测定装置、测定装置的调整方法及计算机存储介质与流程

[0001]
本发明涉及一种测定装置、测定装置的调整方法以及程序。


背景技术：

[0002]
在专利文献1中，公开有一种向被荧光标记了的试样照射激光并测定从各细胞产生的荧光的流式细胞仪。该流式细胞仪中，为检测光谱不同的来自复数个荧光染料的荧光，与各个应检测的荧光染料相对应地设有荧光检测器。
[0003]
在该流式细胞仪，为检测低级别的荧光，使用能放大检测出的信号的光电倍增管（pmt）、雪崩二极管等荧光检测器。为使来自各细胞的荧光的测定值进入动态范围内，根据应检测的荧光染料调整各荧光检测器的检测灵敏度即信号放大度。
[0004]
通过调整向pmt施加的电压来变更pmt的信号放大度。关于该流式细胞仪，在进行设定时，针对pmt设定复数个不同的施加电压，通过各个施加电压对来自荧光标记了的微球的荧光进行测定，通过实验来决定并存储图11所示的、施加电压与输出的荧光值之间的线性函数关系。随之，设定各pmt的目标荧光值后，就使用决定好的函数关系算出从荧光检测器输出目标荧光值的施加电压。
[0005]
现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利特开2004－205508号。


技术实现要素：

[0006]
发明要解决的技术问题在上述专利文献1的流式细胞仪中，需要根据各个pmt及荧光染料预先准备用于调整pmt检测灵敏度的上述函数关系。因此，使用新pmt或新荧光染料的情况下，为获取与机械差异（装置的个体差异所造成的误差）等相对应的上述函数关系，需要新进行很多测定并获取数据。
[0007]
解决技术问题的技术手段本发明涉及一种测定装置，该测定装置具备：流动室，供含粒子的试样流动；光源，向在流动室流动的试样照射光；荧光检测器，检测被光源照射了光的的试样所产生的荧光；控制部，使含荧光染料的阳性对照试样流向流动室，通过荧光检测器测定被光源照射了光的阳性对照试样所产生的荧光，比较获得的测定值与标准值，根据比较结果调整荧光检测器的检测灵敏度。
[0008]
本发明涉及一种测定装置的调整方法：使含荧光染料的阳性对照试样流向流动室，向在流动室流动的阳性对照试样照射光，通过荧光检测器测定从照射了光的阳性对照试样产生的荧光，比较通过荧光检测器获得的测定值与标准值，根据比较结果调整荧光检测器的检测灵敏度。
[0009]
本发明涉及一种计算机存储介质，使计算机控制执行以下处理步骤：将含荧光染
料的阳性对照试样供应至流动室的步骤、向在流动室流动的阳性对照试样照射光的步骤、通过荧光检测器测定照射了光的阳性对照试样所产生的荧光的步骤、以及对通过荧光检测器获得的测定值与标准值进行比较并根据比较结果调整荧光检测器的检测灵敏度的步骤。
[0010]
发明效果通过本发明的测定装置、测定装置的调整方法及程序，能够轻松进行用于检测来自试样的光的检测灵敏度的调整。
附图说明
[0011]
图1为用于说明测定装置的荧光检测器的灵敏度调整方法的概要的示意图；图2为用于说明测定装置的框图；图3为测定装置的光学系统说明图；图4为用于说明测定装置的调整处理的流程图；图5为用于说明图5的步骤s3的灵敏度调整处理的流程图；图6为测定装置的灵敏度调整的一例的说明图；图7为表示测定装置的灵敏度调整中电压与荧光强度的关系的图；图8为测定装置的荧光修正的概要说明图；图9为用于说明图5的步骤s6的荧光修正处理的流程图；图10为测定装置的荧光修正的一例的说明图；图11为表示以往的荧光分析装置的框图。
具体实施方式
[0012]
下面基于附图说明实施方式。
[0013]
图1（a）～图1（b）为用于说明测定装置的荧光检测器灵敏度调整方法的概要的示意图。作为例子，对在具备检测作为荧光染料的异硫氰酸荧光素（以下称fitc）的fitc用检测器以及、检测作为荧光染料的藻红蛋白（以下称pe）的pe用检测器的流式细胞仪，测定了含有标记了一定量fitc的微球群（以下称fitc微球群）的阳性对照试样的情况进行说明。图1（a）及图1（b）中，设定横轴为基于fitc用检测器的输出的荧光强度（fl1），纵轴为基于pe用检测器的输出的荧光强度（fl2），以点状图表示测定含fitc微球群的阳性对照试样从各微球获得的荧光强度。如图1（a）所示，阳性对照试样的fitc微球群的测定结果表示为测定值群61。测定装置将从fitc微球群产生的荧光强度（fl1）的统计值a（例如，荧光强度的中位数）与标准值进行比较，根据比较结果，如图1（b）所示，调整fitc用检测器的检测灵敏度以使统计值a与标准值大致相等。
[0014]
通过实施上述调整方法，能够轻松进行用于来自试样的光的检测的检测灵敏度的调整。
[0015]
（本实施方式的详细内容）使用图2说明测定装置100。测定装置100为多色流式细胞仪。流式细胞仪通过流式细胞术对试样进行光学测定。测定装置100具备光学系统单元200、试样制备部400、电压施加部50以及控制部40。
[0016]
控制部40控制光学系统单元200、试样制备部400及电压施加部50的动作。控制部
40为计算机，包含cpu（中央处理器）41、存储器42、输入部43、显示部44以及存储部45。
[0017]
cpu41进行控制部40所涉及的控制处理。存储器42用作进行cpu41所涉及的控制处理的作业区域。存储器42包含ram（随机存储器）。输入部43受理来自用户的指示输入。另外，输入部43读取附在试样容器的信息。输入部43包含例如键盘、鼠标、条形码及rfid等读写器。显示部44显示光学系统单元200的测定结果。另外，显示部44显示用于操作的界面。存储部45存储用于处理的程序、测定结果以及用于测定的信息。存储部45包含rom（只读存储器）。
[0018]
试样制备部400向作为测定对象的试样混合荧光试剂并标记荧光染料，制备适用于在光学系统单元200的测定的试样。
[0019]
光学系统单元200包含流动室10、光源20、复数个检测器30（30a～30p）。检测器30具有输出与已检测的光的强度对应的电信号的光检器34、放大从光检器34输出的电信号的放大部33。用于荧光检测的检测器30为光电倍增管（pmt），光检器34包含光电阴极，放大部33包含倍增器电极。
[0020]
使用图3进一步详细说明光学系统单元200。光学系统单元200具备流动室10、光源20a、20b、20c以及检测器30a～30p。流动室10接受试样制备部400所制备的试样。光源20a～20c向通过流动室10的试样照射光。检测器30a～30p检测来自试样的光并输出已转换为电信号的检测信号。检测器30a为检测前向散射光的检测器，检测器30b为检测侧向散射光的检测器。检测器30a及检测器30b为光电二极管。检测器30c、30d、30e、30f、30g、30h、30i、30j、30k、30l、30m、30n、30o及30p为检测荧光的检测器。检测器30c～30p为光电倍增管（pmt）。检测器30c～30p之中，作为检测对象的荧光染料各不相同。pmt包含光电阴极、倍增器电极、阳极。光电阴极所生成的光电子由倍增器电极放大，由阳极输出。通过变更施加于倍增器电极的电压来调整各检测器30c～30p的检测灵敏度。即，图2所示的光检器34包含光电阴极，放大部33包含倍增器电极。电压施加部50按照控制部40的指定，向各检测器30c～30p的倍增器电极施加大小已被指定的电压。
[0021]
光源20a～20c照射互不相同的波长的光。光源20a照射大约488nm的波长的光。光源20b照射大约642nm的波长的光。光源20c照射大约405nm的波长的光。由光源20a照射的光在准直透镜301a、分色镜303a与303b以及聚光镜302透射，照射在流动室10。由光源20b照射的光在准直透镜301b透射，被分色镜303a反射，在分色镜303b透射并在聚光镜302透射，照射在流动室10。由光源20c照射的光在准直透镜301c透射，被分色镜303b反射，在聚光镜302透射，照射在流动室10。
[0022]
来自于通过流动室10的试样的光的前方散射光在聚光镜304a、束霖止器305a、孔板305b、带通滤波器307a透射，入射至检测器30a。
[0023]
来自于通过流动室10的试样所含的粒子的光的侧向散射光及荧光通过聚光镜304b聚光。会入射至检测器30b的侧向散射光从聚光镜304b在分色镜308a、308b透射，被分色镜308c反射，在分色镜308d、308e、带通滤波器307b透射，入射至检测器30b。
[0024]
分别入射至检测器30c～30p的荧光，由分色镜308a～308n划分为互不相同的波长带。会入射至检测器30c的荧光从聚光镜304b在分色镜308a、308b透射，被分色镜308c反射，在分色镜308d透射，被分色镜308e反射，在带通滤波器307c透射，入射至检测器30c。会入射至检测器30d的荧光从聚光镜304b在分色镜308a、308b透射，被分色镜308c反射，被分色镜
308d反射，在带通滤波器307d透射，入射至检测器30d。
[0025]
会入射至检测器30e的荧光从聚光镜304b在分色镜308a、308b、308c及308f透射，并在带通滤波器307e透射，入射至检测器30e。会入射至检测器30f的荧光从聚光镜304b在分色镜308a、308b及308c透射，被分色镜308f反射，被分色镜308g反射，在带通滤波器307f透射，入射至检测器30f。
[0026]
会入射至检测器30g的荧光从聚光镜304b在分色镜308a、308b及308c透射，被分色镜308f反射，在分色镜308g、带通滤波器307g透射，入射至检测器30g。会入射至检测器30h的荧光从聚光镜304b被分色镜308a反射，在分色镜308b透射，被分色镜308h反射，在带通滤波器307h透射，入射至检测器30h。
[0027]
会入射至检测器30i的荧光从聚光镜304b被分色镜308a反射，在分色镜308b及308h透射，被分色镜308i反射，在带通滤波器307i透射，入射至检测器30i。会入射至检测器30j的荧光从聚光镜304b被分色镜308a反射，在分色镜308b、308h及308i透射，在带通滤波器307j透射，入射至检测器30j。
[0028]
会入射至检测器30k的荧光从聚光镜304b被分色镜308b反射，在分色镜308a透射，被分色镜308j反射，在分色镜308k、308l及带通滤波器307k透射，入射至检测器30k。会入射至检测器30l的荧光从聚光镜304b被分色镜308b反射，在分色镜308a透射，被分色镜308j反射，在分色镜308k透射，被分色镜308l反射，在带通滤波器307l透射，入射至检测器30l。
[0029]
会入射至检测器30m的荧光从聚光镜304b被分色镜308b反射，在分色镜308a透射，被分色镜308j反射，被分色镜308k反射，在带通滤波器307m透射，并入射至检测器30m。会入射至检测器30n的荧光从聚光镜304b被分色镜308b反射，在分色镜308a透射，在分色镜308j、308m及带通滤波器307n透射，入射至检测器30n。
[0030]
会入射至检测器30o的荧光从聚光镜304b被分色镜308b反射，在分色镜308a透射，在分色镜308j透射，被分色镜308m反射，被分色镜308n反射，在带通滤波器307o透射，入射至检测器30o。会入射至检测器30p的荧光从聚光镜304b被分色镜308b反射，在分色镜308a透射，在分色镜308j透射，被分色镜308m反射，在分色镜308n透射，在带通滤波器307p透射，入射至检测器30p。
[0031]
将各检测器30a～30p所输出的各个检测信号发送至控制部40，通过控制部40从检测信号获取光强度等参数，基于获取的参数进行试样分析。
[0032]
光源20可为1个、2个或4个以上。优选流式细胞仪至少搭载3个光源20。根据来自于试样的光的波长区域选择光源20。光源20为2个以上时，优选这些光源20发出具有不同的峰值波长的光。
[0033]
能够根据来自于试样的光的峰值波长数变更光电二极管、分色镜及带通滤波器的数量。另外，能够根据来自于试样的光的峰值波长或波长区域及荧光强度，选择光电二极管、分色镜及带通滤波器的种类。
[0034]
控制部40存储检测器30检测散射光及荧光之际的检测灵敏度相关信息、与已检测的荧光的组合对应的荧光修正相关信息以及用于选择要检测的试样的分布区域的设门相关信息，并进行控制来使得基于上述信息光学系统单元200能根据抗原获取合适的光学信息。
[0035]
（测定装置100的调整处理）
参照图4，对测定装置100的调整处理进行说明。
[0036]
首先，对测定装置100的控制部40所进行的用于调整荧光检测器（30c、30d、30e、30f、30g、30h、30i、30j、30k、30l、30m、30n、30o及30p）的检测灵敏度的处理进行说明。检测灵敏度的调整中，在特定波长的荧光测定中，调整各个荧光检测器的检测灵敏度，从而切实地分离荧光染料所标记的粒子与非标记的粒子。在此，将结合fitc与pe进行多色解析的情况下的灵敏度调整作为例子进行说明。fitc的荧光由荧光检测器30c检测，pe的荧光由荧光检测器30d检测。
[0037]
在图4的步骤s1，控制部40针对fitc用荧光检测器30c设定作为灵敏度调整目标的荧光强度的标准值、针对荧光检测器30c的施加电压（以下称pmt电压）的上限值及下限值。从含有标记了一定量fitc的微球群的阳性对照试样获得的荧光强度充分大于来自含非标记的微球群的阴性对照试样的荧光强度的值作为标准值。但标准值大的话，噪声信号的放大率也大，因此要在放大的噪声信号的影响小的范围内设定标准值。用户介由输入部43输入标准值。
[0038]
控制部40将使荧光检测器30c输出大于输入的标准值的测定值的pmt电压设定为上限值的初始值。另外，控制部40将使荧光检测器30c输出小于输入的标准值的测定值的pmt电压设定为下限值的初始值。在步骤s2，控制部40控制阳性对照试样开始向流动室10供应。
[0039]
在步骤s3，控制部40进行针对fitc用荧光检测器30c的施加电压（pmt电压）的调整处理并调整荧光检测器30c的检测灵敏度。
[0040]
参照图5，对图4的步骤s3的处理进行说明。
[0041]
在图5的步骤s11，控制部40将上限值与下限值的中位数设定为荧光检测器30c的pmt电压，进行阳性对照试样的测定。由此，获取从阳性对照试样所含的fitc微球群获得的荧光强度的统计值a。使用从微球群的各个微球获得的荧光强度的中位数作为统计值a。在步骤s12，控制部40比较统计值a与标准值，判断统计值a是否与标准值大致相等。即，控制部40判断统计值a与标准值的差分是否在一定范围内。统计值a与标准值的差分在一定范围内的话，则向步骤s13推进，统计值a与标准值的差分不在一定范围内的话，则向步骤s14推进。
[0042]
在步骤s13，控制部40将获取统计值a时的pmt电压设定为灵敏度调整后的pmt电压。之后，回到图4的流程图。在步骤s14，控制部40判断统计值a是否小于标准值。统计值a小于标准值的话，则向步骤s15推进，统计值a大于标准值的话，则向步骤s16推进。
[0043]
在步骤s15，控制部40将现在的pmt电压（在图4的步骤s1设定的上限值与下限值的中位数）变更为pmt电压的下限值。之后，回到步骤s11。在步骤s16，控制部40将现在的pmt电压（上限值与下限值的中位数）变更为pmt电压的上限值。之后，回到步骤s11。
[0044]
参照图6及图7进一步详细说明灵敏度调整。设定横轴为基于fitc用荧光检测器30c的输出的荧光强度（fl1），纵轴为基于pe用荧光检测器30d的输出的荧光强度（fl2）。出现如同测定值群61所示的作为阳性对照微球的fitc微球的测定结果。下面把使图4的步骤s1中设定的pmt电压的下限值的初始值为100v、上限值的初始值为1000v的情况作为例子进行说明。
[0045]
首先，如图7所示，利用pmt电压的下限值vl1（100v）与上限值vh1（1000v）的中位数vc1（550v）测定阳性对照试样的荧光强度（fl1）。如图6（a）所示，利用pmt电压550v进行测定
的情况下，测定值群61的统计值a1小于标准值，因此将用于测定的pmt电压（550v）设定为下一次的下限值。
[0046]
接下来，如图7所示，利用更新的pmt电压的下限值vl2（550v）与上限值vh2（1000v）的中位数vc2（775v），测定阳性对照试样的荧光强度（fl1）。如图6（b）所示，利用pmt电压775v进行测定的情况下，测定值群61的统计值a2小于标准值，因此将用于测定的pmt电压（775v）设定为下一次的下限值。
[0047]
接下来，如图7所示，利用更新的pmt电压的下限值vl3（775v）与上限值vh3（1000v）的中位数vc3（887v），测定阳性对照试样的荧光强度（fl1）。如图6（c）所示，利用pmt电压887v进行测定的情况下，测定值群61的统计值a3大于标准值，因此将用于测定的pmt电压（887v）设定为下一次的上限值。
[0048]
接下来，如图7所示，利用更新的pmt电压的下限值vl4（775v）与上限值vh4（887v）的中位数vc4（831v），测定阳性对照试样的荧光强度（fl1）。如图6（d）所示，利用pmt电压831v进行测定的情况下，测定值群61的统计值a4大于标准值，因此将用于测定的pmt电压（831v）设定为下一次的上限值。
[0049]
接下来，如图7所示，利用更新的pmt电压的下限值vl5（775v）与上限值vh5（831v）的中位数vc5（803v），测定阳性对照试样的荧光强度（fl1）。如图6（e）所示，利用pmt电压803v进行测定的情况下，测定值群61的统计值a5与标准值大致相等。由此，灵敏度调整结束，向图4的流程图的步骤s4转移。另外，本实施方式中，统计值a与标准值大致相等的条件为两者之差低于标准值的5％。
[0050]
另外，本实施方式中，使用了二分查找来查找与标准值吻合的pmt电压。通过二分查找法，能缩小查找范围并查找符合条件的施加电压，能迅速地结束查找。最后，能防止在荧光检测器的检测灵敏度调整上花费时间。也可采用其他查找方法。例如，查找方法可为线性查找及双向查找。
[0051]
另外，虽然使用了中位数作为统计值a，但也可使用众数或平均值作为统计值a。
[0052]
接下来，在图4的流程图的步骤s4，控制部40进行结束阳性对照试样向流动室供应的控制。
[0053]
接下来，在步骤s5，控制部40通过检测灵敏度调整后的fitc用荧光检测器30c测定阳性对照试样中的fitc微球群的荧光强度的统计值a，通过检测灵敏度调整后的pe用荧光检测器30d测定相同的阳性对照试样中的fitc微球群的荧光强度的统计值b，通过检测灵敏度调整后的pe用荧光检测器30d测定阴性对照试样中的微球群的荧光强度的统计值c，并存储在存储部45。这些值用于步骤s6的荧光修正处理。在此测定中，向流动室10供应阳性对照试样与阴性对照试样的混合试样。
[0054]
接下来，在步骤s6，控制部40进行荧光修正处理。
[0055]
在多色流式细胞仪，对试样进行多重染色，并同时检测复数个荧光染料所发出的荧光。另外，荧光染料的各自的荧光具有光谱，因此通过光学系统按波长域分离了的情况下，已与目标分子结合的荧光染料以外的荧光染料所发出的荧光也可能会漏入。
[0056]
图8的示例中，荧光染料f1与荧光染料f2两者的荧光互相漏入。通过波长域fl1的光的检测来测定荧光染料f1。另外，通过波长域fl2的光的检测来测定荧光染料f2。荧光染料f1的荧光的一部分包含波长域fl2。另外，荧光染料f2的荧光的一部包含波长域fl1。在
此，在波长域fl1的光的检测之中，去除荧光染料f2的光，由此能检测荧光染料f1的光。另外，在波长域fl2的光的检测之中，去除荧光染料f1的光，由此能检测荧光染料f2的光。
[0057]
参照图9，对图4的步骤s6的处理进行说明。在此，对算出用于扣除漏入至pe用荧光检测器的来自fitc的荧光的荧光修正值的情况进行说明。
[0058]
在图9的步骤s21，控制部40从存储部45读出在图4的步骤s5获取的统计值a、b、c，即，从存储部45读出检测灵敏度调整后的fitc用荧光检测器30c所测定的阳性对照试样中的fitc微球群的荧光强度的统计值a、检测灵敏度调整后的pe用荧光检测器30d所测定的相同阳性对照试样中的fitc微球群的荧光强度的统计值b、以及检测灵敏度调整后的pe用荧光检测器30d所测定出的阴性对照试样中的微球群的荧光强度的统计值c。
[0059]
在此，能如公式（1）所示表示荧光修正的相关矩阵。
[0060]
【数1】ts
21
：用于修正fitc所涉及的向pe用荧光检测器的漏入的修正值（上一次设定的修正值或用户初始设定的修正值）ts
12
：用于修正pe所涉及的向fitc用荧光检测器的漏入的修正值（上一次设定的修正值或用户初始设定的修正值）tfl1：视作来自fitc的真荧光强度的值tfl2：视作来自pe的真荧光强度的值pmt1：fitc用荧光检测器的实测值pmt2：pe用荧光检测器的实测值视作通过修正值ts
21
去除了荧光漏入，把统计值a代入tfl1，把统计值b代入tfl2。根据公式（1），实测值pmt2如公式（2）所示。
[0061]
（ts
21
×
a）＋（1
×
b）＝pmt2
・・・
（2）荧光修正值最合适的情况下，相关矩阵能用公式（3）表示。
[0062]
【数2】s
21
：用于修正fitc所涉及的向pe用荧光检测器的漏入的修正值s
12
：用于修正pe所涉及的向fitc用荧光检测器的漏入的修正值fl1：来自fitc的真荧光强度fl2：来自pe的真荧光强度pmt1：fitc用荧光检测器的实测值pmt2：pe用荧光检测器的实测值此时，pe用荧光检测器所测定的来自阳性对照试样中的fitc微球群的荧光强度与来自阴性对照试样中的微球群的荧光强度两者相比没有差，因此b＝c。随之，根据公式（3），实测值pmt2如公式（4）所示。
[0063]
（s
21
×
a）＋（1
×
c）＝pmt2
・・・
（4）在公式（2）与公式（4）中，实测值pmt2相等，因此导出公式（5）。
[0064]
（s
21
×
a）＋（1
×
c）＝（ts
21
×
a）＋（1
×
b）
・・・
（5）随之，从公式（5）导出公式（6）。
[0065]
s
21
＝（（ts
21
×
a）＋（b－c））／a
・・・
（6）另外，初次设定荧光修正值时，ts
21
＝0。因此，s
21
＝（b－c）／a。在下一次的计算时，此s
21
的值作为ts
21
使用。
[0066]
在步骤s22，控制部40确认使用相同种类的阳性对照试样及阴性对照试样算出的修正值ts
21
的历史记录或用户初始设定的修正值ts
21
。没有修正值ts
21
的历史记录及用户初始设定的修正值ts
21
的情况下，则向步骤s23推进。另一方面，有修正值ts
21
的历史记录或用户初始设定的修正值ts
21
的情况下，则向步骤s24推进。
[0067]
在步骤s23，控制部40基于上述统计值a、统计值b及统计值c算出用于扣除漏入至pe用荧光检测器的来自fitc的荧光的修正值s
21
。在步骤s24，控制部40基于存储于存储部45的修正值ts
21
与统计值a、统计值b及统计值c算出新的修正值s
21
。
[0068]
如上所示，在扣除来自相对于pe用荧光检测器30d的fitc的荧光的荧光修正中，控制部40基于pe用荧光检测器30d所测定的来自阳性对照试样中的fitc微球群的荧光强度的统计值b与来自阴性对照试样中的微球群的荧光强度的统计值c两者之间的差所相关的值（b－c）算出修正值s
21
。
[0069]
另外，在上述荧光修正中，控制部40能结合fitc用荧光检测器所测定的来自阳性对照试样中的fitc微球群的荧光强度算出修正值s
21
。
[0070]
另外，在本实施方式中，为取得统计值c使用了阴性对照，但也可不使用阴性对照，使c＝0来算出修正值s
21
。
[0071]
控制部40使存储部45存储算出的修正值s
21
。由此，能轻松地将算出的修正值s
21
用在进一步的修正值s
21
的算出或试样的测定。
[0072]
在步骤s25，如图10（a）至（b）所示，控制部40使用算出的修正值s
21
修正b。之后，向图4的流程图的步骤s7转移。
[0073]
在步骤s7，控制部40在存储部45存储完成了检测灵敏度的调整的各个荧光检测器的检测灵敏度。控制部40将测定从被检对象提取的试样的情况下的荧光检测器的检测灵敏度设定为存储部45所存储的检测灵敏度。
[0074]
在步骤s8，控制部40使显示部44显示检测灵敏度的调整以及以荧光修正后的荧光强度（fl1）及荧光强度（fl2）为轴的分布图（例如，图6（e）所示的分布图）。由此，用户通过确认分布图能轻松判断是否正确进行了荧光检测器的检测灵敏度调整及修正值s
21
的算出。
[0075]
另外，测定装置100能受理检测灵敏度及修正值s
21
的手动修正。例如，用户能确认分布图并进行调整修正值s
21
等操作。由此，用户能确认分布图并对检测灵敏度及修正值s
21
进行细微修改，因此能更加高精度地设定检测灵敏度及修正值s
21
。
[0076]
另外，本次公开的实施方式的所有的点均为例示且不受限制。本发明的范围如权利要求书所示，并非如上述实施方式的说明所示，且包含在与权利要求书相等的意义及范围内的所有变更（变形例）。
[0077]
例如，上述实施方式中，在图4所示的流程图的步骤s2开始阳性对照的供应，在步骤s3的灵敏度调整完成后在步骤s4结束阳性对照的供应，在步骤s5供应阳性对照与阴性对照的混合液。本发明不限于此，也可在在步骤s2开始阳性对照与阴性对照的混合液的供应，
并在步骤s3的灵敏度调整处理及步骤s6的荧光修正处理完成后结束混合液的供应。由此，能减少用户向测定装置供应对照试样的次数，进一步实现调整作业的简略化。
[0078]
另外，在上述实施方式中，使用了pmt作为荧光检测用的检测器30c～30p，也可使用雪崩光电二极管。
[0079]
另外，检测灵敏度的调整是通过调整施加在pmt的倍增器电极的电压进行的，也可通过放大电路放大检测器所输出的电信号，还可将检测器所输出的电信号数字化并通过控制部40进行放大。
[0080]
另外，作为测定装置100的测定对象的试样，不限于包含提取自被检对象的细胞的试样，可为包含微生物、动物细胞、植物细胞、花粉、浮游生物等粒子的试样。
[0081]
另外，上述实施方式中，使用了含被荧光标记了的微球的试样来作为用于检测灵敏度调整的阳性对照试样，但只要为会发出荧光的试样即可，例如，也可使用含被荧光标记了的细胞的作为测定对象的试样本身作为阳性对照试样。另外，关于被荧光标记了的微球，不限于直接与荧光染料结合的微球，也可使用已与荧光标记了的抗体结合的微球。也可为荧光染料嵌入其中的微球。同样地，关于被荧光标记了的细胞，也不限于已直接与荧光染料结合的细胞，也可使用已与荧光标记了的抗体结合的细胞。不仅可以是在细胞表面抗原结合了荧光染料的细胞，也可为在存在于细胞质及核内的抗原（细胞因子及转录因子）结合了荧光染料的细胞。另外，荧光标记的对象不限于微球及细胞，只要是能被荧光标记的粒子都行。例如，也可将含结合了荧光染料的dna及细胞的液滴作为被荧光标记了的粒子。
[0082]
编号说明10：流动室；20、20a、20b、20c：光源；30、30a、30b、30c、30d、30e、30f、30g、30h、30i、30j、30k、30l、30m、30n、30o、30p：检测器；33：放大部；40：控制部；43：输入部；100：测定装置。