一种封装测试探针的制作方法

本实用新型设计测试探针技术领域，具体为一种封装测试探针。

背景技术：

探针是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件，测试针，用于测试PCBA的一种探针，表面镀金，内部有平均寿命3万～10万次的高性能弹簧，探针根据电子测试用途可分为，光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针，国内大部分的探针产品均可替代进口产品；在线测试探针：PCB线路板安装元器件后的检测探针；高端产品的核心技术还是掌握在国外公司手中，国内部分探针产品已研发成功，可替代进口探针产品；微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC检测探针，核心技术还是掌握在国外公司手中，国内生产厂商积极参与研发，但只有一小部分成功生产。

目前使用的封装探针具有一下缺点：

1、在封装测试时，需要穿透绝缘层，因此在复杂的线束环境中，需要封装测试探针能够快速进行程度调节，尤其是探测部分的伸缩，目前使用的不具备此功能。

2、封装测试探针的横截面积较小，容易折断，因此需要一种可以根据绝缘层厚度进行相应调节探针针头长度的探针。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种封装测试探针，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种封装测试探针，包括接线端，所述接线端的一侧固定设置有握把，所述握把远离接线端一侧固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆外部固定设置有第一弹簧，所述第一弹簧远离握把一侧固定设置有金属柱，所述金属柱远离第一弹簧一侧固定设置有收缩杆，所述收缩杆内部活动安装有收缩轴，所述收缩轴内部活动安装有凸块，所述凸块底端固定连接有第二弹簧，所述第二弹簧远离凸块一侧固定设置有限制块，所述收缩轴远离凸块一侧固定设置有滑块，所述收缩杆内部远离凸块一侧开设有滑槽，所述滑块活动安装在滑槽中，所述收缩杆靠近凸块一侧开设有若干圆孔，所述凸块活动安装在圆孔中，所述收缩轴远离金属柱一侧固定设置有探针柱，所述探针柱远离收缩轴一侧活动安装有探针，所述探针外侧活动安装有旋钮，所述旋钮靠近探针一侧固定设置有压紧环，所述探针柱靠近探针一侧活动安装有金属槽。

优选的，所述接线端远离握把一侧开设有插孔。

优选的，所述凸块靠近第二弹簧一侧固定设置有挡板。

优选的，所述旋钮下端固定设置有螺栓，所述探针靠近旋钮一侧开设有螺纹孔，所述螺栓与螺纹孔之间螺纹连接。

优选的，所述旋钮外侧固定设置有防滑纹。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过在封装测试探针上设置凸块、第二弹簧和圆孔，可以调整收缩杆在收缩轴内的位置，进而实现对测试探针的长度调节，便于根据使用环境调节长度，同时设置了滑块和滑槽可以提升调节速度，提升工作人员的工作效率；

2、本实用新型同时还设置有探针柱、金属槽、压紧环和旋钮，，由于封装测试探针对探针粗细的要求较高，需要精细的探针才能够穿透绝缘层深入到金属导体，因此通过旋钮调节压紧环与金属槽之间的压紧效果，可以将探针收缩至探针柱中，防止在不工作状态损坏探针，具有结构简单，使用方便等优点。

附图说明

图1为本实用新型一种封装测试探针整体结构示意图；

图2为本实用新型一种封装测试探针收缩杆与收缩轴的安装视图；

图3为本实用新型一种封装测试探针旋钮和金属槽的安装视图；

图4为本实用新型一种封装测试探针图2中A处放大视图。

图中：1、接线端；2、握把；3、伸缩杆；4、第一弹簧；5、金属柱；6、收缩杆；7、收缩轴；8、凸块；9、第二弹簧；10、限制块；11、滑块；12、滑槽；13、圆孔；14、探针柱；15、探针；16、旋钮；17、压紧环；18、金属槽；19、插孔；20、螺栓；21、螺纹孔；22、防滑纹；23、挡板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-4，本实用新型提供一种技术方案：一种封装测试探针，包括接线端1，所述接线端1的一侧固定设置有握把2，所述握把2远离接线端1一侧固定连接有伸缩杆3，所述伸缩杆3外部固定设置有第一弹簧4，所述第一弹簧4远离握把2一侧固定设置有金属柱5，所述金属柱5远离第一弹簧4一侧固定设置有收缩杆6，所述收缩杆6内部活动安装有收缩轴7，所述收缩轴7内部活动安装有凸块8，所述凸块8底端固定连接有第二弹簧9，所述第二弹簧9远离凸块8一侧固定设置有限制块10，所述收缩轴7远离凸块8一侧固定设置有滑块11，所述收缩杆6内部远离凸块8一侧开设有滑槽12，所述滑块11活动安装在滑槽12中，所述收缩杆6靠近凸块8一侧开设有若干圆孔13，所述凸块8活动安装在圆孔13中，所述收缩轴7远离金属柱5一侧固定设置有探针柱14，所述探针柱14远离收缩轴7一侧活动安装有探针15，所述探针15外侧活动安装有旋钮16，所述旋钮16靠近探针15一侧固定设置有压紧环17，所述探针柱14靠近探针15一侧活动安装有金属槽18。

所述接线端1远离握把2一侧开设有插孔19，便于进行电性连接，进行有效检测；所述凸块8靠近第二弹簧9一侧固定设置有挡板23，防止凸块8在第二弹簧9的作用下脱离收缩轴7；所述旋钮16下端固定设置有螺栓20，所述探针15靠近旋钮16一侧开设有螺纹孔21，所述螺栓20与螺纹孔21之间螺纹连接，可以将压紧环17有效贴合在金属槽上18，便于进行探针15的伸缩；所述旋钮16外侧固定设置有防滑纹22，增大旋钮16表面的摩擦力。

工作原理：该实用新型通过在封装测试探针上设置凸块8、第二弹簧9和圆孔13，可以调整收缩轴7在收缩杆6内的位置，进而实现对测试探针的长度调节，便于根据使用环境调节长度，还设置了滑块11和滑槽12可以提升调节速度，提升工作人员的工作效率，同时还设置有探针柱14、金属槽18、压紧环17和旋钮16，，由于封装测试探针对探针15粗细的要求较高，需要精细的探针15才能够穿透绝缘层深入到金属导体，因此通过旋钮16调节压紧环17与金属槽18之间的压紧效果，可以将探针15收缩至探针柱14中，防止探针15过长而导致折断，同时还可以防止在不工作状态损坏探针15，具有结构简单、使用方便、使用效果好的优点。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。