PCB测试装置的制作方法

文档序号:20175539发布日期:2020-03-27 13:16阅读:118来源:国知局
PCB测试装置的制作方法

本实用新型属于pcb测试技术领域,具体涉及到一种pcb测试装置。



背景技术:

随着经济的发展、社会的进步,电子产品的应用越来越广泛,电子产品一般均包括有pcb板等,pcb板上贴装有一系列电子元器件等,而pcb板在生产时,需要对pcb进行一系列的测试,以检测其性能等是否符合生产标准。

现有的pcb在生产时,在对pcb进行测试时,其测试治具定位精度较差,操作不方便,测试效率较低。



技术实现要素:

本实用新型的目的在于克服上述现有技术中pcb在测试时定位精度较差、操作不方便以及测试效率较低的不足,提供了一种pcb测试装置。

本实用新型是这样实现的:pcb测试装置,其包括:

箱体,其上端面构造为测试面,所述测试面上构造有pcb放置槽以及与所述pcb放置槽相邻的第一安装孔以及与所述pcb放置槽相邻的多个第二安装孔;

探针组件,设于所述第一安装孔中,包括探针、探针固定块以及用于带动所述探针固定块靠近以及远离所述pcb放置槽的斜楔机构,所述斜楔机构包括可上下移动的第一斜楔以及与所述第一斜楔配合的第一滑块,所述第一滑块与所述探针固定块连接,所述第一斜楔可上下移动以带动所述第一滑块靠近或者远离所述pcb放置槽;

多个定位组件,每个所述第二安装孔中设有一个所述定位组件,每个定位组件均包括可上下移动的第二斜楔、与所述第二斜楔配合的第二滑块,所述第二斜楔上下移动带动所述第二滑块靠近或者远离所述pcb放置槽;以及

凸轮升降组件,包括架设在所述箱体内的凸轮轴、设于所述凸轮轴上的至少两个凸轮、设于所述凸轮上的升降件以及驱动所述凸轮轴转动的驱动件,所述升降件的上端抵持所述第一斜楔的下端以及所述第二斜楔的下端。

作为本实用新型的一个优选方案,多个所述第二安装孔沿着所述pcb放置槽的一条中心线对称设置。

作为本实用新型的一个优选方案,所述定位组件还包括盖设在所述第二滑块的上方用于限位以及导向所述第二滑块的斜块盖。

作为本实用新型的一个优选方案,所述升降件为升降板。

作为本实用新型的一个优选方案,所述驱动件为摇杆,所述凸轮轴伸出所述箱体与所述摇杆连接。

作为本实用新型的一个优选方案,所述凸轮升降组件还包括多个导向件,每个所述导向件包括导向轴和直线轴承,所述导向轴的一端通过所述直线轴承与升降板连接,所述轴的另一端与所述箱体的上内壁固定连接。

作为本实用新型的一个优选方案,所述测试面上设有与所述pcb放置槽连通的取放槽。

作为本实用新型的一个优选方案,还包括防护罩,所述防护罩可开合设于所述箱体的上端。

作为本实用新型的一个优选方案,所述防护罩上设有通风槽,且所述防护罩上设有用于提放所述防护罩的提手。

作为本实用新型的一个优选方案,所述防护罩为玻璃防护罩。

本实用新型提供的一种pcb测试装置,相对于现有技术,其pcb放置在pcb放置槽后,通过驱动件可一次实现定位组件对pcb的压持定位以及探针与pcb接触端子的接触导通,定位精度高,操作方便,测试效率高。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

以下附图仅旨在于对本实用新型做示意性说明和解释,并不限定本实用新型的范围。

图1是本实用新型实施例提供的pcb测试装置的结构示意图(未安装pcb)

图2是本实用新型实施例提供的pcb测试装置的结构示意图(安装pcb);

图3是本实用新型实施例提供的pcb测试装置的另一视角下的结构示意图;

图4是本实用新型实施例中凸轮升降组件与箱体的配合示意图(省略升降件)

图5是本实用新型实施例提供的pcb测试装置的结构正视示意图。

附图标号说明:

1、箱体;

11、测试面;111、pcb放置槽;112、第一安装孔;113、第二安装孔;114、取放槽;

2、探针组件;21、探针;22、探针固定块;23、第一滑块;24、第一斜楔;

3、定位组件;31、第二斜楔;32、第二滑块;33、斜块盖;

4、凸轮升降组件;41、凸轮轴;42、凸轮;43、升降板;44、摇杆;

45、导向件;451、导向轴;452、直线轴承;

5、防护罩;51、通风孔;52、提手;

6、pcb。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

实施例

请参阅图1-图5,其中,图1为本实施例中pcb测试装置的一个视角下的结构示意图(其中未放置pcb且为了方便示出探针组件的结构省略了探针组件的保护罩),图2为本实施例中pcb测试装置的一个视角下的结构示意图(其中放置有pcb),图3为本实施例中pcb测试装置的另一视角下的结构示意图;图4是本实施例中凸轮升降组件与箱体的配合示意图(图中为了方便示出省略了升降件),图5为本实施例中pcb测试装置的结构正视示意图(其中虚线示出了位于箱体内的凸轮升降组件4)。具体的,本实施例提供了一种pcb测试装置,其包括:

箱体1,其上端面构造有测试面11,测试面11上构造有pcb放置槽111以及与pcb放置槽111相邻的第一安装孔112以及与pcb放置槽111相邻的多个第二安装孔113;

探针组件2,设于第一安装孔112中,包括探针21、探针固定块22以及以及用于带动探针固定块22靠近以及远离pcb放置槽111的斜楔机构,斜楔机构包括可上下移动的第一斜楔24以及与第一斜楔24配合的第一滑块23,第一滑块23与探针固定块22连接,第一斜楔24可上下移动以带动第一滑块23靠近或者远离pcb放置槽111;

多个定位组件3,每个第二安装孔113中设有一个定位组件3,每个定位组件均包括可上下移动的第二斜楔31、与第二斜楔31配合的第二滑块32,第二滑块32靠近pcb放置槽的端部构造为用于压持pcb6的压持端,第二斜楔31上下移动带动第二滑块32靠近或者远离pcb放置槽111;以及

凸轮升降组件4,包括架设在箱体1内的凸轮轴41、设于凸轮轴41上的至少两个凸轮42以及设于凸轮42上端的升降件,升降件的上端抵持第一斜楔24的下端以及第二斜楔31的下端。

上述中,具体的,该pcb测试装置,主要包括箱体1、探针组件2、定位组件3以及凸轮升降组件4,箱体的上端面构造为测试面11,待测试的pcb6可以放置在pcb放置槽111中,进而通过驱动件,可以驱动凸轮轴41转动,进而凸轮42转动,带动升降件上移,从而带动第一斜楔24以及第二斜楔31上移,进而,第一斜楔24可以推动第一滑块23朝着pcb放置槽111移动(即靠近pcb放置槽111),进而可使得探针21朝着pcb放置槽111移动后可接触抵持pcb6上的接触端子,实现该pcb测试装置与pcb6的接触导通;并且第二斜楔31与第二滑块32通过斜面配合,即与第一斜楔24与第一滑块23的配合原理相似,第二斜楔31可以带动第二滑块32朝着pcb放置槽111移动(即靠近pcb放置槽111),进而第二滑块32的压持端可以伸入至pcb放置槽的上方以压持定位pcb6,保证pcb6在pcb放置槽111中的定位精度,并且可以防止探针21在接触抵持pcb6上的接触端子时,pcb6出现上翘等情况。

进而,当测试完成后,驱动件继续工作,可以驱动凸轮轴41转动,进而凸轮42转动,带动升降件下移,第一斜楔24以及第二斜楔31下移(可以是在自重的带动下),第一滑块23和第二滑块32远离pcb放置槽111,取出pcb6完成检测工作。

上述中,具体的,测试面11上构造有多个与pcb放置槽111相邻的第二安装孔113,进而每个第二安装孔113中安装一个定位组件3,即定位组件3的数量与第二安装孔113的数量相同,进而多个定位组件3中的第二滑块32的压持端可以压持住pcb6的侧边,当然,更为优选的是,多个定位组件3中的第二滑块32的压持端可以压持住pcb6的多个侧边,从而可以达到定位作用,保证pcb6在放置槽111中的定位精度,可以防止探针21在接触抵持pcb6上的接触端子时,pcb6出现上翘等情况。

上述中,可以理解的是,该pcb测试装置,其箱体1内部还设有电源、检测电路板等电子器件,探针21可与检测电路板电连接,即探针21接触导通待检测的pcb6后,检测信号(电流大小或者电平高低)会通过顶针21传输至检测电路板,检测电路板上还可设有控制芯片,该芯片可以为单片机芯片,例如stm32f103c8t6等,由于本实施例的技术方案仅涉及到机械结构(如pcb6的安装定位)方面的创新,故在此,该pcb测试装置为了起到检测pcb6的作用,其所具备的其他模块可以应用市面上的现有技术,由于本实施例不涉及该部分的内容,在此不做赘述。

请参阅图1-图2,作为本实用新型的一个优选方案,多个第二安装孔113沿着pcb放置槽111的一条中心线对称设置。

上述中,具体的,多个第二安装孔113可以沿着pcb放置槽111的一条中心线对称设置,进而多个定位组件3沿着pcb放置槽111的一条中心线对称设置,进而可以使得pcb6受力均匀(即使得pcb6上受到的多个定位组件3中的第二滑块32的压持端施加的压力分布较为均匀),保证pcb6的定位精度以及定位后的可靠度,可以避免探针21在接触抵持pcb6上的接触端子时,pcb6出现上翘等情况。

作为本实用新型的一个优选方案,定位组件3还包括盖设在第二滑块32的上方用于限位以及导向第二滑块32的斜块盖33。

上述中,具体的,斜块盖33可以导向第二滑块32朝着pcb放置槽111的方向移动,并且可以防止第二滑块32从第二安装孔113中脱离,保证第二滑块32的安装后的结构可靠性。

作为本实用新型的一个优选方案,升降件为升降板43。

作为本实用新型的一个优选方案,凸轮升降组件4还包括多个导向件45,每个导向件45包括导向轴451和直线轴承452,导向轴451的一端通过直线轴承452与升降板43连接,导向轴451的另一端与箱体1的上内壁固定连接。

上述中,具体的,升降板43可以顺延导向轴451上下移动,可以减少升降板43在上下移动的过程中出现的左右偏移,可以使得升降板43可以较为顺滑的上下移动。

作为本实用新型的一个优选方案,驱动件为摇杆44,凸轮轴41伸出箱体1且与摇杆44连接。

上述中,具体的,通过驱动件可以实现凸轮轴41的转动,进而带动凸轮42转动,实现升降件的上下移动,在本实施例中,驱动件可以采用摇杆44,进而操作人员可以通过操纵摇杆44,实现凸轮轴41的转动。

作为本实用新型的一个优选方案,测试面11上设有与pcb放置槽111连通的取放槽114。

上述中,具体的,取放槽114可以容置pcb6的抓取单元,例如操作人员的手掌等,壳体方便操pcb6的取放。

作为本实用新型的一个优选方案,箱体1的材质为电木(即酚醛树脂)。

作为本实用新型的一个优选方案,还包括防护罩5,防护罩5可开合设于测试面11上。

上述中,具体的,防护罩5可以起到保护作用。

作为本实用新型的一个优选方案,防护罩5为玻璃防护罩。

上述中,具体的,玻璃防护罩可以方便操作人员直观的了解到pcb6的测试情况。

作为本实用新型的一个优选方案,防护罩5上设有通风槽51,且防护罩5上设有用于提放防护罩5的提手52。

上述中,具体的,通风槽51可以方便在测试pcb6时,防护罩5的内部电子元器件工作产生的热量的散发,提手52可以方便防护罩5的提放。

综上,本实施例提供的pcb测试装置,其pcb放置在pcb放置槽后,通过驱动件可一次实现pcb的压持定位以及探针与pcb接触端子的接触导通,定位精度高,操作方便,测试效率高。

除非另外定义,本实用新型使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性,而只是用来区分不同的组成部分。同样,“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制,而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同,而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接,而是可以包括电性的连接,不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系,当被描述对象的绝对位置改变后,则该相对位置关系也可能相应地改变。

本实用新型中的水平,垂直、同心等几何位置关系,仅仅是理想情况下的限定,考虑到技术、加工精度以及成本和技术效果的多重实际情况,在本领域偏差5%都是容许的,而且也是本发明限定几何位置关系的实际情况。

同时有以下几点需要说明:

(1)除非另作定义,本实用新型的实施例及附图中,同一标号代表同一含义。

(2)本实用新型实施例附图中,只涉及到与本实用新型实施例涉及到的结构,其他结构可参考通常设计。

(3)为了清晰起见,在用于描述本实用新型的实施例的附图中,层或区域的厚度被放大。可以理解,当诸如层、膜、区域或基板之类的元件被称作位于另一元件“上”或“下”时,该元件可以“直接”位于另一元件“上”或“下”,或者可以存在中间元件。

(4)在不冲突的情况下,本实用新型的同一实施例及不同实施例中的特征可以相互组合。

以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换或改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。

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