一种薄膜弯曲测试仪的制作方法

本实用新型涉及弯曲检测技术领域，特别是涉及一种薄膜弯曲测试仪。

背景技术：

弯曲半径是用来体现材料耐折弯的物理性能，表征材料韧性以及抗弯曲耐久力的一个重要参数。通常情况下，需要制作单独的检测工装来实现对材料进行不同半径的弯曲，例如R＝20或25mm为最常见的手工弯曲检测半径，如果需要测量不同弯曲度就需要制作多个检测工装，不仅耗时且浪费成本。

因此，如何制作一种新型检测仪器来实现对材料进行多种弯曲测试的功能，且成本低，是本领域技术人员亟待解决的技术问题。

技术实现要素：

有鉴于此，本实用新型的目的在于提供一种薄膜弯曲测试仪，具有对薄膜材料进行多种弯曲测试的功能，设计独特，成本低廉。其具体方案如下：

一种薄膜弯曲测试仪，包括：

游标卡尺，用于测量待测薄膜未弯曲时的原长度；

薄膜夹具，位于所述游标卡尺外径测量爪的下部，用于固定所述待测薄膜；

数显模块，位于所述游标卡尺上方，用于实时显示所述待测薄膜弯曲时的长度变化值。

优选地，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，所述游标卡尺上具有可移动的游标；

所述游标的移动变化值为所述待测薄膜的长度变化值。

优选地，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，所述游标可通过限位螺丝固定。

优选地，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，还包括：

USB数据接口，设置在所述数显模块上，用于采集所述数显模块的显示数据。

优选地，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，所述数显模块包括液晶显示屏、电池盒、开关按钮、置零按钮及测量单位选择按钮。

优选地，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，所述薄膜夹具包括相对而置且对称的两个子夹具；

所述待测薄膜固定在两个所述子夹具之间。

优选地，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，各所述子夹具上具有四个螺纹孔；

各所述子夹具通过螺丝固定安装在所述游标卡尺外径测量爪的下部。

本实用新型所提供的一种薄膜弯曲测试仪，包括：游标卡尺，用于测量待测薄膜未弯曲时的原长度；薄膜夹具，位于游标卡尺外径测量爪的下部，用于固定待测薄膜；数显模块，位于游标卡尺上方，用于实时显示待测薄膜弯曲时的长度变化值。本实用新型在游标卡尺基础上添加薄膜夹具和数显模块，可以对薄膜材料进行多种弯曲测试，造型简单，结构小巧，成本低廉，携带和使用方便，避免了传统方法需要定制测量工装的费用与时间，便于后续集成于其它测量设备中，且快速地将薄膜材料弯曲到指定弯曲度，方便下一步对弯曲后薄膜材料的其它性质参数进行测试。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例提供的薄膜弯曲测试仪的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型提供一种薄膜弯曲测试仪，如图1所示，包括：

游标卡尺1，用于测量待测薄膜未弯曲时的原长度；

薄膜夹具2，位于游标卡尺1外径测量爪的下部，用于固定待测薄膜；

数显模块3，位于游标卡尺1上方，用于实时显示待测薄膜弯曲时的长度变化值。

在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，在游标卡尺基础上添加薄膜夹具和数显模块，可以对薄膜材料进行多种弯曲测试，造型简单，结构小巧，成本低廉，携带和使用方便，避免了传统方法需要定制测量工装的费用与时间，便于后续集成于其它测量设备中，且可以快速地将薄膜材料弯曲到指定弯曲度，方便下一步对弯曲后薄膜材料的其它性质参数进行测试。

进一步地，在具体实施时，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，游标卡尺上具有可移动的游标；游标的移动变化值为待测薄膜的长度变化值。优选地，在不需要游标移动时，该游标可通过限位螺丝固定。在实际应用中，数显模块可以直接位于游标上方，用于实时显示游标位移值，即待测薄膜的长度变化值。

具体地，本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪的测试过程可以为：首先游标卡尺测量薄膜材料未弯曲时的原长度，然后将薄膜夹具安装在游标卡尺外径测量爪的下部，待测薄膜固定于薄膜夹具上，此时待测薄膜处于舒展状态，即未弯曲状态，之后打开数显模块，将数显模块示数置零，再移动游标卡尺游标，通过挤压使待测薄膜弯曲，最后待显示模块显示示数达到需要的待测薄膜长度变化值后通过限位螺丝固定游标的位置，实现对待测薄膜进行指定弯曲半径的弯曲要求。

利用下列公式可以计算出指定弯曲半径对应的待测薄膜长度变化值：

其中，R为待测薄膜的指定弯曲半径，L为待测薄膜未弯曲时的原长度，w为待测薄膜的厚度，dl为待测薄膜的长度变化值。

进一步地，在具体实施时，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，如图1所示，还可以包括：USB数据接口4，可以设置在数显模块3上，用于采集数显模块3的显示数据。具体地，USB数据接口可以直接连接电脑，进而实时采集游标位置，即数显模块显示的待测薄膜长度变化值。根据采集到的游标位置，可以快速地实时计算(如通过Labview软件编程计算)得到薄膜弯曲半径和所受应力等相关参数。

更进一步地，在具体实施时，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，数显模块除了包括USB数据接口，还可以包括液晶显示屏、电池盒、开关按钮、置零按钮及测量单位选择按钮。通过数显模块可以选择测量单位、置零等，有效地减小人为读数的误差，测量读数快捷方便。

另外，在具体实施时，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，如图1所示，薄膜夹具2可以包括相对而置且对称的两个子夹具21和22；待测薄膜具体固定在两个子夹具21和22之间。

进一步地，在具体实施时，在本实用新型实施例提供的上述薄膜弯曲测试仪中，薄膜夹具可以通过螺丝固定安装在游标卡尺外径测量爪的下部，如图1所示，各子夹具上可以具有四个螺纹孔，那么各子夹具可以通过四个螺丝固定安装在游标卡尺外径测量爪的下部，当然螺丝穿在螺纹孔中。

综上，本实用新型实施例提供的一种薄膜弯曲测试仪，包括：游标卡尺，用于测量待测薄膜未弯曲时的原长度；薄膜夹具，位于游标卡尺外径测量爪的下部，用于固定待测薄膜；数显模块，位于游标卡尺上方，用于实时显示待测薄膜弯曲时的长度变化值。本实用新型在游标卡尺基础上添加薄膜夹具和数显模块，可以对薄膜材料进行多种弯曲测试，造型简单，结构小巧，成本低廉，携带和使用方便，避免了传统方法需要定制测量工装的费用与时间，便于后续集成于其它测量设备中，且快速地将薄膜材料弯曲到指定弯曲半径，方便下一步对弯曲后薄膜材料的其它性质参数进行测试。

需要说明的是，本实施例中所描述的具体部件，例如游标卡尺、数显模块等仅是为了更好说明本实用新型，实际在组成、构造和使用的某些细节上会有所变化，包括部件的组合和组配，这些变形和应用都应当属于本实用新型的范围。

最后，还需要说明的是，在本文中，关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本实用新型所提供的薄膜弯曲测试仪进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本实用新型的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本实用新型的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。