加载到可重新配置逻辑106中的一些实施例。流程图250具有与图2的流程图200相同的框202到206。流程图250具有其中将第二测试程序加载到可重新配置存储器106中的框252。
[0021]在一些实施例中，响应于对第一测试程序的结果的分析而将第二测试程序加载到可重新配置逻辑106中。在此些实施例中，第二测试程序作为调试程序起作用。取决于第一测试程序的结果，第二测试程序可修复存储器位，修整模拟值，且交换IC 100上的引脚。举例来说，如果第一测试程序确定一些存储器位不起作用，那么第二测试程序可致使存储器替代有缺陷位而使用其它存储器位。第二测试程序可将此些项的电阻及其它值设置为放大器增益。如果一些引脚未正确地起作用，那么第二测试程序可致使其连接被重新布线。
[0022]在一些实施例中，响应于第一测试程序的结果而选择第二测试程序。举例来说，可存在可用的数个第二测试程序或具有许多模块的单个第二测试程序。因此，如果存储器位是不良的，那么将修复存储器位的第二测试程序加载到可重新配置逻辑106中。或者，运行修复存储器位的第二测试程序的模块。
[0023]在运行第二测试程序之后，将另一程序加载到可重新配置逻辑中，如框254中所展示。其它程序可执行多个不同功能且可来自不同源。举例来说，可从外部源加载或从位于IC 100上的ROM加载其它程序。
[0024]可将许多不同程序加载到可重新配置逻辑106中或可加载具有多个不同模块的单个程序。不同类型的程序包含用于针对特定功能定制IC 100的程序。举例来说，如果IC100用于相机中，那么程序可致使微处理器执行与IC 100被用于的相机的型号有关的特定功能。可重新配置逻辑还可用于以新特征更新现有程序。
[0025]在一些实施例中，可在启动时或在微处理器102正操作时动态地切换可重新配置逻辑106。切换可重新配置逻辑106的IC 100的实例为其中IC 100用于播放音乐及拍摄照片的装置中的实施例。当装置正被用于听音乐时，给可重新配置逻辑106加载音频解码器。当装置被用于拍摄照片时，给可重新配置逻辑106加载图像压缩器。可重新配置逻辑106的使用使得装置能够在芯片上具有音频解码引擎及压缩引擎两者，但不使两者同时运行。
[0026]图4的流程图300展示用于测试电路的方法。所述方法在步骤302处以将第一测试程序加载到位于集成电路上的可重新配置逻辑中开始。所述方法在步骤304处以运行第一测试程序继续，其中第一测试程序测试位于集成电路上的微处理器及存储器中的至少一者。
[0027]尽管已在本文中详细描述了集成电路的说明性及当前优选实施例，但应理解，可以其它方式不同地体现及采用发明性概念，且所附权利要求书打算被解释为包含此些变化形式，受现有技术限制的情况下除外。
【主权项】
1.一种集成电路，其包括: 微处理器； 存储器，其可由所述微处理器存取； 可重新配置逻辑，其中用于测试所述微处理器及存储器中的至少一者的第一测试程序可加载到所述可重新配置逻辑上，且其中至少一个其它程序可在所述第一测试程序运行之后加载到所述可重新配置逻辑中。
2.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一测试程序存储于所述集成电路上。
3.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一测试程序测试所述微处理器中的组件。
4.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一测试程序测试所述存储器中的组件。
5.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一测试程序产生所述测试的结果且其中所述第一测试程序分析所述结果。
6.根据权利要求1所述的集成电路，其中用于测试所述集成电路的第二测试程序可响应于由所述第一测试程序进行的测试而加载到所述可重新配置逻辑中。
7.根据权利要求6所述的集成电路，其中所述第二测试程序可存储于所述集成电路上。
8.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一测试程序发现错误且其中第二测试程序响应于所述错误而加载到所述可重新配置逻辑中，且其中所述第二测试程序修复所述错误中的至少一者。
9.根据权利要求1所述的集成电路，其中所述第一测试程序发现需要进行调整的至少一个组件且其中第二测试程序响应于所述调整需要而加载到所述可重新配置逻辑中，且其中所述第二测试程序调整所述至少一个组件。
10.根据权利要求1所述的集成电路，其中与所述微处理器协同操作的程序在所述第一测试程序已运行之后加载到所述可重新配置逻辑中。
11.一种测试集成电路的方法，所述方法包括: 将第一测试程序加载到位于所述集成电路上的可重新配置逻辑中；以及运行所述第一测试程序，其中所述第一测试程序测试位于所述集成电路上的微处理器及存储器中的至少一者。
12.根据权利要求11所述的方法，其中所述集成电路包含存储器，且其中运行所述第一测试程序包含对所述存储器执行至少一个测试。
13.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括将所述第一测试程序存储于所述集成电路上。
14.根据权利要求11所述的方法，且其进一步包括: 分析由所述第一测试程序产生的结果； 响应于对所述第一测试程序的结果的所述分析而将第二测试程序加载到所述可重新配置逻辑中；以及 运行所述第二测试程序。
15.根据权利要求14所述的方法，其中所述第二测试程序修复通过对所述第一测试程序的所述结果的分析而被发现为有错误的至少一个组件。
16.根据权利要求14所述的方法，其中所述第一测试程序测量所述集成电路上的至少一个组件的值且其中所述第二测试程序调整所述至少一个组件的所述值。
17.根据权利要求11所述的方法，其中所述第一测试程序修复被所述第一测试程序发现为有错误的至少一个组件。
18.根据权利要求11所述的方法，其中所述第一测试程序测量所述集成电路上的至少一个组件的值且其中所述第一测试程序调整所述至少一个组件的所述值。
19.根据权利要求11所述的方法，其进一步包括在所述第一测试程序已运行之后在所述可重新配置逻辑上运行与所述微处理器协同操作的程序。
20.一种测试集成电路的方法，所述方法包括: 将第一测试程序加载到位于所述集成电路上的可重新配置逻辑中；以及 运行所述第一测试程序，其中所述第一测试程序测试位于所述集成电路上的微处理器及存储器中的至少一者； 响应于所述第一测试程序而将第二测试程序加载到所述可重新配置逻辑中；以及 运行所述第二测试程序，其中所述第二测试程序修理由所述第一测试程序识别的至少一个组件。
【专利摘要】本文中揭示集成电路及用于测试集成电路的方法。集成电路(100)的实施例包含微处理器(102)及可由所述微处理器(102)存取的存储器(104)。所述集成电路(100)还包含可重新配置逻辑(106)，其中用于测试所述微处理器(102)及存储器(104)中的至少一者的第一测试程序可加载到所述可重新配置逻辑(106)上。至少一个其它程序可在所述第一测试程序运行之后加载到所述可重新配置逻辑(106)中。
【IPC分类】G01R31-28
【公开号】CN104777414
【申请号】CN201510016561
【发明人】克莱夫·大卫·比特尔斯通
【申请人】德州仪器公司
【公开日】2015年7月15日
【申请日】2015年1月13日
【公告号】US20150198664