一种半导体激光器的温度检测设备的制作方法

文档序号:17023224发布日期:2019-03-02 02:50阅读:199来源:国知局
一种半导体激光器的温度检测设备的制作方法

本实用新型涉及激光器检测设备技术领域,具体为一种半导体激光器的温度检测设备。



背景技术:

半导体激光器是用半导体材料作为工作物质的激光器,由于物质结构上的差异,不同种类产生激光的具体过程比较特殊,半导体激光器是世界上发展最快、应用最广泛、最早走出实验室实现商用化且产值最大的一类激光器,在半导体激光器生产制备时需要对半导体激光器进行一系列的检测,而波长- 温度系数的检测是不可缺少的一个环节,不但要使用多种设备,还要根据不同的数据需求改变检测设备的位置,为此,我们提出一种半导体激光器的温度检测设备。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于提供一种半导体激光器的温度检测设备,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种半导体激光器的温度检测设备,包括待测激光器、驱动电源、温度调节器、光闸、积分球、衰减器、光谱分析仪、侧板、承接板、U型板、弹簧和检测台,所述检测台顶部固定连接有承接板,所述检测台顶部位于承接板一侧固定连接有驱动电源,所述检测台顶部位于承接板另一侧固定连接有温度调节器,所述承接板顶部对称设有U型板,所述承接板顶部设有待测激光器,且待测激光器两侧与相邻的U型板侧壁相接触,所述待测激光器分别与驱动电源和温度调节器电性连接,所述承接板顶部位于U型板远离待测激光器的一侧均对称开设有滑槽,所述U型板顶部均对称固定连接有滑块,所述滑块与滑槽滑动连接,所述滑槽内均设置有弹簧,所述弹簧两端分别与滑块和滑槽一侧内壁固定连接,所述检测台顶部位于承接板与驱动电源垂直的一侧安装有光闸,所述光闸输入端正对待测激光器设置,所述检测台与承接板垂直的一侧固定连接有侧板,所述侧板顶部固定连接有积分球,所述积分球输入端正对光闸输出端设置,所述积分球远离检测台的一侧设有光谱分析仪,所述光谱分析仪与积分球之间设有衰减器,所述积分球输出端通过光钎与衰减器输出端相连通,所述衰减器输出端通过光纤与光谱分析仪输入端相连通。

优选的,所述积分球底部中心处固定连接有连接杆,所述连接杆外侧套有套筒,且连接杆与套筒滑动连接。

优选的,所述侧板顶部中心处固定连接有齿轮筒,且齿轮筒顶部与套筒底部相连通,所述齿轮筒内设有螺杆,所述螺杆底部通过轴承与齿轮筒底部内壁转动连接,所述连接杆开设有内螺纹,所述螺杆一端穿过齿轮筒通过螺纹与连接杆啮合连接。

优选的,所述螺杆外侧套接固定有蜗轮,所述齿轮筒内设有蜗杆,且蜗杆与螺杆互相垂直,所述蜗杆两端分别通过轴承与齿轮筒对应两侧内壁转动连接,所述蜗杆与蜗轮啮合连接。

优选的,所述蜗杆一端穿过齿轮筒固定连接有转把。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:

1、本实用新型首先待测激光器的光纤穿过光闸,可阻挡进人光谱分析仪的光,光线穿过积分球后通过衰减器,将光衰减到光谱分析仪的正常工作范围内,根据被测待测激光器光输出光谱范围设置光谱分析仪的扫描范围、扫描分辨率和扫描灵敏度,驱动电源给被测待测激光器施加正向电流到规定值,光谱分析仪在所设置的波段内扫描,记录波长λ与该波长对应的相对光谱强度I,测出峰值波长入λp1,并记录对应热沉温度T1;在规定的热沉温度范围内, 控制温度调节器改变热沉温度,记录热沉温度T2,记录对应温度下的峰值波长入λp2,再通过算出波长温度漂移系数,用这种方法数据准确,记录方便。

2、本实用新型通过把待测激光器放入承接板顶部两侧的U型板之间,可以固定住待测激光器,U型板底部的滑块在弹簧的限制下,可以固定住待测激光器,防止待测激光器检测使晃动偏移,造成检测结果不准确。

附图说明

图1为本实用新型整体结构俯视图;

图2为本实用新型整体结构主视图;

图3为本实用新型承接板结构剖视图;

图4为本实用新型承接板结构俯视图;

图5为本实用新型套筒结构剖视图;

图6为本实用新型温度测试原理图;

图7为本实用新型波长测试原理图;

图8为本实用新型光谱与波长分布曲线图。

图中:1、待测激光器;2、驱动电源;3、温度调节器;4、光闸;5、积分球;6、衰减器;7、光谱分析仪;8、侧板;9、承接板;10、U型板;11、弹簧;12、滑块;13、滑槽;14、蜗杆;15、蜗轮;16、齿轮筒;17、套筒; 18、连接杆;19、螺杆;20、检测台。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-8,本实用新型提供一种技术方案:一种半导体激光器的温度检测设备,包括待测激光器1、驱动电源2、温度调节器3、光闸4、积分球5、衰减器6、光谱分析仪7、侧板8、承接板9、U型板10、弹簧11和检测台20,所述检测台20顶部固定连接有承接板9,所述检测台20顶部位于承接板9一侧固定连接有驱动电源2,所述检测台20顶部位于承接板9另一侧固定连接有温度调节器3,所述承接板9顶部对称设有U型板10,所述承接板9顶部设有待测激光器1,且待测激光器1两侧与相邻的U型板10侧壁相接触,所述待测激光器1分别与驱动电源2和温度调节器3电性连接,所述承接板9 顶部位于U型板10远离待测激光器1的一侧均对称开设有滑槽13,所述U型板10顶部均对称固定连接有滑块12,所述滑块12与滑槽13滑动连接,所述滑槽13内均设置有弹簧11,所述弹簧11两端分别与滑块12和滑槽13一侧内壁固定连接,所述检测台20顶部位于承接板9与驱动电源2垂直的一侧安装有光闸4,所述光闸4输入端正对待测激光器1设置,所述检测台20与承接板9垂直的一侧固定连接有侧板8,所述侧板8顶部固定连接有积分球5,所述积分球5输入端正对光闸4输出端设置,所述积分球5远离检测台20的一侧设有光谱分析仪7,所述光谱分析仪7与积分球5之间设有衰减器6,所述积分球5输出端通过光钎与衰减器6输出端相连通,所述衰减器6输出端通过光纤与光谱分析仪7输入端相连通。

所述积分球5底部中心处固定连接有连接杆18,所述连接杆18外侧套有套筒17,且连接杆18与套筒17滑动连接,滑动连接可以调整连接杆18高度。

所述侧板8顶部中心处固定连接有齿轮筒16,且齿轮筒16顶部与套筒 17底部相连通,所述齿轮筒16内设有螺杆19,所述螺杆19底部通过轴承与齿轮筒16底部内壁转动连接,所述连接杆18开设有内螺纹,所述螺杆19一端穿过齿轮筒16通过螺纹与连接杆18啮合连接,通过转动螺杆19使连接杆 18移动。

所述螺杆19外侧套接固定有蜗轮15,所述齿轮筒16内设有蜗杆14,且蜗杆14与螺杆19互相垂直,所述蜗杆14两端分别通过轴承与齿轮筒16对应两侧内壁转动连接,所述蜗杆14与蜗轮15啮合连接,通过蜗杆14转动带动蜗轮15从而使螺杆转动19。

所述蜗杆14一端穿过齿轮筒16固定连接有转把21,转把21加长转动直径,使转动蜗杆14时更加省力。

工作原理为:首先待测激光器1的光纤穿过光闸4,可阻挡进人光谱分析仪7的光,光线穿过积分球5后通过衰减器6,将光衰减到光谱分析仪7的正常工作范围内,根据被测待测激光器1光输出光谱范围设置光谱分析仪7的扫描范围、扫描分辨率和扫描灵敏度,驱动电源2给被测待测激光器1施加正向电流到规定值,光谱分析仪7在所设置的波段内扫描,记录波长λ与该波长对应的相对光谱强度I,测出峰值波长入λp1,并记录对应热沉温度T1;在规定的热沉温度范围内,控制温度调节器3改变热沉温度,记录热沉温度T2,记录对应温度下的峰值波长入λp2,再通过算出波长温度漂移系数,所述驱动电源2型号为P12,所述温度调节器3型号为MT-48,所述光闸4型号为JY-12-006,所述积分球5型号为YF1000,所述衰减器6型号为0000,所述光谱分析仪7型号为AQ6370。

需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

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