技术总结
本发明提供一种环件角度检具，所述检具通过在含有内环面的检测套上沿径向设置有多个轴向凹槽，所述轴向凹槽用于检验待测环件上的凸块角度，且可将待测环件凸块直接放入轴向凹槽中，单人操作即可实现环件角度检验，同时检具结构简单，加工容易；利用所述检具进行环件角度检验时不仅操作便捷，而且解决了原有环件角度检验方法易出现环件掉落或划伤的问题，能够很好地应用在半导体或机械加工领域中。
技术研发人员：姚力军;潘杰;边逸军;王学泽;马松
受保护的技术使用者：宁波江丰电子材料股份有限公司
技术研发日：2019.12.12
技术公布日：2020.02.28