集成电路及用于测试集成电路的方法
【技术领域】
[0001]本申请案涉及集成电路。
【背景技术】
[0002]随着集成电路(IC)变得更复杂，IC上的组件的数目增加。组件的数目的此增加要求生产后测试需为更广泛的以测试IC上的更大数目个组件。生产后测试的部分用于测试IC中的门及其它组件。一种测试方法包含测试组件的第一测试及测试IC上的用户特定项的第二测试。用户特定项可为IC上的编程或逻辑。
[0003]制作1C，其中其区域的一部分专用于生产后测试。IC的此部分通常称为“经设计用于测试”逻辑或DFT逻辑。DFT逻辑在生产之后经起始且执行指令以对IC中的组件执行测试且输出测试的结果。DFT逻辑可用掉IC的区域的10%到20%且仅用于生产后测试目的。
【发明内容】
[0004]本文中揭示集成电路及用于测试集成电路的方法。集成电路的实施例包含微处理器及可由所述微处理器存取的存储器。所述集成电路还包含可重新配置逻辑，其中用于测试所述微处理器及存储器中的至少一者的第一测试程序可加载到所述可重新配置逻辑上。至少一个其它程序可在所述第一测试程序运行之后加载到所述可重新配置逻辑中。
【附图说明】
[0005]图1是集成电路的实施例的框图。
[0006]图2是描述在图1的IC上进行的测试过程的实施例的流程图。
[0007]图3是描述在图2的IC上进行的测试过程的实施例的流程图，其中将第二测试程序加载到可重新配置逻辑中。
[0008]图4是描述用于测试IC的实施例的流程图。
【具体实施方式】
[0009]本文中揭示集成电路(IC)及测试IC的方法。IC具有在生产之后对IC中的组件执行测试的逻辑。此逻辑有时称为“经设计用于测试”逻辑或DFT逻辑。常规IC中的DFT逻辑为用掉IC的区域的一部分的硬接线逻辑。硬接线逻辑为制作到IC中且在制作之后不可被改变的逻辑。本文中所揭示的IC使用可重新配置逻辑作为DFT逻辑。可重新配置逻辑有时称为可重新配置计算、自适应逻辑及自适应计算。可重新配置逻辑包含可动态地重新接线的逻辑。可重新配置逻辑的一些实施例包含配备有可经编程以使用软件工具执行硬件功能的存储器单元阵列的逻辑电路。在一些实施例中，所述可重新配置逻辑能够基于逻辑配置而运行程序。在一些实施例中，所述可重新配置逻辑在完成所述测试之后用于其它目的。所述其它目的包含调试1C、运行定制代码、修复存储器及将新功能性添加到1C。
[0010]常规IC设计者不愿在IC上使用可重新配置逻辑，这是因为可重新配置逻辑不是非常密集的且使用IC的大量区域。因此，含有相对小数目个门及可重新配置逻辑所使用的其它组件占用IC的相对大量的区域。如下文所描述，本文中所描述的IC上的可重新配置逻辑用于许多目的，因此可重新配置逻辑所使用的区域是极具动态的且服务于IC的许多目的。
[0011]图1中展示IC 100的实施例的框图。IC 100包含微处理器102、存储器104及可重新配置逻辑106。IC 100不包含硬接线的DFT逻辑，这是因为DFT逻辑经编程到可重新配置逻辑106中。在一些实施例中，DFT逻辑为能够加载到可重新配置逻辑106中的程序。如上文所描述，常规IC通常使其区域的一部分专用于硬接线的DFT逻辑。微处理器102为常规微处理器。同样地，存储器104可为常规IC所使用的常规存储器。微处理器102、存储器104及可重新配置逻辑106全部都可借助常规数据发射技术及装置(未展示)彼此通信。
[0012]可重新配置逻辑106有时称为可重新配置计算。可重新配置逻辑106的密度不和常规逻辑电路或专用集成电路一样高。然而，可重新配置逻辑106能够通过“加载”新逻辑电路来改变。加载新电路有时称为将新电路加载到可重新配置逻辑106的构架上。
[0013]加载到可重新配置逻辑106中的逻辑电路能够运行代码。在一些实施例中，代码运行对存储器104及/或处理器102的测试。所述测试在生产IC 100之后运行且用作初始测试。在常规IC中，用于这些测试的代码存储于常规IC的DFT逻辑部分中。关于常规DFT逻辑的问题之一为:其仅用于在生产之后测试常规1C。决不再次使用常规IC的用于DFT逻辑的区域。因此，常规IC包含服务于一次性目的的经制作区域。
[0014]除许多其它功能之外，图1的IC 100上的可重新配置逻辑106还执行常规DFT逻辑的功能。举例来说，在生产IC 100之后，将测试代码加载到可重新配置逻辑106中。更具体地说，可重新配置逻辑106经配置以运行有时称为第一测试代码的测试代码。在一些实施例中，用于将可重新配置逻辑配置为运行第一测试的代码从外部源输入到IC100。在其它实施例中，用以配置可重新配置逻辑106的代码存储于IC 100中。举例来说，所述代码可在制作期间经输入或制作到IC 100或可重新配置逻辑106中。在一些实施例中，用于配置可重新配置逻辑106的代码存储于位于IC 100上或可连接到IC 100的只读存储器(ROM)中。
[0015]在执行第一测试之后或执行第一测试时，输出来自第一测试的数据或以其它方式使其可用于分析。在一些实施例中，由IC 100中的组件或由加载到可重新配置逻辑106上的运行第二测试的不同代码分析测试结果。第一测试可指示IC 100上的一些组件不正确地起作用。可借助在可重新配置逻辑106上运行的第二测试或调试程序进一步分析这些组件。
[0016]用以测试IC 100的步骤的实例在图2的流程图200中经展示且如下文所描述。过程以将第一测试程序加载到可重新配置逻辑106中(如框202中所展示)开始。第一测试程序是将可重新配置逻辑106配置为运行第一测试程序的代码。如上文所描述，可从外部源加载第一测试程序或第一测试程序可将存储于IC上。第一测试程序还可最初在制作IC100时制作到可重新配置逻辑106中。
[0017]在步骤204中，在可重新配置逻辑106上运行第一测试程序。外部指令或来自微处理器102的指令可致使开始执行第一测试程序。第一测试程序可测试IC 100上的多个不同功能及组件。举例来说，第一测试程序可测试组件(例如微处理器102及存储器104)的速度。第一测试程序还可测试模拟值，例如放大器及类似物的增益。第一测试程序还可测试存储器104以确定哪些位不正确地运作及存储器104的不正确地运作的其它部分。在一些实施例中，第一测试的结果存储于IC 100上，例如存储于存储器102中。在其它实施例中，将第一测试的结果从IC 100发送到外部装置(未展示)，例如测试设备。
[0018]在框206处，分析来自第一测试程序的结果。可在不同位置处且由不同装置完成结果的分析。在一些实施例中，外部测试装置接收并分析数据。在其它实施例中，第一测试程序分析结果。在这些实施例中，通常从IC 100输出分析，使得可对IC 100采取适当行动。举例来说，IC 100可被确定为经拒斥装置且可被抛弃。在下文描述的其它实施例中，可调试及修复IC 100。
[0019]在许多实施例中，不再需要可重新配置逻辑106用于测试目的。因此，在一些实施例中，将其它程序加载到可重新配置逻辑106中使得利用IC 100的用于可重新配置逻辑106的区域。
[0020]上文所描述的实施例为使用可重新配置逻辑106的IC 100的一些基本实施例。现在将描述其它更复杂实施例。参考图3的流程图250，图3展示其中将第二测试程序