1.一种芯块几何密度测量装置，其特征在于，包括测量平台(1)，设置在测量平台上的门形架(6)，依次设置在门形架两端之间的上料机构、质量检测机构、尺寸测量机构和下料机构；所述上料机构包括设置在测量平台上的上料台(2)，设置在上料台上的储料盘(21)，所述下料机构包括设置在测量平台上的下料台(3)，设置在下料台上的卸料盘(31)，所述储料盘和卸料盘上均设有若干平行的用于卡设芯块的条形槽；所述质量检测机构包括设置在测量平台上的电子天平(4)；所述尺寸测量机构包括设置在测量平台上的芯块定位台(5)，设置在芯块定位台中部的芯块定位凸起(51)，并排设置在芯块定位凸起上的用于放置芯块的两块定位板(52)，及以芯块定位凸起为轴对称设置在芯块定位台上的光学发射器和光学接收器。
2.根据权利要求1所述的一种芯块几何密度测量装置，其特征在于，所述上料台(2)上镶嵌有第一直线运动平台(22)，所述储料盘即放置在该第一直线运动平台上、并由第一直线运动平台带动做前后移动；所述上料台上方的门形架前设有第二直线运动平台(29)，该第二直线运动平台上设有可在第二直线运动平台带动下左右移动的第一让位气缸(23)，所述第一让位气缸纵向设置且下端设有可在第一让位气缸带动下上下移动的第一推块(24)；所述上料台上左侧设有预设取料口(25)，该取料口上方设有预设取料槽(26)，取料槽内侧设有用于检测芯块是否到位的第一光电传感器(27)；所述上料台(2)另一侧与预设取料口(25)相对的位置设有推口(28)，该推口与第一推块相匹配。
3.根据权利要求2所述的一种芯块几何密度测量装置，其特征在于，所述下料台(3)上镶嵌有第三直线运动平台(32)，所述卸料盘即放置在该第三直线运动平台上、并由第三直线运动平台带动做前后移动；所述下料台上方的门形架前设有第四直线运动平台(38)，该第四直线运动平台上设有可在第四直线运动平台带动下左右移动的第二让位气缸(33)，所述第二让位气缸纵向设置且下端设有可在第二让位气缸带动下上下移动的第二推块(34)；所述下料台上靠近芯块定位台(5)的一侧设有预设放料口(35)，该放料口上方设有预设放料槽(36)，放料槽内侧设有用于检测芯块是否到位的第二光电传感器(37)，所述第二推块与放料槽相匹配。
4.根据权利要求3所述的一种芯块几何密度测量装置，其特征在于，所述质量检测机构还包括设置在电子天平上且上方设有V形定位槽的定位块(41)，设置在电子天平上并围绕定位块一圈的环形板(42)，对称竖直设置在环形板上的安装板(43)，以及设置在安装板上的对射式光电传感器(44)。
5.根据权利要求4所述的一种芯块几何密度测量装置，其特征在于，所述两块定位板(52)之间的芯块定位凸起(51)上设有第三光电传感器(53)。
6.根据权利要求5所述的一种芯块几何密度测量装置，其特征在于，所述门形架(6)上还设有第五直线运动平台(61)，所述第五直线运动平台上还设有可在第五直线运动平台带动下左右移动的第三让位气缸(64)，第三让位气缸上设有一块倒T形分配板(62)，所述分配板呈倒T形，且分配板下方两端及中部各设有一个用于夹持芯块的气爪(63)；所述取料槽(26)、定位块(41)、两块定位板(52)和放料槽(36)的中心位于同一水平线上，且所述取料槽与定位块之间、定位块与两块定位板之间、两块定位板与放料槽之间及相邻气爪之间的中心间距均一致。