一种具有双进气道装置的功率器件高温高压测试用探针卡的制作方法

一种具有双进气道装置的功率器件高温高压测试用探针卡
1.本申请是发明专利申请《一种功率器件高温高压测试用探针卡及其关键结构》的分案申请。
2.原案申请日：2020
‑
07
‑
01。
3.原案申请号：2020106210634。
4.原案发明名称：一种功率器件高温高压测试用探针卡及其关键结构。
技术领域
5.本发明一种具有双进气道装置的功率器件高温高压测试用探针卡属于半导体器件测试技术领域。


背景技术：

6.随着mems技术和半导体技术的不断发展，小型化高功率器件的产量逐年攀升。很多器件要在高电压和高温度环境下进行工作。确保这些器件能够在如此恶劣环境下正常工作，需要用探针卡对其性能进行测试。
7.功率器件测试的一项重要指标是击穿电压，该电压可以高达几千伏，在如此高电压下进行测试，探针卡的探针之间就可能产生非正常放电现象，瞬间就可以损坏测试设备以及被测晶圆。
8.功率器件测试的另一项重要指标是工作温度，一般来讲，测试芯片要求在
‑
40摄氏度到125摄氏度之间均能够正常工作，而汽车领域中的部分芯片，要求其能够在180摄氏度以上的环境下正常工作，那么我们就需要对其在180摄氏度以上的工作情况进行测试。由于探针卡各部件之间存在热膨胀系数差异，从室温到180摄氏度以上的温度变化会造成探针卡的翘曲变形和探针的位置漂移，这不仅降低了测试效果和效率，严重时甚至造成测试失败、探针卡损伤等问题。
9.可见，如何抑制高电压环境下探针之间非正常放电现象，以及如何抑制高温度环境下探针卡翘曲变形和探针位置漂移，是现阶段功率器件测试探针卡技术亟待解决的关键技术问题，然而，目前还没有发现能够同时突破这两个技术难题的探针卡。


技术实现要素：

10.针对上述问题，本发明公开了一种功率器件高温高压测试用探针卡及其关键结构，不仅能够抑制高电压环境下探针之间非正常放电现象，而且能够抑制高温度环境下探针卡翘曲变形和探针位置漂移。
11.本发明的目的是这样实现的：一种功率器件高温高压测试用探针卡，从上到下依次设置进气系统、pcb板、转接层、导引板和探针；所述进气系统底部具有多个下出气孔和侧出气孔，所述pcb板上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第一通孔，所述转接层上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的第二通孔，所述导引板上分布有与下出气孔位置、形状和数量均相同的
第三通孔，下出气孔、第一通孔、第二通孔和第三通孔同轴设置，从下出气孔喷射出的高温高压气体，依次经过第一通孔、第二通孔和第三通孔后，吹入导引板与被测晶圆之间；所述进气系统还包括泄压孔，所述泄压孔内壁攻有螺纹，并旋拧有调整件，所述调整件包括截面为t形、中间具有通孔的接触端，环形磁铁和上磁铁固定端，所述接触端宽部侧壁套有螺纹，用于旋拧在泄压孔内壁，窄部设置有环形磁铁，窄部侧壁套有螺纹，所述上磁铁固定端内壁攻有螺纹，用于旋拧在接触端窄部侧壁，接触端宽部下方与上磁铁固定端上方将环形磁铁固定；所述泄压孔内壁还旋拧有阀门件，所述阀门件包括截面为倒t形、中间具有上窄下宽阶梯通孔的连接件，所述连接件窄部侧壁套有螺纹，用于旋拧在泄压孔内壁，所述阶梯通孔的宽部放置有圆形磁铁，所述圆形磁铁上方粘贴有密封垫，侧壁设置有豁口，底部设置有豁口，侧壁豁口和底部豁口相连，阶梯通孔的宽部内壁攻有螺纹，并旋拧有中间具有通孔的遮挡环，圆形磁铁在环形磁铁的吸引和压缩空气的推动下，能够在遮挡环上方上下运动；各个结构的功能如下：所述导引板边缘的厚度大于中心区域的厚度；所述进气系统用于提供高温高压气体和常温高压气体，所述下出气孔用于向探针喷射高温高压气体，所述侧出气孔用于向pcb板提供常温高压气体；所述pcb板用于连接测试机和信号走线；所述转接层为探针与pcb板的媒介，用于实现信号的间距转换；所述导引板用于容纳探针；所述探针用于连接被测晶圆。
12.上述一种功率器件高温高压测试用探针卡，所述的侧出气孔按照恒温空气流动方向，横截面积逐渐增大，在侧出气孔的外端部，形状为宽度大于高度的矩形；在侧出气孔的外端部下方，转轴连接有挡板，所述挡板的另一侧边缘安装有拉绳，所述拉绳从侧出气孔的上方穿出，在侧出气孔的上方，还设置有拉绳固定端，所述拉绳固定端包括框架，设置在框架中并能够沿框架上下运动的固定板，位于固定板下方和框架底部上方的压簧，位于框架上方的开关，所述开关通过穿过框架的支架连接到固定板上，拉绳从固定板的上方穿过框架，在压簧的作用下，挤在固定板与框架之间，需要调整的时候，按动开关，使固定板向下运动，调整拉绳，在调整好位置后，松开开关即可。
13.上述一种功率器件高温高压测试用探针卡，所述进气系统还包括双进气道装置，所述双进气道装置按照空气流动方向，包括空气泵，第一三通阀门，连接第一三通阀门第一出口的高温高压箱，连接第一三通阀门第二出口的常温高压箱，所述高温高压箱中设置有电阻丝、温度传感器和第一压强计，所述常温高压箱中设置有第二压强计，所述高温高压箱有两个出口，第一出口通过第一阀门连接下出气孔，第二出口连接第二三通阀门，所述第二三通阀门还分别连接常温高压箱的出口和第二阀门，所述第二阀门连接侧出气孔。
14.以上一种功率器件高温高压测试用探针卡，所述导引板边缘的厚度大于中心区域的厚度，通过以下技术特征实现：导引板的下方四周，具有充气气囊。
15.一种探针卡载侧出气孔，按照恒温空气流动方向，横截面积逐渐增大，在侧出气孔的外端部，形状为宽度大于高度的矩形；在侧出气孔的外端部下方，转轴连接有挡板，所述挡板的另一侧边缘安装有拉绳，所述拉绳从侧出气孔的上方穿出，在侧出气孔的上方，还设
置有拉绳固定端，所述拉绳固定端包括框架，设置在框架中并能够沿框架上下运动的固定板，位于固定板下方和框架底部上方的压簧，位于框架上方的开关，所述开关通过穿过框架的支架连接到固定板上，拉绳从固定板的上方穿过框架，在压簧的作用下，挤在固定板与框架之间，需要调整的时候，按动开关，使固定板向下运动，调整拉绳，在调整好位置后，松开开关即可。
16.一种探针卡载双进气道装置，按照空气流动方向，包括空气泵，第一三通阀门，连接第一三通阀门第一出口的高温高压箱，连接第一三通阀门第二出口的常温高压箱，所述高温高压箱中设置有电阻丝、温度传感器和第一压强计，所述常温高压箱中设置有第二压强计，所述高温高压箱有两个出口，第一出口通过第一阀门连接下出气孔，第二出口连接第二三通阀门，所述第二三通阀门还分别连接常温高压箱的出口和第二阀门，所述第二阀门连接侧出气孔。
17.有益效果：第一、本发明公开了一种功率器件高温高压测试用探针卡，该探针卡设置有用于提供高温高压气体和常温高压气体的进气系统，并且高温高压气体供给到探针位置，常温高压气体供给到pcb板位置；在探针位置，利用均匀电场击穿电压随压强增大而增大，因此高温高压气体能够提高探针击穿电压，避免探针之间非正常放电的发生，对测试设备和被测晶圆起到保护作用；同时，高温高压气体能够提高探针和被测晶圆温度，实现高温测试；在pcb板位置，由于有常温高压气体供给，使得整个探针卡除探针外温度始终保持常温，有效避免因探针卡各部件之间存在热膨胀系数差异，在不同温度测试时发生的探针卡的翘曲变形和探针的位置漂移，有效提高了测试效果和效率。
18.第二、本发明一种功率器件高温高压测试用探针卡，能够同时抑制高电压环境下探针之间非正常放电现象，以及抑制高温度环境下探针卡翘曲变形和探针位置漂移，具有一机多能的有益效果。
19.第三、本发明还公开了一种探针卡载侧出气孔结构，在该结构下，通过拉动拉绳，可以改变挡板的角度，进而同时调整常温高压气体的喷射角度和压强，使得侧出气孔具有调节功能。
20.第四、本发明还公开了一种探针卡载双进气道装置，该装置专门针对本发明用于功率器件高温高压测试的探针卡，用于同时提供高温高压气体和常温高压气体。
21.第五、本发明还公开了一种磁力式泄压结构，该结构能够保证探针处的压强为所需要强，在压强超出阈值后会自动泄压，不会因压强过大而产生不可控的问题。
22.第六、本发明还针对所提供的磁力式泄压结构，提供了一种安装方法和标定方法，能够实现测试时探针处压强的调整。
附图说明
23.图1是本发明功率器件高温高压测试用探针卡的结构示意图。
24.图2是泄压孔不工作时各相关零部件之间的位置关系示意图。
25.图3是泄压孔工作时各相关零部件之间的位置关系示意图。
26.图4是侧出气孔、挡板、拉绳和拉绳固定端之间的结构示意图。
27.图5是拉绳固定端的结构示意图。
28.图6是双进气道装置的结构示意图。
29.图中：1进气系统、1
‑
1下出气孔、1
‑
2侧出气孔、1
‑2‑
1挡板、1
‑2‑
2拉绳、1
‑2‑
3拉绳固定端、1
‑2‑3‑
1框架、1
‑2‑3‑
2固定板、1
‑2‑3‑
3压簧、1
‑2‑3‑
4开关、1
‑2‑3‑
5支架、1
‑
3泄压孔、1
‑
4阀门件、1
‑4‑
1连接件、1
‑4‑
2圆形磁铁、1
‑4‑
3密封垫、1
‑4‑
4遮挡环、1
‑
5调整件、1
‑5‑
1接触端、1
‑5‑
2环形磁铁、1
‑5‑
3上磁铁固定端、1
‑
7双进气道装置、1
‑7‑
1空气泵、1
‑7‑
2第一三通阀门、1
‑7‑
3高温高压箱、1
‑7‑3‑
1电阻丝、1
‑7‑3‑
2温度传感器、1
‑7‑3‑
3第一压强计、1
‑7‑
4常温高压箱、1
‑7‑4‑
1第二压强计、1
‑7‑
5第一阀门、1
‑7‑
6第二三通阀门、1
‑7‑
7第二阀门、2pcb板、2
‑
1第一通孔、3转接层、3
‑
1第二通孔、4导引板、4
‑
1第三通孔、4
‑
2充气气囊、5探针、6被测晶圆。
具体实施方式
30.下面结合附图对本发明具体实施方式作进一步详细描述。
31.具体实施例一以下是一种功率器件高温高压测试用探针卡的具体实施例。
32.本实施例的功率器件高温高压测试用探针卡，如图1所示，该探针卡从上到下依次设置进气系统1、pcb板2、转接层3、导引板4和探针5；所述进气系统1底部具有多个下出气孔1
‑
1和侧出气孔1
‑
2，所述pcb板2上分布有与下出气孔1
‑
1位置、形状和数量均相同的第一通孔2
‑
1，所述转接层3上分布有与下出气孔1
‑
1位置、形状和数量均相同的第二通孔3
‑
1，所述导引板4上分布有与下出气孔1
‑
1位置、形状和数量均相同的第三通孔4
‑
1，下出气孔1
‑
1、第一通孔2
‑
1、第二通孔3
‑
1和第三通孔4
‑
1同轴设置，从下出气孔1
‑
1喷射出的高温高压气体，依次经过第一通孔2
‑
1、第二通孔3
‑
1和第三通孔4
‑
1后，吹入导引板4与被测晶圆6之间；所述进气系统1还包括泄压孔1
‑
3，所述泄压孔1
‑
3内壁攻有螺纹，并旋拧有调整件1
‑
5，所述调整件1
‑
5包括截面为t形、中间具有通孔的接触端1
‑5‑
1，环形磁铁1
‑5‑
2和上磁铁固定端1
‑5‑
3，所述接触端1
‑5‑
1宽部侧壁套有螺纹，用于旋拧在泄压孔1
‑
3内壁，窄部设置有环形磁铁1
‑5‑
2，窄部侧壁套有螺纹，所述上磁铁固定端1
‑5‑
3内壁攻有螺纹，用于旋拧在接触端1
‑5‑
1窄部侧壁，接触端1
‑5‑
1宽部下方与上磁铁固定端1
‑5‑
3上方将环形磁铁1
‑5‑
2固定；所述泄压孔1
‑
3内壁还旋拧有阀门件1
‑
4，所述阀门件1
‑
4包括截面为倒t形、中间具有上窄下宽阶梯通孔的连接件1
‑4‑
1，所述连接件1
‑4‑
1窄部侧壁套有螺纹，用于旋拧在泄压孔1
‑
3内壁，所述阶梯通孔的宽部放置有圆形磁铁1
‑4‑
2，所述圆形磁铁1
‑4‑
2上方粘贴有密封垫1
‑4‑
3，侧壁设置有豁口，底部设置有豁口，侧壁豁口和底部豁口相连，阶梯通孔的宽部内壁攻有螺纹，并旋拧有中间具有通孔的遮挡环1
‑4‑
4，圆形磁铁1
‑4‑
2在环形磁铁1
‑5‑
2的吸引和压缩空气的推动下，能够在遮挡环1
‑4‑
4上方上下运动；泄压孔1
‑
3、阀门件1
‑
4和调整件1
‑
5之间的连接关系如图2和图3所示，其中，图2是泄压孔1
‑
3不工作时各相关零部件之间的位置关系示意图，图3是泄压孔1
‑
3工作时各相关零部件之间的位置关系示意图；探针卡各个结构的功能如下：所述导引板4边缘的厚度大于中心区域的厚度；所述进气系统1用于提供高温高压气体和常温高压气体，所述下出气孔1
‑
1用于向探针5喷射高温高压气体，所述侧出气孔1
‑
2用于向pcb板2提供常温高压气体；
所述pcb板2用于连接测试机和信号走线；所述转接层3为探针与pcb板2的媒介，用于实现信号的间距转换；所述导引板4用于容纳探针5；所述探针5用于连接被测晶圆6。
33.具体实施例二以下是一种功率器件高温高压测试用探针卡的具体实施例。
34.上述一种功率器件高温高压测试用探针卡，所述的侧出气孔1
‑
2按照恒温空气流动方向，横截面积逐渐增大，在侧出气孔1
‑
2的外端部，形状为宽度大于高度的矩形；在侧出气孔1
‑
2的外端部下方，转轴连接有挡板1
‑2‑
1，所述挡板1
‑2‑
1的另一侧边缘安装有拉绳1
‑2‑
2，所述拉绳1
‑2‑
2从侧出气孔1
‑
2的上方穿出，在侧出气孔1
‑
2的上方，还设置有拉绳固定端1
‑2‑
3，所述拉绳固定端1
‑2‑
3包括框架1
‑2‑3‑
1，设置在框架1
‑2‑3‑
1中并能够沿框架1
‑2‑3‑
1上下运动的固定板1
‑2‑3‑
2，位于固定板1
‑2‑3‑
2下方和框架1
‑2‑3‑
1底部上方的压簧1
‑2‑3‑
3，位于框架1
‑2‑3‑
1上方的开关1
‑2‑3‑
4，所述开关1
‑2‑3‑
4通过穿过框架1
‑2‑3‑
1的支架1
‑2‑3‑
5连接到固定板1
‑2‑3‑
2上，拉绳1
‑2‑
2从固定板1
‑2‑3‑
2的上方穿过框架1
‑2‑3‑
1，在压簧1
‑2‑3‑
3的作用下，挤在固定板1
‑2‑3‑
2与框架1
‑2‑3‑
1之间，需要调整的时候，按动开关1
‑2‑3‑
4，使固定板1
‑2‑3‑
2向下运动，调整拉绳1
‑2‑
2，在调整好位置后，松开开关1
‑2‑3‑
4即可；所述侧出气孔1
‑
2、挡板1
‑2‑
1、拉绳1
‑2‑
2和拉绳固定端1
‑2‑
3之间的结构示意图如图4所示；拉绳固定端1
‑2‑
3的结构示意图如图5所示。
35.具体实施例三以下是一种功率器件高温高压测试用探针卡的具体实施例。
36.本实施例的功率器件高温高压测试用探针卡，在具体实施例一的基础上，进一步限定所述进气系统1还包括双进气道装置1
‑
7，所述双进气道装置1
‑
7按照空气流动方向，包括空气泵1
‑7‑
1，第一三通阀门1
‑7‑
2，连接第一三通阀门1
‑7‑
2第一出口的高温高压箱1
‑7‑
3，连接第一三通阀门1
‑7‑
2第二出口的常温高压箱1
‑7‑
4，所述高温高压箱1
‑7‑
3中设置有电阻丝1
‑7‑3‑
1、温度传感器1
‑7‑3‑
2和第一压强计1
‑7‑3‑
3，所述常温高压箱1
‑7‑
4中设置有第二压强计1
‑7‑4‑
1，所述高温高压箱1
‑7‑
3有两个出口，第一出口通过第一阀门1
‑7‑
5连接下出气孔1
‑
1，第二出口连接第二三通阀门1
‑7‑
6，所述第二三通阀门1
‑7‑
6还分别连接常温高压箱1
‑7‑
4的出口和第二阀门1
‑7‑
7，所述第二阀门1
‑7‑
7连接侧出气孔1
‑
2；所述双进气道装置1
‑
7的结构示意图如图6所示。
37.具体实施例四以下是一种功率器件高温高压测试用探针卡的具体实施例。
38.本实施例的功率器件高温高压测试用探针卡，在具体实施例一、具体实施例二或具体实施例三的基础上，进一步限定所述导引板4边缘的厚度大于中心区域的厚度，通过以下技术特征实现：导引板4的下方四周，具有充气气囊4
‑
2。
39.具体实施例五以下是一种探针卡载侧出气孔的具体实施例。
40.一种探针卡载侧出气孔，按照恒温空气流动方向，横截面积逐渐增大，在侧出气孔1
‑
2的外端部，形状为宽度大于高度的矩形；在侧出气孔1
‑
2的外端部下方，转轴连接有挡板
1
‑2‑
1，所述挡板1
‑2‑
1的另一侧边缘安装有拉绳1
‑2‑
2，所述拉绳1
‑2‑
2从侧出气孔1
‑
2的上方穿出，在侧出气孔1
‑
2的上方，还设置有拉绳固定端1
‑2‑
3，所述拉绳固定端1
‑2‑
3包括框架1
‑2‑3‑
1，设置在框架1
‑2‑3‑
1中并能够沿框架1
‑2‑3‑
1上下运动的固定板1
‑2‑3‑
2，位于固定板1
‑2‑3‑
2下方和框架1
‑2‑3‑
1底部上方的压簧1
‑2‑3‑
3，位于框架1
‑2‑3‑
1上方的开关1
‑2‑3‑
4，所述开关1
‑2‑3‑
4通过穿过框架1
‑2‑3‑
1的支架1
‑2‑3‑
5连接到固定板1
‑2‑3‑
2上，拉绳1
‑2‑
2从固定板1
‑2‑3‑
2的上方穿过框架1
‑2‑3‑
1，在压簧1
‑2‑3‑
3的作用下，挤在固定板1
‑2‑3‑
2与框架1
‑2‑3‑
1之间，需要调整的时候，按动开关1
‑2‑3‑
4，使固定板1
‑2‑3‑
2向下运动，调整拉绳1
‑2‑
2，在调整好位置后，松开开关1
‑2‑3‑
4即可；所述侧出气孔1
‑
2、挡板1
‑2‑
1、拉绳1
‑2‑
2和拉绳固定端1
‑2‑
3之间的结构示意图如图4所示；拉绳固定端1
‑2‑
3的结构示意图如图5所示。
41.具体实施例六以下是一种探针卡载双进气道装置的具体实施例。
42.本实施例的探针卡载双进气道装置，按照空气流动方向，包括空气泵1
‑7‑
1，第一三通阀门1
‑7‑
2，连接第一三通阀门1
‑7‑
2第一出口的高温高压箱1
‑7‑
3，连接第一三通阀门1
‑7‑
2第二出口的常温高压箱1
‑7‑
4，所述高温高压箱1
‑7‑
3中设置有电阻丝1
‑7‑3‑
1、温度传感器1
‑7‑3‑
2和第一压强计1
‑7‑3‑
3，所述常温高压箱1
‑7‑
4中设置有第二压强计1
‑7‑4‑
1，所述高温高压箱1
‑7‑
3有两个出口，第一出口通过第一阀门1
‑7‑
5连接下出气孔1
‑
1，第二出口连接第二三通阀门1
‑7‑
6，所述第二三通阀门1
‑7‑
6还分别连接常温高压箱1
‑7‑
4的出口和第二阀门1
‑7‑
7，所述第二阀门1
‑7‑
7连接侧出气孔1
‑
2；所述双进气道装置1
‑
7的结构示意图如图6所示。
43.具体实施例七以下是一种功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的具体实施例。
44.功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构，在进气系统1上设置有泄压孔1
‑
3，所述泄压孔1
‑
3内壁攻有螺纹，并旋拧有调整件1
‑
5，所述调整件1
‑
5包括截面为t形、中间具有通孔的接触端1
‑5‑
1，环形磁铁1
‑5‑
2和上磁铁固定端1
‑5‑
3，所述接触端1
‑5‑
1宽部侧壁套有螺纹，用于旋拧在泄压孔1
‑
3内壁，窄部设置有环形磁铁1
‑5‑
2，窄部侧壁套有螺纹，所述上磁铁固定端1
‑5‑
3内壁攻有螺纹，用于旋拧在接触端1
‑5‑
1窄部侧壁，接触端1
‑5‑
1宽部下方与上磁铁固定端1
‑5‑
3上方将环形磁铁1
‑5‑
2固定；所述泄压孔1
‑
3内壁还旋拧有阀门件1
‑
4，所述阀门件1
‑
4包括截面为倒t形、中间具有上窄下宽阶梯通孔的连接件1
‑4‑
1，所述连接件1
‑4‑
1窄部侧壁套有螺纹，用于旋拧在泄压孔1
‑
3内壁，所述阶梯通孔的宽部放置有圆形磁铁1
‑4‑
2，所述圆形磁铁1
‑4‑
2上方粘贴有密封垫1
‑4‑
3，侧壁设置有豁口，底部设置有豁口，侧壁豁口和底部豁口相连，阶梯通孔的宽部内壁攻有螺纹，并旋拧有中间具有通孔的遮挡环1
‑4‑
4，圆形磁铁1
‑4‑
2在环形磁铁1
‑5‑
2的吸引和压缩空气的推动下，能够在遮挡环1
‑4‑
4上方上下运动；泄压孔1
‑
3、阀门件1
‑
4和调整件1
‑
5之间的连接关系如图2和图3所示，其中，图2是泄压孔1
‑
3不工作时各相关零部件之间的位置关系示意图，图3是泄压孔1
‑
3工作时各相关零部件之间的位置关系示意图。
45.具体实施例八以下是一种功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的安装方法的具体实施例。
46.功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的安装方法，包括以下步骤：步骤a、将调整件1
‑
5倒置，将环形磁铁1
‑5‑
2套在接触端1
‑5‑
1上，并旋拧上磁铁固定端1
‑5‑
3，将环形磁铁1
‑5‑
2固定；步骤b、将调整件1
‑
5正置，调整件1
‑
5的接触端1
‑5‑
1旋拧入泄压孔1
‑
3中；步骤c、将阀门件1
‑
4倒置，将下方粘贴有密封垫1
‑4‑
3的圆形磁铁1
‑4‑
2放入阀门件1
‑
4的阶梯通孔中；步骤d、将遮挡环1
‑4‑
4安装在阀门件1
‑
4的阶梯通孔中；步骤e、将阀门件1
‑
4正置，将阀门件1
‑
4的连接件1
‑4‑
1旋拧入泄压孔1
‑
3中。
47.具体实施例九以下是一种功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的标定方法的具体实施例。
48.功率器件测试探针卡用磁力式泄压结构的标定方法，包括以下步骤：步骤a、标定环形磁铁1
‑5‑
2与圆形磁铁1
‑4‑
2之间磁力和距离之间的关系；步骤b、设定高温高压气体压强阈值；步骤c、测量圆形磁铁1
‑4‑
2和密封垫1
‑4‑
3的质量和；其中，步骤a、步骤b和步骤c能够按照任意先后顺序或同步进行；步骤d、用压缩空气压强阈值乘以连接件1
‑4‑
1阶梯瞳孔中上部通孔横截面积，再加上圆形磁铁1
‑4‑
2和密封垫1
‑4‑
3的质量和乘以重力加速度；步骤e、令磁力等于步骤d计算得到的结果；步骤f、根据步骤a标定的磁力和距离之间的关系，再根据步骤e得到的计算结果，得到环形磁铁1
‑5‑
2与圆形磁铁1
‑4‑
2之间距离；步骤g、将调整件1
‑
5倒置，将环形磁铁1
‑5‑
2套在接触端1
‑5‑
1上，并旋拧上磁铁固定端1
‑5‑
3，将环形磁铁1
‑5‑
2固定；步骤h、将调整件1
‑
5正置，调整件1
‑
5的接触端1
‑5‑
1旋拧入泄压孔1
‑
3中，具体位置为：连接件1
‑4‑
1到泄压孔1
‑
3下端面的距离为步骤f所述环形磁铁1
‑5‑
2与圆形磁铁1
‑4‑
2之间距离减去密封垫1
‑4‑
3的厚度，再减去泄压孔1
‑
3下端面到连接件1
‑4‑
1阶梯位置的距离，再加上环形磁铁1
‑5‑
2的厚度，再加上环形磁铁1
‑5‑
2上端面到接触端1
‑5‑
1上端面的距离。