用于集成电路的逻辑分析器的制作方法

技术总结
在集成电路中监测信号可以包括：使用被实现在集成电路(100)内的逻辑分析器电路(110)监测(405)集成电路(100)的探测信号；使用逻辑分析器电路(110)检测(415)在探测信号中的状态变化；以及在逻辑分析器电路(110)内生成(430)文件(120)，该文件(120)指定探测信号的状态变化的时间戳。

技术研发人员：A·玛哈詹;B·A·S·克里什南;K·G·G·彻鲁库
受保护的技术使用者：赛灵思公司
技术研发日：2018.07.11
技术公布日：2020.04.03