可校正元件相对位置的光学编码器及其位置校正方法与流程

1.本发明有关一种光学编码器，更特别有关一种通过预存校正图样来校正元件相对距离的光学编码器及其位置校正方法。


背景技术：

2.请参照图1所示，其为已知光学编码器的方框图，该光学编码器包含光源11、编码媒体13、光二极管15以及处理电路17。所述光二极管15检测光源11所发出用于照明编码媒体13的光。转阻放大器(tia)输出相位差依序为90度的四个信号a、a’、b及b’。处理电路17比较信号a、a’、b及b’并产生两个输出信号cha及chb，如图2所示。
3.图2显示输出信号cha及chb的时序图，从图2中可看出由于输出信号cha及chb的电压准位的组合在编码媒体13的一个周期具有4个状态，故可用于表示编码媒体13的四个位置。如图2所示，所述4个状态分别具有90度的相位区间。
4.请参照图3，其为图1的各元件的相对位置的配置示意图。如欲得到如图2所示的时序图，光源11、编码媒体13及光二极管15在空间中的x轴、y轴及z轴上必须设置于预定位置。然而，在进行组装(assembling)及装配(installation)时，光源11、编码媒体13及光二极管15至少其中一者可能不位于所述预定位置而使得在至少一个轴向产生位置偏移，其将导致所述4个状态相对应的相位区间大于或小于90度，如图4所示，而降低位置判断精度。这种精度降低尤其在使用内差技艺的光学编码器更为明显。
5.虽然上述精度降低的问题可通过更严谨的组装及装配控制来削减，但需要花费相当的成本。
6.有鉴于此，一种低成本的可校正元件相对位置的光学编码器及其位置校正方法实为所需。


技术实现要素：

7.本发明提供一种包含额外的两校正二极管的光学编码器，其事先纪录光学编码器的各元件位于标准操作位置时所述两校正二极管的输出信号相关的校正图样，以作为位置校正的依据。
8.本发明还提供一种光学编码器的位置校正方法，只要将两校正二极管的输出信号相关的目前图样调整至相同于预存参照图样，即可完成位置校正。
9.本发明提供一种包含光检测器的光学编码器。所述光检测器用于接收来自编码媒体的调变光，并包含检测二极管阵列、第一光二极管及第二光二极管。所述检测二极管阵列相对所述编码媒体配置。所述第一光二极管及所述第二光二极管分别位于所述检测二极管阵列的两侧。所述第一光二极管及所述第二光二极管的每一者具有梯形检测面。
10.本发明还提供一种包含编码媒体及光检测器的光学编码器的位置校正方法。该位置校正方法包含下列步骤：根据所述第一光二极管及所述第二光二极管的参照输出信号事先决定参照图样；根据所述第一光二极管及所述第二光二极管的目前输出信号决定目前图
样；以及调整所述编码媒体与所述光检测器的相对位置以使所述目前图样相同于所述参照图样。
11.本发明还提供一种包含编码媒体及光检测器光学编码器的位置校正方法。该位置校正方法包含下列步骤：根据所述第一光二极管及所述第二光二极管的参照输出信号事先决定多个校正图样，其中该多个校正图样其中一者是所述编码媒体与所述光检测器位于预定相对位置的参照图样，其他的所述多个校正图样是所述编码媒体与所述光检测器位于不同相对位置的次参照图样；步骤a：根据所述第一光二极管及所述第二光二极管的目前输出信号决定目前图样；步骤b：比对所述目前图样与所述多个次参照图样以决定所述编码媒体与所述光检测器的偏移方向；以及步骤c：朝向所述偏移方向的反方向移动所述编码媒体与所述光检测器至少其中一者，并重复执行步骤a至步骤c直到所述目前图样等于所述参照图样。
12.为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能更明显，下文将配合所附图示，详细说明如下。此外，于本发明的说明中，相同的构件以相同的符号表示，于此合先述明。
附图说明
13.图1是已知的光学编码器的方框图；
14.图2是图1的光学编码器的输出信号的时序图；
15.图3是已知的光学编码器的示意图；
16.图4是图3的光学编码器的元件位置未正确配置时输出信号的示意图；
17.图5a是本发明实施例的光学编码器的示意图；
18.图5b是本发明实施例的光学编码器的编码媒体和光检测器的示意图；
19.图6是本发明实施例的光学编码器记录的参照图样的示意图；
20.图7a
‑
7h是本发明某些实施例的光学编码器记录的其他次参照图样的示意图；
21.图8a是本发明另一实施例的光学编码器的编码媒体和光检测器的示意图；
22.图8b是图8a的光学编码器记录的参照图样的示意图；
23.图9a是本发明再一实施例的光学编码器的编码媒体和光检测器的示意图；
24.图9b是图9a的光学编码器记录的参照图样的示意图；
25.图10a是本发明再一实施例的光学编码器的编码媒体和光检测器的示意图；
26.图10b是图10a的光学编码器记录的参照图样的示意图；
27.图11是本发明再一实施例的光学编码器的编码媒体和光检测器的示意图；
28.图12是本发明实施例的光学编码器的位置校正方法的流程图；及
29.图13是本发明另一实施例的光学编码器的位置校正方法的流程图。
30.附图标记说明
31.500
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
光学编码器
32.51
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
光源
33.53
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
编码媒体
34.531
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
反射部
35.533
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
非反射部
36.55
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
光检测器
37.57
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
转阻放大器
38.59
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
处理电路
39.a'、b'、na'、nb' 检测二极管
40.apd+
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
第一光二极管
41.apd
‑ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
第二光二极管
具体实施方式
42.本发明实施例的光学编码器是在用于产生频道a及频道b(例如参照图2)的输出信号的检测二极管阵列的两侧另外设置两校正二极管，且无需使用特别设计的编码狭缝(codeslits)。只要事先纪录光学编码器的各元件位于标准位置时，所述两校正二极管的输出信号相关的参照图样，并在组装及装配时，通过调整元件的相对位置以使所述两校正二极管的输出信号产生与预存的参照图样相同的目前图样，即可完成元件位置的校正。
43.请参照图5a所示，其为本发明实施例的光学编码器500的示意图。光学编码器500包含光源51、编码媒体(根据不同应用可为编码盘或编码带)53、光检测器55、转阻放大器(tia)57以及处理电路59。处理电路59例如是特定应用集成电路(asic)或数字处理器(dsp)。根据不同实施例，光源51及光检测器55可位于相同封装体或不同封装体。
44.光源51可为同调光源、部分同调光源或非同调光源，用于朝向编码媒体53投射可辨识光谱的发射光。光源51例如是红外光发光二极管或红外光激光二极管，但不限于此。
45.请同时参照图5b所示，反射式光学编码器中，编码媒体53的编码包含反射部(或反射区域)及非反射部(或非反射区域)。例如，空白区域531表示反射部而斜线区域533表示非反射部，或可相反设置。反射部531用于将来自光源51的发射光朝向光检测器55反射。非反射部533例如为镂空区域，也可以涂布吸光材质，只要使来自光源51的大部分发射光不产生反射即可，并无特定限制。穿透式光学编码器中，空白区域531表示反射部而斜线区域533表示穿透部，或可相反设置。
46.如图5b所示，空白区域531及斜线区域533交替配置而形成编码媒体53的编码，用于调变入射光。
47.亦即，编码媒体53可为反射式或穿透式，其上具有预定样式编码用于在来自光源51的发射光被反射或穿透时产生调变光。编码媒体53可进行线性运动、曲线运动或旋转运动，根据不同应用而定。在运作时，编码媒体53相对光源51及光检测器55产生相对位移，所述预定样式编码则对所述发射光进行光调变。
48.本发明中，光检测器55包含检测二极管阵列、第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
。
49.检测二极管阵列包含多个光二极管(例如图5b显示的a'、b'、na'、nb')相对编码媒体53的编码配置，以能够接收调变光，其是通过调变来自光源51的发射光而形成。例如，当编码媒体53为反射式结构时，光源51与光检测器55配置于编码媒体53的相同侧；而当编码媒体53为穿透式结构时，光源51与光检测器55配置于编码媒体53的相对侧。
50.多个光二极管a'、b'、na'、nb'接收到调变光之后，通过转阻放大器57产生相位依序相差90度的检测信号，例如第一信号a'＝sin+、第二信号b'＝cos+、第三信号na'＝sin
‑
及第四信号nb'＝cos
‑
；其中，第一信号sin+为正弦信号、第二信号cos+为余弦信号、第三信
号sin
‑
与第一信号sin+反相180度，且第四信号cos
‑
与第二信号cos+反相180度，但本发明并不以此为限。
51.转阻放大器57的运作原理为已知，故于此不再赘述。
52.处理电路59则将多个光二极管a'、b'、na'、nb'产生的输出信号进行处理(例如进行a'与na'以及b'与nb'的差分运算)以产生如图2的两个输出信号cha、chb。
53.请再参照图5b，本发明实施例的光学编码器500还包含两校正二极管(例如第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
)分别设置于检测二极管阵列的两侧。第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的每一者具有梯形检测面。转阻放大器57还将第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的光电流转换并放大以产生电压信号。
54.例如，第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的结构与多个光二极管a'、b'、na'、nb'的结构相同，而第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的部分(例如三角形)检测面受到不透光材质遮蔽，入射光仅能通过梯形检测面被校正二极管检测。一种实施方式中，检测二极管阵列的每个光二极管a'、b'、na'、nb'的检测面(例如填满圆点的矩型区域)的宽度d2与第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的宽度d2等于反射部531及非反射部533的宽度d1的一半。
55.一种实施方式中，光学编码器500为单轨(single track)结构，且所述检测二极管阵列与第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
位于相同轨道，其中所述相同轨道是指在y轴方向的位置大致相同。在多轨(multi
‑
tracks)结构中，第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
可与某些检测二极管位于相同轨道而与其他检测二极管(例如索引二极管，但不限于)位于不同轨道，根据不同应用而定。
56.可以了解的是，图5b是为了说明光检测器55与编码媒体53的编码的相对位置而将检测二极管阵列与第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
绘示于编码媒体53的编码的侧边，实际上光检测器55是位于编码媒体53的高度方向(即z轴向)上，如图5a所示。
57.一种实施方式中，第一光二极管apd+至检测二极管阵列的第一侧(例如图5b中左侧)的第一距离3d1等于第二光二极管apd
‑
至检测二极管阵列的第二侧(例如图5b中右侧)的第二距离3d1。当第二光二极管apd
‑
相对非反射部533其中一者时(例如通过移动编码媒体53)，第一光二极管apd+相对反射部531其中一者以使得第一光二极管apd+的输出信号最大时，第二光二极管apd
‑
的输出信号最小，或可相反。
58.图5b中，第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的两平行边的长边(亦即第一光二极管apd+的梯形检测面的右侧边及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的左侧边)面对所述检测二极管阵列；且第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的倾斜边朝向不同方向，例如第一光二极管apd+的梯形检测面的倾斜边朝向下方而第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的倾斜边朝向上方。
59.第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的输出光电流同样经过转阻放大器53转换并放大为电压信号。处理电路59则将第一光二极管apd+相关的电压信号进行归一化(例如将该电压信号除以第一光二极管apd+产生的最大电压信号或除以第一光二极管apd+与第二光二极管apd
‑
产生的电压信号的总和)并将归一化电压信号作为第一光二极管apd+的输出信号；处理电路59并将第二光二极管apd
‑
相关的电压信号进行归一化(例如将该电压信号除以第二光二极管apd
‑
产生的最大电压信号或除以第一光二极管apd+与第二光二极
管apd
‑
产生的电压信号的总和)并将归一化电压信号作为第二光二极管apd
‑
的输出信号。藉此，可形成如图6所示的参照图样。该参照图样表示两校正二极管的输出信号数值之间的关系，并记录于光学编码器500的内存中，该内存例如是eeprom、随机存取内存(ram)或闪存(flash memory)，但不限于此。
60.更详言之，光学编码器500还包含内存，用于事先纪录当编码媒体53与光检测器55(或包含光检测器55的封装体)位于预定相对位置时，例如图6中显示为位置(x,y,z)，第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的参照输出信号相关的参照图样，其中所述参照输出信号是指在出厂前所得到的输出信号。
61.另一种实施方式中，光学编码器500的内存还用于事先纪录当编码媒体53与光检测器55(或包含光检测器55的封装体)位于不同相对位置时，第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的参照输出信号相关的多个次参照图样，其中所述次参照图样是在出厂前编码媒体53与光检测器55位于非标准的相对位置(即非预定相对位置)时所得到的。所述次参照图样是进行逐步调整相对位置时所使用，举例说明于后。
62.本发明中，编码媒体53与光检测器55(或包含光检测器55的封装体)的相对位置包含切线方向(如图5a的x轴向)位置、轴向方向(如图5a的y轴向)位置及高度方向(如图5a的z轴向)位置。例如，图7a及图7b显示编码媒体53与光检测器55的相对位置在高度方向具有
±
b的位置偏移时的次参照图样；图7c显示编码媒体53与光检测器55的相对位置在切线方向及轴向方向具有
‑
a的位置偏移时的次参照图样；图7d及图7e显示编码媒体53与光检测器55的相对位置在切线方向及轴向方向具有
‑
a的位置偏移并在高度方向具有
±
b的位置偏移时的次参照图样；图7f显示编码媒体53与光检测器55的相对位置在切线方向及轴向方向具有+a的位置偏移时的次参照图样；图7g及图7h显示编码媒体53与光检测器55的相对位置在切线方向及轴向方向具有+a的位置偏移并在高度方向具有
±
b的位置偏移时的次参照图样。
63.必须说明的是，内存所储存的参照图样及多个次参照图样并不限于图6及图7a至图7h所示，当考虑编码媒体53不同的反光条件以及总体指示偏转(total indicator runout,tir)时，所产生的参照图样及多个次参照图样会不尽相同。
64.请参照图8a所示，其为本发明另一实施例的光学编码器500的编码媒体53的编码和光检测器55的示意图。图8a与图5b的差异在于，图8a中，第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的倾斜边的朝向方向与图5b不同，其他元件的配置则与图5b相同，故于此不再赘述。图8b是图8a的光学编码器500记录的参照图样的示意图。如前所述，其他实施方式中，光学编码器500还可记录编码媒体53与光检测器55(或包含光检测器55的封装体)位于不同相对位置的次参照图样，参照图7a
‑
图7h所示。
65.请参照图9a所示，其为本发明再一实施例的光学编码器500的编码媒体53的编码和光检测器55的示意图。图9a与图5b的差异在于，图9a中，第一光二极管apd+的梯形检测面的倾斜边的朝向方向与图5b不同而使得第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的倾斜边朝向相同方向，其他元件的配置则与图5b相同，故于此不再赘述。图9b是图9a的光学编码器500记录的参照图样的示意图。如前所述，其他实施方式中，光学编码器500可记录编码媒体53与光检测器55(或包含光检测器55的封装体)位于不同相对位置的次参照图样，参照图7a
‑
图7h所示。
66.请参照图10a所示，其为本发明再一实施例的光学编码器500的编码媒体53的编码
和光检测器55的示意图。图10a与图5b的差异在于，图10a中，第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的倾斜边的朝向方向与图5b不同。图10a中，第一光二极管apd+的梯形检测面的两平行边的长边面对检测二极管阵列，而第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的两平行边的短边面对检测二极管阵列，其他元件的配置则与图5b相同，故于此不再赘述。图10b是图10a的光学编码器500记录的参照图样的示意图。如前所述，其他实施方式中，光学编码器500可记录编码媒体53与光检测器55(或包含光检测器55的封装体)位于不同相对位置的次参照图样，参照图7a
‑
图7h所示。
67.虽然上述实施例中，是以两校正二极管至检测二极管阵列的两相对侧的距离相同(例如均为3d1)且两校正二极管的宽度(例如均为d2)等于反射部531及非反射部533的宽度(例如均为d1)的一半为例进行说明，但本发明并不以此为限。如图11所示，第一光二极管apd+至检测二极管阵列的第一侧的第一距离d不等于第二光二极管apd
‑
至检测二极管阵列的第二侧的第二距离d'；且第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的梯形检测面的宽度w等于反射部531及非反射部533的宽度d1，只要能事先记录第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的输出信号相关的校正图样，例如图6、图7a至图7h，即能达到组装及装配时进行位置校正的目的。
68.此外，图5b、图8a、图9a、图10a及图11中，校正二极管的高度h均等于检测二极管阵列的高度h1，但本发明并不为限。其他实施方式中，高度h可不等于h1。
69.请参照图12所示，其为本发明实施例的光学编码器500的位置校正方法的流程图，包含下列步骤：根据第一光二极管及第二光二极管的参照输出信号事先决定参照图样(步骤s121)；根据所述第一光二极管及所述第二光二极管的目前输出信号决定目前图样(步骤s123)；以及调整编码媒体与光检测器的相对位置以使所述目前图样相同于所述参照图样(步骤s125)。
70.步骤s121：在出厂前，先配置编码媒体53与光检测器55位于标准相对位置(即预定相对位置)以得到第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的输出信号，因其用于作为位置校正的基础，故本说明书中称为参照输出信号。如前所述，所述参照输出信号为第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
输出的光电流经转阻放大器57转换并放大后所产生的电压信号，经归一化该电压信号，则可得到第一归一化电压信号(例如图中的归一化apd+)与第二归一化电压信号(例如图中的归一化apd
‑
)的关系以作为参照图样，例如图6、图8b、图9b或图10b所示。参照图样则事先记录于光学编码器500的内存中。
71.步骤s123：在组装及装配时，使用第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
通过转阻放大器57产生目前输出信号。处理电路59根据求得所述参照图样的相同方式(亦即经过转阻放大器产生电压信号并进行归一化)求得目前图样。如前所述，当编码媒体53与光检测器55之间具有位置偏移时，目前图样将不相同于预存的参照图样。
72.步骤s125：使用者改变，手动或自动控制，编码媒体53与光检测器55的相对位置以使得所述目前图样大致相同于参照图样，则完成位置校正。
73.例如，光学编码器500可连接于显示器，其用以实时显示步骤s123所得到的目前图样及预存的参照图样以供使用者进行校正程序。
74.另一种实施方式中，所述参照图样并不是先储存或计录于光学编码器500的内存，而是已知当编码媒体53与光检测器55配置于标准相对位置时的理论参考图样，例如类似图
6、图8b、图9b及图10b的图样。从第一光二极管apd+及第二光二极管apd
‑
的输出信号求得的目前图样例如显示于示波器的屏幕上。藉此，校正程序是通过改变编码媒体53与光检测器55的相对位置以使得目前图样尽可能的接近于理论图样来完成位置校正方法。
75.请参照图13所示，其为本发明另一实施例的光学编码器500的位置校正方法的流程图，包含下列步骤：根据第一光二极管及第二光二极管的参照输出信号事先决定多个校正图样，其中该多个校正图样其中一者是编码媒体与光检测器位于预定相对位置的参照图样，其他的所述多个校正图样是所述编码媒体与所述光检测器位于不同相对位置的次参照图样(步骤s131)；根据所述第一光二极管及所述第二光二极管的目前输出信号决定目前图样(步骤s133)；比对所述目前图样与所述多个次参照图样以决定所述编码媒体与所述光检测器的偏移方向(步骤s135)；以及朝向所述偏移方向的反方向移动所述编码媒体与所述光检测器至少其中一者后，重复执行步骤s133至步骤s135直到所述目前图样等于所述参照图样(步骤s137)。
76.步骤s131：此步骤与图12的步骤s121相同，都是在出厂前所进行。步骤s131中，除了事先纪录编码媒体53与光检测器55位于预定相对位置的参照图样，例如图6、图8b、图9b或图10b所示，还另外纪录编码媒体53与所述光检测器55位于不同相对位置(非标准操作位置)的次参照图样，例如图7a
‑
图7h所示。本发明中，参照图样与次参照图样统称为校正图样。
77.步骤s133：此步骤与图12的步骤s123相同，故于此不再赘述。
78.步骤s135：当编码媒体53与所述光检测器55不位于正确标准位置(即预定相对位置)时，目前图样会大致相同于多个次参照图样其中之一但不会相同于参照图样。因此，使用者可根据比对结果判断编码媒体53与所述光检测器55的偏移方向。例如，光学编码器500可连接于显示器，其用以实时显示步骤s133所得到的目前图样及预存的多个校正图样以供用户比对。
79.可以了解的是，预存的多个校正图样的数目并无特定限制，其可根据内存空间及校正精确度而决定。此外，多个校正图样也可选择储存于光学编码器500外部装置的内存或云端，其中该外部装置具有显示器用以实时显示目前图样及多个校正图样以供使用者进行校正程序。
80.步骤s137：使用者朝向所述偏移方向的反方向移动编码媒体53与光检测器55至少其中一者，并重复执行步骤s133至步骤s135直到所述目前图样大致等于所述参照图样。
81.例如，若使用者于步骤s135判断目前图样大致相同于图7d，则可判断光检测器55的目前位置与预定位置具有切线方向及轴向方向
‑
a的位置偏移并在高度方向具有
‑
b的位置偏移。此时，使用者例如先朝向高度方向移动光检测器55距离+b以使所述目前图样大致相同于图7c。接者，使用者依序朝向切线方向及轴向方向移动光检测器55距离+a，直到所述目前图样大致相同于图6，则完成位置校正。此外，使用者也可以通过移动编码媒体53来进行位置校正。可以了解的是，在校正过程中，处理电路59可以预定频率持续产生目前图样以供比对及校正。
82.其他实施方式中，上述位置校正步骤还可以自动控制的方式，经由预先撰写的控制软件和/或韧体码搭配马达来校正编码媒体53与光检测器55的相对位置，而不限于由使用者以手动方式进行校正。
83.另一种实施方式中，多个校正图样并不是先储存或计录于光学编码器500的内存，而是已知当编码媒体53与光检测器55配置于不同相对位置时的理论校正图样，例如类似图7a至图7h的图样。从第一光二极管apd+及第二光二极管apd
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的输出信号求得的目前图样例如显示于示波器的屏幕上。藉此，校正程序是通过改变编码媒体53与光检测器55的相对位置以使得目前图样与不同相对位置相关的理论图样具有最高的相似度来确认偏移方向。在得到该偏移方向后，通过执行步骤s137则可完成位置校正方法。
84.必须说明的是，虽然上述实施例中，是以一组校正二极管为例进行说明，但本发明并不限于此。其他实施方式中，光学编码器500可包含多组校正二极管，例如上述图5b、图8a、图9a、图10a及图11的组合，只要在内存中预存各组校正二极管相关的校正图样即可。
85.此外，校正二极管的形状及尺寸并不限于本发明中所提供者，只要在内存中预存各组校正二极管相关的参照图样(类似图6、图8b、图9b及图10b)，且在校正过程中能过通过改变元件相对位置而重现所述参照图样，即可达成本发明的位置校正。
86.综上所述，已知光学编码器的组装及装配会产生位置偏移而降低位置判断精度，进行高精度的组装及装配控制则需要花费较高的成本。因此，本发明另提供一种可校正元件相对位置的光学编码器(例如参照图5b)及其位置校正方法(例如参照图12及图13)，其仅通过另外设置至少一组校正二极管，并事先记录标准操作位置时该组校正二极管的输出信号相关的参照图样，即能够低成本的达成位置校正的目的。
87.虽然本发明已通过前述实例披露，但是其并非用以限定本发明，任何本发明所属技术领域中具有通常知识技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，当可作各种的更动与修改。因此本发明的保护范围当视后附的权利要求所界定的范围为准。