院
技术研发日：2018.08.10
技术公布日：2019.03.29