一种检验产品引脚接合质量的检测装置的制作方法

本实用新型涉及检测装置领域，尤其设计一种检验产品引脚接合质量的检测装置。

背景技术：

接口、芯片等带有引脚的产品，产品引脚的接合质量会直接影响整个产品的性能，一个引脚接合出现问题会导致产品无法正常工作。为了提高产品稳定性，引脚可通过焊接后滴热熔胶对焊接处进行保护。在生产过程中，因跌落、可能会出现引脚断裂、引脚缺失的情况，热熔胶也可能会出现滴下量过多或者产生气泡的现象，进而影响产品质量。

一般产品生产线会对产品引脚的接合质量设置人工检测的程序，然而人工检测不仅存在因主观因素造成检验标准不统一、长时间观察造成疲惫，导致准确率下降的问题，而且产品引脚的结构比较细小，可能存在肉眼难以发现的问题。

技术实现要素：

为了解决上述问题，本实用新型提供一种检验产品引脚接合质量的检测装置，其可以代替人工检测，并且准确检验产品引脚的接合质量。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种检验产品引脚接合质量的检测装置，包括：

底座以及支架；

置物工位，设置在底座上并且能够放置待测产品；

摄像头，设置在支架上并且能够采集待测产品引脚的图像数据；

处理单元，与摄像头电性连接以获取待测产品引脚的图像数据进行分析处理。

进一步地，所述置物工位包括底板以及设置在底板上的限制块，限制块位于待测产品的两侧或四周以限制待测产品移动。

进一步地，还包括设置于底座上的发光元件，发光元件位于底板下方并且朝向底板，所述底板设置有开孔或为透明材质以使发光元件能够照亮产品。

进一步地，还包括与支架连接的遮光罩，所述遮光罩全包围或半包围摄像头。

进一步地，还包括设置于底座或支架上的非接触式探测器，所述非接触式探测器用于检测置物工位是否有待测产品放置，并且非接触式探测器与处理单元电性连接以将检测结果传输至处理单元。

进一步地，所述非接触式探测器位于置物工位的一侧。

本实用新型的有益效果是：摄像头采集待测产品引脚的图像数据并输送至处理单元，处理单元根据图像数据中引脚处阴影是否存在断裂、缺失，或者热熔胶处阴影面积是否过大、是否存在气泡阴影的问题进行分析，便可判断产品引脚的接合质量是否合格。通过本实用新型代替人工检测不仅可省去人工成本，而且由于采用图像数据进行判断，检验基准标准、细小结构存在的问题也能够发现并且判断准确率大大提升。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明：

图1是本实用新型的剖面图；

图2是本实用新型的底座立体图。

具体实施方式

参照图1至图2，一种检验产品引脚接合质量的检测装置，包括：

底座11以及支架20；

置物工位30，设置在底座11上并且能够放置待测产品；

摄像头21，设置在支架20上并且能够采集待测产品引脚的图像数据；

处理单元，与摄像头21电性连接以获取待测产品引脚图像数据进行分析处理。

摄像头21采集待测产品引脚的图像数据并输送至处理单元，处理单元根据待测产品引脚的图像数据中引脚处阴影是否存在断裂、缺失，或者热熔胶处阴影面积是否过大、是否存在气泡阴影的问题进行分析，便可判断产品引脚的接合质量是否合格。通过本实用新型代替人工检测不仅可省去人工成本，而且由于采用图像数据进行判断，检验基准标准、细小结构存在的问题也能够发现并且判断准确率大大提升。

作为本实用新型的优选实施方式，所述置物工位30包括底板31以及设置在底板31上的限制块32，限制块32位于待测产品的两侧或四周以限制待测产品移动。限制块32可以是两“凹”字形块将待测产品限制在中间缺口处，也可以一整体的“回”字形块将待测产品限制在中间，还可以是以其他类似方式限制待测产品移动。

为了使本实用新型能在光线不足的环境下使用，并且提高摄像头21采集的图像数据清晰度，还包括设置于底座11上的发光元件12，发光元件12位于底板31下方并且朝向底板31，所述底板31设置有开孔或为透明材质以使发光元件12能够照亮产品。工作时，发光单元12发出的光线穿过底板31的开孔或透过透明材质的底板31照亮待测产品，使在光线不足的环境下摄像头21仍能清晰采集到的产品引脚的图像数据，并且发光元件12的光线使摄像头21采集到的图像数据中引脚和热熔胶的阴影边缘更加明显，使图像对比度提高，更有利于处理单元对图像数据分析，进而提高对质量问题判断的准确率。

当在环境光线比较复杂的环境下，摄像头21会受到来自侧方的环境光线，进而影响采集到的产品引脚的图像数据，严重时可能会影响对产品质量的判断结果。为了减少来自侧方环境光线的影响，本实用新型还包括与支架20连接的遮光罩22，所述遮光罩22全包围或半包围摄像头21的接收端。遮光罩22能遮挡来自侧方的光线进入摄像头21的接收端，使摄像头21主要采集来自前方的产品引脚的图像数据，增强在不同光线环境下使用的稳定性。

为了使本实用新型能配合流水线生产节奏，还包括设置于底座11或支架20上的非接触式探测器13，所述非接触式探测器13用于检测置物工位30是否有待测产品放置，并且非接触式探测器13与处理单元电性连接以将检测结果传输至处理单元。

工作时，非接触式探测器13发射探测电磁波，探测电磁波接触到物品时发生反射并沿原路返回，非接触式探测器13接收到反射的探测电磁波，得出发射探测电磁波和接收探测电磁波的时间差。因当置物工位30放置有待测产品时探测电磁波传播路径较短，探测电磁波发射和接收的时间差小，而当置物工位30没有待测产品放置时，探测电磁波传播路径较长，探测电磁波发射和接收的时间差较大，所以可根据探测电磁波发射和接收的时间差判断置物工位30是否有待测产品放置。因存在探测电磁波可能不发生反射或反射后不沿原传播路径返回，非接触式探测器13也可以根据一定时间内有无接收到探测电磁波判断置物工位30有无待测产品放置。非接触式探测器13发射的探测电磁波可以是红外线、可见光或其他能在接触物体表面发生反射的波段。

作为本实用新型的优选实施方式，所述非接触式探测器13位于置物工位30的一侧。非接触式探测器13位于置物工位30的一侧，使非接触式探测器13发射的探测电磁波只会在置物工位30有待测产品时，在待测产品表面发生反射，而置物工位30无没有待测产品时，探测电磁波不发生反射，因此非接触式探测器13只需检测有无接收到探测电磁波而不需要计算时间差，即可判断置物工位30有无待测产品放置。通过此方法可使非接触式探测器13的性能要求降低，不需要计算探测电磁波发射和接收的时间差，因而可使用价格较便宜的非接触式探测器13以降低成本。

当有产品放置在置物工位30时，探测电磁波在产品表面发生反射并沿原传播路径返回至非接触式探测器13，非接触式探测器13接收到探测电磁波时便判断有待测产品放置在置物工位30，将判断结果传输至处理单元使处理单元进行图像数据分析。当没有产品放置在置物工位30时，探测电磁波不发生反射，非接触式探测器13没有接收到探测电磁波便判断无产品放置在置物工位30，将判断结果传输至处理单元，处理单元不对图像数据进行分析。通过上述过程，可与流水线生产节奏配合，对每个产品引脚的接合质量进行判断，区分质量不合格的产品，方便流水线后续程序可对不合格的产品后行处理。

上述实施例只是本实用新型的优选方案，本实用新型还可有其他实施方案。本领域的技术人员在不违背本实用新型精神的前提下还可作出等同变形或替换，这些等同的变型或替换均包含在本申请权利要求所设定的范围内。