专利名称：一种集成电路测试数据的处理方法
技术领域：
本发明涉及一种集成电路测试数据的处理方法，属于集成电路测试技术领域，适用于集成电路测试数据记录生产方式。
背景技术：
高等级集成电路生产过程中，集成电路在封装完毕后获得唯一的序列号，在各种可靠性试验后的测试环节或其他所需进行的测试环节测试时，均按照初始获得的唯一序列号进行数据记录。集成电路的性能不仅通过测试数据来进行性能的判别，同时，数据变化量对于器件性能的判别也起着重要的作用。解决任意两批次测试数据相应测试项目测试数值变化量的计算问题，可以对集成电路性能的判别起着进一步的确认作用。早期集成电路设计规模小，测试项目少，每批次器件数量不多，需要对比的测试项目也仅有一项，这种条件下，通常人工进行数据对比:按照器件序列号在实验前后的两份收据中寻找相同的测试项目，提取出两项数值，人工计算出变化量，再根据产品手册的变化量极限，判断变化量是否在范围内。随着集成电路技术的发展，集成电路规模越来越大，管脚越来越多，测试项目也逐渐丰富，批次器件数量也成几何方式增加，这种情况下，再使用人工数据提取、计算、判别工作量大的同时也易出现人为错误。目前国内在集成电路测试领域使用较多的集成电路测试仪主要是ADVANTEST公司、Teradyne等公司的设备。Teradyne公司的J750超大规模数模混合测试仪由于其资源配置丰富，可实现“零占地”的要求，在集成电路设计、研发、测试企业广泛使用。J750可生成便于批次数据统计的格式文件，具有进行批次数据统计的功能，但对于两份数据文件相同测试项目数据的提取、比对、变化量计算则没有相应的解决工具。
发明内容
本发明的技术解决问题是:克服现有技术的不足，提供了一种集成电路测试数据的处理方法，解决集成电路生产过程中，需要进行测试项目变化量计算时，人工提取数据并计算变化量效率低、易出错，同时集成电路测试设备不具备进行此类数据处理的问题。本发明的技术解决方案是:一种集成电路测试数据的处理方法，包括以下步骤:( I)对待测批次的集成电路芯片按照各集成电路芯片的器件号进行N次测试，生成N个测试数据文件，N为正整数且N大于等于2 ；(2)将需要进行数据提取的测试数据文件的文件名、进行变化量计算的测试项目、变化量极限值和极限单位一次性记录在第一临时文件中；(3)根据所述第一临时文件中的需要进行数据提取的测试数据文件在步骤(I)中生成的多个测试数据文件找到对应的两个测试数据文件，在该两个对应的测试数据文件中，根据第一临时文件中的需要进行变化量计算的测试项目分别进行数据搜索，将目标数据提取出来；(4)将步骤(3)中提取出来的两个测试数据文件中的目标数据按照所述第一临时文件中的极限单位进行测试数据单位的变换，生成统一单位的测试数据并分别保存在第二临时文件和第三临时文件中；(5)将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，将变化量计算结果写入第四临时文件；(6)将所述第一临时文件中的变化量极限值与第四临时文件中的变化量计算结果进行比较，若第四临时文件中的变化量计算结果小于等于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身存储到总汇报表中；若第四临时文件的变化量计算结果大于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身同时存储到总汇报表和未通过项目汇报表，且在总汇报表中相应的变化量计算结果后写入标志F。所述需要进行数据提取的测试数据文件的文件名为2个。所述步骤(I)中每个集成电路芯片在同一个测试数据文件中最多包含一次测试数据结果。所述步骤(5)将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，具体为:先将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行求差计算，再取绝对值。本发明与现有技术相比的有益效果是:(I)本发明数据处理过程中所需的所有参数，包括测试数据文件名、进行变化量计算的测试项目、变化量极限值、变化量极限单位，在初始时进行一次性记录，在转换过程中自动进行各类测试数据的提取、计算、判别，不需再次进行人工干预，一次性完成变化量计算及判别的全部任务，具有良好的可操作性。(2)本发明对于测试项目的数值提取、变化量计算、极限值判断完全采用自动进行的方式，避免了人工操作时容易产生人为错误，减轻了人工工作量，缩短了工作时间，同时提高了变化量计算的稳定性与准确性；(3)本发明所进行的变化量计算方式，不仅针对某一试验前后的两次测试数据，同时可以使用多次测试中的任意两份测试数据进行计算，只要是同一器件同一测试项目，就可进行数据提取、变化量计算，具有通用性。(4)本发明对于最终结果自动生成汇报报表，对于每器件的所指定测试项均有准确的变化量，同时若有超过变化量极限值的测试项目，另外还会单独生成一份未通过项目汇报表，便于数据的后期分析，提高工作效率。(5)本发明解决了集成电路测试领域没有数据变化量计算工具的问题，可以快速、准确地计算数据变化量。
图1是本方法生成第一临时文件的过程示意图。图2是本方法在两份数据文件中寻找相应器件号的过程示意图。
图3是本方法提取各器件测试项目测试数值的过程示意图。图4是本方法进行变化量计算、判别及生成汇总报表及未通过项目汇报表的过程示意图。
具体实施例方式本发明提供了一种能够实现提取不同测试数据文件中相应测试项目数据并计算变化量的方法，特别是针对同一器件不同测试环节下的实际需求，能够进行多种类测试项目的数据提取及变化量计算，并根据设置的极限值进行通过与否的判断，属于集成电路测试技术领域，适用于集成电路测试数据记录生产方式。该方法按照集成电路器件号提取指定的数据文件中要求的测试项数据，计算变化量、判别极限。本发明方法的步骤如下:一种集成电路测试数据的处理方法，其特征在于包括以下步骤:( I)对待测批次的集成电路芯片按照各集成电路芯片的器件号进行N次测试，生成N个测试数据文件，N为正整数且N大于等于2 ;每个集成电路芯片在同一个测试数据文件中最多包含一次测试数据结果。(2)按照图1所示，根据本方法实施在计算机内的存储位置，获取当前的计算机存储路径。所有临时文件及最终结果文件将在此目录下产生。第一临时文件中所有变量赋初始值NULL。将需要进行数据提取的测试数据文件的文件名、进行变化量计算的测试项目、变化量极限值和极限单位一次性记录在第一临时文件中；所述需要进行数据提取的测试数据文件的文件名为2个。如果退出本方法，则删除第一临时文件。(3)按照图2，根据所述第一临时文件中的需要进行数据提取的测试数据文件名在步骤(I)中生成的多个测试数据文件找到对应的两个测试数据文件，在该两个对应的测试数据文件中，根据第一临时文件中的需要进行变化量计算的测试项目分别进行数据搜索，将目标数据提取出来。具体为首先对文件2按行搜索器件号关键字“Device”。找到文件2中第一个器件号后，在文件I中进行相同器件号的搜索。因为试验后的文件2中器件数量通常会少于文件I中的器件数量，所以从文件2开始搜索。按照器件号，分别从文件1、2中提取步骤(I)中指定的测试项目的数值。(4)按照图3，将步骤(3)中提取出来的两个测试数据文件中的目标数据按照所述第一临时文件中的极限单位进行测试数据单位的变换，生成统一单位的测试数据并分别保存在第二临时文件和第三临时文件中；(5)按照图4，将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，将变化量计算结果写入第四临时文件；具体为:先将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行求差计算，再取绝对值，之后存入第四临时文件。(6)将所述第一临时文件中的变化量极限值与步骤(5)中第四临时文件的变化量计算结果进行比较，若第四临时文件的变化量计算结果小于等于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身存储到总汇报表中；若第四临时文件的变化量计算结果大于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身同时存储到总汇报表和未通过项目汇报表，且在总汇报表中相应的变化量计算结果后写入标志F。完成所有器件的数据处理后，删除所有临时文件。以下举例说明。器件在某试验环节前后的变化量要求:
参数I符号I变化量极限
静态电源电流Ilmi |±150nA步骤1:生成两份测试数据文件LQl.dat和LH2.dat。试验前测试数据LQl.dat:
权利要求
1.一种集成电路测试数据的处理方法，其特征在于包括以下步骤: (1)对待测批次的集成电路芯片按照各集成电路芯片的器件号进行N次测试，生成N个测试数据文件，N为正整数且N大于等于2 ； (2)将需要进行数据提取的测试数据文件的文件名、进行变化量计算的测试项目、变化量极限值和极限单位一次性记录在第一临时文件中； (3)根据所述第一临时文件中的需要进行数据提取的测试数据文件在步骤(I)中生成的多个测试数据文件找到对应的两个测试数据文件，在该两个对应的测试数据文件中，根据第一临时文件中的需要进行变化量计算的测试项目分别进行数据搜索，将目标数据提取出来； (4)将步骤(3)中提取出来的两个测试数据文件中的目标数据按照所述第一临时文件中的极限单位进行测试数据单位的变换，生成统一单位的测试数据并分别保存在第二临时文件和第三临时文件中； (5)将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，将变化量计算结果写入第四临时文件； (6)将所述第一临时文件中的变化量极限值与第四临时文件中的变化量计算结果进行比较，若第四临时文件中的变化量计算结果小于等于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身存储到总汇报表中； 若第四临时文件的变化量计算结果大于所述第一临时文件中的变化量极限值，则将该变化量计算结果所对应的器件号、测试数据和变化量计算结果本身同时存储到总汇报表和未通过项目汇报表，且在总汇报表中相应的变化量计算结果后写入标志F。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的处理方法，其特征在于:所述需要进行数据提取的测试数据文件的文件名为2个。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的处理方法，其特征在于:所述步骤(I)中每个集成电路芯片在同一个测试数据文件中最多包含一次测试数据结果。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试数据的处理方法，其特征在于:所述步骤(5)将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行变化量计算，具体为:先将所述第二临时文件和第三临时文件中相同器件号下的相同测试项目下的数据进行求差计算，再取绝对值。
全文摘要
一种集成电路测试数据的处理方法，根据指定的测试项目、变化量极限及极限单位对任意两份文件进行相应测试项目变化量计算、判别。根据记录的各项参数值，在指定的两份文件里自动进行搜索，生成所有器件相应测试项目变化量总汇报表，并根据极限值进行判断；若有未通过项目，自动生成未通过项目汇报表。本发明极大地缩短了工作时间，提高了变化量计算的准确性，提升了工作效率，并解决了本领域没有相应数据分析工具的问题。
文档编号G06F17/30GK103116617SQ20131003244
公开日2013年5月22日 申请日期2013年1月29日 优先权日2013年1月29日
发明者张小孟, 李鑫, 刘利新, 练滨浩, 姚全斌 申请人:北京时代民芯科技有限公司, 北京微电子技术研究所