混合型EMI滤波器共模插入损耗的测试方法及相关设备与流程

混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法及相关设备
技术领域
1.本技术涉及emi滤波器技术领域，尤其涉及一种混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法及相关设备。


背景技术：

2.目前功率变换器正朝着小型化、高频化、高功率密度化的方向发展，功率变换器为了通过严苛的电磁兼容标准通常装有电磁干扰emi(electromagnetic interference)滤波器。然而，emi滤波器在低频段的插入损耗一般远小于其在中高频段的插入损耗，为了提升低频段的插入损耗，通常增大滤波电感和滤波电容的值，导致电感和电容的体积也比较大。因此，emi滤波器件的体积已成为制约其高功率密度化的瓶颈之一。
3.有源emi滤波器基于有源补偿的原理，通过注入一个与干扰信号幅值相等、相位相反的补偿信号，来抵消电路中的电磁干扰，从而降低emi。有源emi滤波器不需要使用大电感，在中低频率段可以提供较大的插入损耗。混合型emi滤波器由无源和有源emi滤波器组成，可以结合有源和无源emi滤波器的优点，在全频段可以提供较大的插入损耗，其应用也越来越广。混合emi滤波器的插入损耗不是无源和有源emi滤波器插入损耗的简单相加，在混合型emi滤波器设计或选型时，需要对混合型emi滤波器的插入损耗进行评估，但是目前评估的方式不够精确，因而设计或选择合适且有效的emi滤波器较为困难。


技术实现要素：

4.有鉴于此，本技术的目的在于提出一种混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法及相关设备。
5.基于上述目的，本技术提供了一种混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法，所述混合型emi滤波器包括有源emi滤波器和无源emi滤波器，所述无源emi滤波器的输入端与等效干扰源连接，所述无源emi滤波器的输出端与所述有源emi滤波器的输入端连接，所述有源emi滤波器的输出端与负载连接，包括：
6.搭建所述有源emi滤波器在开环状态时的等效电路，通过向所述有源emi滤波器的输入端注入信号，获取所述有源emi滤波器的在预设频率范围内的各频率点的开环增益；
7.获取所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗和输出阻抗；
8.通过将所述无源emi滤波器的输入相线和输出相线分别进行短接，将所述无源emi滤波器转换为二端口网络，通过测试得到所述无源emi滤波器的阻抗矩阵；
9.搭建所述有源emi滤波器在闭环状态时的等效电路，基于所述阻抗矩阵和所述混合型emi滤波器的等效源阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的源阻抗，基于所述开环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、负载阻抗、所述输入阻抗和所述输出阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的闭环增益；
10.基于所述有源emi滤波器的闭环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、所述负载阻抗和所述输入阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的插入损耗；
11.对所述有源emi滤波器进行等效阻抗变换，将所述有源emi滤波器和所述负载等效为所述无源emi滤波器的负载阻抗，基于所述输入阻抗、所述有源emi滤波器的闭环增益和所述负载阻抗，通过计算得到所述无源emi滤波器的负载阻抗；
12.基于所述混合emi滤波器的的等效源阻抗、所述无源emi滤波器的负载阻抗和所述阻抗矩阵，通过计算得到所述无源emi滤波器的插入损耗；
13.基于所述有源emi滤波器的插入损耗和所述无源emi滤波器的插入损耗通过计算得到所述混合emi滤波器的插入损耗。
14.进一步的，所述搭建所述有源emi滤波器在开环状态时的等效电路，通过向所述有源emi滤波器的输入端注入信号，获取所述有源emi滤波器在预设频率范围内的各频率点的开环增益，包括：
15.通过信号发生器向所述有源emi滤波器的输入端注入单一频率的正弦波信号，在所述有源emi滤波器的输出端连接50ω电阻，采用示波器或频谱仪分别对所述有源emi滤波器的输入端和输出端的电流进行检测，得到所述输入端的电流和所述输出端的电流；
16.基于所述输入端的电流和所述输出端的电流之间的幅值比和相位差，通过计算得到所述有源emi滤波器在所述单一频率的增益；
17.在所述预设频率范围内转换所述信号发生器输出的所述正弦波信号的频率，分别测试并计算所述有源emi滤波器在所述预设频率范围内的每一个频率点下的增益，将所述预设频率范围内的全部频率点对应的所有增益作为在该所述预设频率范围内的所述有源emi滤波器的开环增益。
18.进一步的，所述预设频率范围为150khz-30mhz。
19.进一步的，获取所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗和输出阻抗，包括：
20.将阻抗分析仪与所述有源emi滤波器的输入端连接，通过测试获得所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗；
21.将阻抗分析仪与所述有源emi滤波器的输出端连接，通过测试获得所述有源emi滤波器在离线状态时的输出阻抗。
22.进一步的，所述通过将所述无源emi滤波器的输入相线和输出相线分别进行短接，将所述无源emi滤波器转换为二端口网络，通过测试得到所述无源emi滤波器的阻抗矩阵，包括：
23.将所述输入相线与地线组成输入端口，将所述输出相线与地线组成输出端口，采用矢量网络分析仪测试所述无源emi滤波器的z阻抗参数z
11
、z
12
、z
21
、z
22
，所述z阻抗参数满足如下关系：
24.u1＝z
11
·
i1+z
12
·
i225.u2＝z
21
·
i1+z
22
·
i226.其中，u1为所述输入端口的电压，u2为所述输出端口的电压，i1为所述输入端口的电流，i2为所述输出端口的电流。
27.进一步的，所述有源emi滤波器的源阻抗表示为
[0028][0029]
其中，z
11
、z
12
、z
21
、z
22
为阻抗矩阵参数，zs为所述混合型emi滤波器的等效源阻抗。
[0030]
进一步的，所述无源emi滤波器的负载阻抗表示为
[0031][0032]
其中，z
′
l
表示所述无源emi滤波器的负载阻抗，z
l
表示所述负载阻抗，zi表示所述输入阻抗，g1表示所述有源emi滤波器的闭环增益。
[0033]
基于同一发明构思，本技术还提供了一种混合型emi滤波器共模插入损耗的测试装置，所述混合型emi滤波器包括有源emi滤波器和无源emi滤波器，所述无源emi滤波器的输入端与等效干扰源连接，所述无源emi滤波器的输出端与所述有源emi滤波器的输入端连接，所述有源emi滤波器的输出端与负载连接，包括：
[0034]
开环增益测试模块，被配置为搭建所述有源emi滤波器在开环状态时的等效电路，通过向所述有源emi滤波器的输入端注入信号，获取所述有源emi滤波器的在预设频率范围内的各频率点的开环增益；
[0035]
离线阻抗测试模块，被配置为获取所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗和输出阻抗；
[0036]
阻抗矩阵参数确定模块，被配置为通过将所述无源emi滤波器的输入相线和输出相线分别进行短接，将所述无源emi滤波器转换为二端口网络，通过测试得到所述无源emi滤波器的阻抗矩阵；
[0037]
闭环增益计算模块，被配置为搭建所述有源emi滤波器在闭环状态时的等效电路，基于所述阻抗矩阵和所述混合型emi滤波器的等效源阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的源阻抗，基于所述开环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、负载阻抗、所述输入阻抗和所述输出阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的闭环增益；
[0038]
有源emi滤波器插入损耗确定模块，被配置为基于所述有源emi滤波器的闭环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、所述负载阻抗和所述输入阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的插入损耗；
[0039]
负载阻抗确定模块，被配置为对所述有源emi滤波器进行等效阻抗变换，将所述有源emi滤波器和所述负载等效为所述无源emi滤波器的负载阻抗，基于所述输入阻抗、所述有源emi滤波器的闭环增益和所述负载阻抗，通过计算得到所述无源emi滤波器的负载阻抗；
[0040]
无源emi滤波器插入损耗确定模块，被配置为基于所述混合emi滤波器的的等效源阻抗、所述无源emi滤波器的负载阻抗和所述阻抗矩阵，通过计算得到所述无源emi滤波器的插入损耗；
[0041]
混合emi滤波器插入损耗确定模块，被配置为基于所述有源emi滤波器的插入损耗和所述无源emi滤波器的插入损耗通过计算得到所述混合emi滤波器的插入损耗。
[0042]
基于同一发明构思，本技术还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器在执行所述计算机程序时实现如上所述的方法。
[0043]
基于同一发明构思，本技术还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如上所述的方法。
[0044]
从上面所述可以看出，本技术提供的混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法及相关设备，采用测试与理论计算相结合的方法，分别测试计算得到有源emi滤波器的插入损耗和无源emi滤波器的插入损耗，从而获得混合型emi滤波器的插入损耗，实现了混合型emi滤波器共模插入损耗的准确测量和评估。本技术充分考虑了有源emi滤波器中采样环节对主回路的影响以及无源emi滤波器对有源emi滤波器的影响，使得计算得到的插入损耗更贴合实际。同时，本技术等效建立了混合型emi滤波器的仿真模型，适用于指导混合型emi滤波器的设计。
附图说明
[0045]
为了更清楚地说明本技术或相关技术中的技术方案，下面将对实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0046]
图1为本技术实施例的混合emi滤波器结构示意图；
[0047]
图2为本技术实施例的混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法的流程示意图；
[0048]
图3为本技术实施例的有源emi滤波器开环状态等效电路图；
[0049]
图4为本技术实施例的有源emi滤波器输入阻抗测试线路图；
[0050]
图5为本技术实施例的有源emi滤波器输出阻抗测试线路图；
[0051]
图6为本技术实施例的有源emi滤波器闭环状态等效电路图；
[0052]
图7为本技术实施例的有源emi滤波器等效阻抗变换电路图；
[0053]
图8为本技术实施例的无源emi滤波器等效电路图；
[0054]
图9为本技术实施例的混合型emi滤波器共模插入损耗的测试装置的结构示意图；
[0055]
图10为本技术实施例的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0056]
为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本技术进一步详细说明。
[0057]
需要说明的是，除非另外定义，本技术实施例使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本技术实施例中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。“连接”或者“相连”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电性的连接，不管是直接的还是间接的。“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
[0058]
以下结合附图来详细说明本技术的实施例。
[0059]
本技术提供了一种混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法，参考图1，所述混合型emi滤波器包括有源emi滤波器和无源emi滤波器，所述无源emi滤波器的输入端与等效干扰源连接，所述无源emi滤波器的输出端与所述有源emi滤波器的输入端连接，所述有源
emi滤波器的输出端与负载连接，图1中的us表示等效干扰源，zs表示等效源阻抗，z
l
表示等效负载阻抗，无源emi滤波器和有源emi滤波器组合使用时，无源emi滤波器和有源emi滤波器的阻抗会相互耦合，一方面，无源emi滤波器影响了有源emi滤波器的源阻抗，另一方面，有源emi滤波器等效为无源emi滤波器的负载，因此，混合emi滤波器的插入损耗并不是无源emi滤波器和有源emi滤波器插入损耗的简单相加。本实施例中以电流采样电流检测型有源emi滤波器为例进行说明，参考图2，该方法包括以下几个步骤：
[0060]
步骤s101、搭建所述有源emi滤波器在开环状态时的等效电路，通过向所述有源emi滤波器的输入端注入信号，获取所述有源emi滤波器的在预设频率范围内的各频率点的开环增益。
[0061]
具体的，参考图3为有源emi滤波器开环增益测试系统，有源emi滤波器通常由采样环节、放大环节和注入环节组成。有源emi滤波器的电源正接口v
cc
和电源负接口v
ee
分别接相应的正、负直流电源，有源emi滤波器采样环节(输入端)接信号发生器，注入环节(输出端)接标准50ω电阻，zr为采样电阻，c
inj
为注入电容，a为运算放大器。通过信号发生器向测试系统输入信号，再通过示波器配合电流钳采集采样环节和注入环节中的电流，进而计算获得有源emi滤波器的开环增益。
[0062]
步骤s102、获取所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗和输出阻抗。
[0063]
具体的，有源emi滤波器在采样主电路中的共模电流时，相当于在主电路中接入了一个电流传感器，该电流传感器对主电路会有一定的影响。另外，有源emi滤波器的注入电路在不同主电路特性情况下，注入的效果也不同。因此，需要考虑有源emi滤波器采样电路(输入端)和注入电路(输出端)的实际特性。本实施例中，在有源emi滤波器断电的情况下，测试有源emi滤波器的输入阻抗和输出阻抗。
[0064]
步骤s103、通过将所述无源emi滤波器的输入相线和输出相线分别进行短接，将所述无源emi滤波器转换为二端口网络，通过测试得到所述无源emi滤波器的阻抗矩阵。
[0065]
具体的，将所述输入相线与地线组成输入端口，将所述输出相线与地线组成输出端口，采用矢量网络分析仪测试所述无源emi滤波器的z阻抗参数z
11
、z
12
、z
21
、z
22
，所述z阻抗参数满足如下关系：
[0066]
u1＝z
11
·
i1+z
12
·
i2ꢀꢀꢀ
(1)
[0067]
u2＝z
21
·
i1+z
22
·
i2ꢀꢀꢀ
(2)其中，u1为所述输入端口的电压，u2为所述输出端口的电压，i1为所述输入端口的电流，i2为所述输出端口的电流。
[0068]
步骤s104、搭建所述有源emi滤波器在闭环状态时的等效电路，基于所述阻抗矩阵和所述混合型emi滤波器的等效源阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的源阻抗，基于所述开环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、负载阻抗、所述输入阻抗和所述输出阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的闭环增益。
[0069]
具体的，当无源emi滤波器与有源emi滤波器组成混合emi滤波器时，无源emi滤波器也会对有源emi滤波器的注入效率产生影响，即有源emi滤波器的闭环增益与开环增益不同。闭环情况时有源emi滤波器的等效电路如图6所示，图中zs′
表示干扰源等效阻抗和无源emi滤波器的端口等效阻抗，也即有源emi滤波器的源阻抗，zi表示输入阻抗，z
l
表示负载阻抗。采样电流i0输入，经过电流控制的电流源后，输出的电流变为g1·
i0，g1表示有源emi滤
波器的闭环增益。
[0070]
在一些实施例中，所述有源emi滤波器的源阻抗表示为
[0071][0072]
其中，z
11
、z
12
、z
21
、z
22
表示阻抗矩阵参数，zs表示所述混合型emi滤波器的等效源阻抗。经公式(3)推导出有源emi滤波器的闭环增益g1为
[0073][0074]
在其中，z
inj
表示输出阻抗，z
l
表示所述负载阻抗，zi表示所述输入阻抗，g表示有源emi滤波器的开环增益。
[0075]
在其他实施例中，有源emi滤波器的输入阻抗zi很小，电流采样电流注入型有源emi滤波器的源阻抗zs′
远远大于负载阻抗z
l
，其闭环增益g1约等于开环增益g。
[0076]
步骤s105、基于所述有源emi滤波器的闭环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、所述负载阻抗和所述输入阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的插入损耗。
[0077]
具体的，干扰源经无源emi滤波器后接有源emi滤波器，对于有源emi滤波器而言，无源emi滤波器可以等效为有源emi滤波器的源阻抗。因此，可以得到有源emi滤波器的实际插入损耗il
aef
为
[0078][0079]
其中，z
l
表示所述负载阻抗，zi表示所述输入阻抗，g1表示有源emi滤波器的闭环增益，zs′
表示有源emi滤波器的源阻抗。上述有源emi滤波器的实际插入损耗il
aef
的计算考虑了有源emi滤波器输入阻抗zi对插入损耗的影响、有源emi滤波器的源阻抗zs′
的变化、闭环增益g1的测量和计算。
[0080]
步骤s106、对所述有源emi滤波器进行等效阻抗变换，将所述有源emi滤波器和所述负载等效为所述无源emi滤波器的负载阻抗，基于所述输入阻抗、所述有源emi滤波器的闭环增益和所述负载阻抗，通过计算得到所述无源emi滤波器的负载阻抗。
[0081]
具体的，如图7所示为有源emi滤波器的等效阻抗电路，有源emi滤波器接在无源emi滤波器的输出端，对于无源emi滤波器而言，有源emi滤波器可以等效为无源emi滤波器的负载阻抗，另外有源emi滤波器采样电路对主电压的影响可以等效为串联了采样电阻。基于端口等效的思想，对有源emi滤波器进行等效阻抗变换，从干扰源侧进行等效，将有源emi滤波器和原负载等效为无源emi滤波器的负载阻抗，可以推导出无源emi滤波器的等效负载阻抗。
[0082]
在一些实施例中，所述无源emi滤波器的负载阻抗表示为
[0083][0084]
其中，z
′
l
表示所述无源emi滤波器的负载阻抗，z
l
表示所述负载阻抗，zi表示所述输入阻抗，g1表示所述有源emi滤波器的闭环增益。
[0085]
步骤s107、基于所述混合emi滤波器的的等效源阻抗、所述无源emi滤波器的负载阻抗和所述阻抗矩阵，通过计算得到所述无源emi滤波器的插入损耗。
[0086]
具体的，无源emi滤波器接入后的等效电路如图8所示，图中z
′
l
为有源emi滤波器和负载的等效阻抗，也即无源emi滤波器的负载阻抗。基于公式(1)、公式(2)、基尔霍夫电压定律、基尔霍夫电流定律，可以推导出无源emi滤波器插入损耗il
pef
的表达式为
[0087][0088]
其中，z
11
、z
12
、z
21
、z
22
为阻抗矩阵参数，zs为所述混合型emi滤波器的等效源阻抗。
[0089]
步骤s108、基于所述有源emi滤波器的插入损耗和所述无源emi滤波器的插入损耗通过计算得到所述混合emi滤波器的插入损耗。
[0090]
具体的，结合公式(5)和公式(7)，可以得到混合型emi滤波器的插入损耗il
[0091]
il＝il
aef
+il
pef
ꢀꢀꢀ
(8)其中，il
aef
表示有源emi滤波器的实际插入损耗，il
pef
表示无源emi滤波器插入损耗。
[0092]
在一些实施例中，所述搭建所述有源emi滤波器在开环状态时的等效电路，通过向所述有源emi滤波器的输入端注入信号，获取所述有源emi滤波器的在预设频率范围内的各频率点的开环增益，包括：
[0093]
通过信号发生器向所述有源emi滤波器的输入端注入单一频率的正弦波信号，在所述有源emi滤波器的输出端连接50ω电阻，采用示波器或频谱仪分别对所述有源emi滤波器的输入端和输出端的电流进行检测，得到所述输入端的电流和所述输出端的电流；
[0094]
基于所述输入端的电流和所述输出端的电流之间的幅值比和相位差，通过计算得到所述有源emi滤波器在所述单一频率的增益；
[0095]
在所述预设频率范围内转换所述信号发生器输出的所述正弦波信号的频率，分别测试并计算所述有源emi滤波器在所述预设频率范围内的每一个频率点下的增益，将所述预设频率范围内的全部频率点对应的所有增益作为在该所述预设频率范围内的所述有源emi滤波器的开环增益，开环增益即为g。
[0096]
在一些实施例中，所述预设频率范围为150khz-30mhz。
[0097]
在其他实施例中，预设频率范围可以根据实际情况进行调整，数据范围不做具体的限制。
[0098]
在一些实施例中，获取所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗和输出阻抗，包括：将阻抗分析仪与所述有源emi滤波器的输入端连接，通过测试获得所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗；将阻抗分析仪与所述有源emi滤波器的输出端连接，通过测试获得所述有源emi滤波器在离线状态时的输出阻抗。
[0099]
具体的，如图4所示，测试输入阻抗时，将阻抗分析仪与有源emi滤波器的输入端连接，测试结果记为zi。如图5所示，测试输出阻抗时，将阻抗分析仪与有源emi滤波器的输出端连接，测试结果记为z
inj
。
[0100]
需要说明的是，本技术实施例的方法可以由单个设备执行，例如一台计算机或服务器等。本实施例的方法也可以应用于分布式场景下，由多台设备相互配合来完成。在这种分布式场景的情况下，这多台设备中的一台设备可以只执行本技术实施例的方法中的某一
个或多个步骤，这多台设备相互之间会进行交互以完成所述的方法。
[0101]
需要说明的是，上述对本技术的一些实施例进行了描述。其它实施例在所附权利要求书的范围内。在一些情况下，在权利要求书中记载的动作或步骤可以按照不同于上述实施例中的顺序来执行并且仍然可以实现期望的结果。另外，在附图中描绘的过程不一定要求示出的特定顺序或者连续顺序才能实现期望的结果。在某些实施方式中，多任务处理和并行处理也是可以的或者可能是有利的。
[0102]
基于同一发明构思，与上述任意实施例方法相对应的，本技术还提供了一种混合型emi滤波器共模插入损耗的测试装置。
[0103]
参考图9，所述混合型emi滤波器共模插入损耗的测试装置，所述混合型emi滤波器包括有源emi滤波器和无源emi滤波器，所述无源emi滤波器的输入端与等效干扰源连接，所述无源emi滤波器的输出端与所述有源emi滤波器的输入端连接，所述有源emi滤波器的输出端与负载连接，包括：
[0104]
开环增益测试模块901，被配置为搭建所述有源emi滤波器在开环状态时的等效电路，通过向所述有源emi滤波器的输入端注入信号，获取所述有源emi滤波器的在预设频率范围内的各频率点的开环增益；
[0105]
离线阻抗测试模块902，被配置为获取所述有源emi滤波器在离线状态时的输入阻抗和输出阻抗；
[0106]
阻抗矩阵参数确定模块903，被配置为通过将所述无源emi滤波器的输入相线和输出相线分别进行短接，将所述无源emi滤波器转换为二端口网络，通过测试得到所述无源emi滤波器的阻抗矩阵；
[0107]
闭环增益计算模块904，被配置为搭建所述有源emi滤波器在闭环状态时的等效电路，基于所述阻抗矩阵和所述混合型emi滤波器的等效源阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的源阻抗，基于所述开环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、负载阻抗、所述输入阻抗和所述输出阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的闭环增益；
[0108]
有源emi滤波器插入损耗确定模块905，被配置为基于所述有源emi滤波器的闭环增益、所述有源emi滤波器的源阻抗、所述负载阻抗和所述输入阻抗，通过计算得到所述有源emi滤波器的插入损耗；
[0109]
负载阻抗确定模块906，被配置为对所述有源emi滤波器进行等效阻抗变换，将所述有源emi滤波器和所述负载等效为所述无源emi滤波器的负载阻抗，基于所述输入阻抗、所述有源emi滤波器的闭环增益和所述负载阻抗，通过计算得到所述无源emi滤波器的负载阻抗；
[0110]
无源emi滤波器插入损耗确定模块907，被配置为基于所述混合emi滤波器的的等效源阻抗、所述无源emi滤波器的负载阻抗和所述阻抗矩阵，通过计算得到所述无源emi滤波器的插入损耗；
[0111]
混合emi滤波器插入损耗确定模块908，被配置为基于所述有源emi滤波器的插入损耗和所述无源emi滤波器的插入损耗通过计算得到所述混合emi滤波器的插入损耗。
[0112]
为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种模块分别描述。当然，在实施本技术时可以把各模块的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。
[0113]
上述实施例的装置用于实现前述任一实施例中相应的混合型emi滤波器共模插入
损耗的测试方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。
[0114]
基于同一发明构思，与上述任意实施例方法相对应的，本技术还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上任意一实施例所述的混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法。
[0115]
图10示出了本实施例所提供的一种更为具体的电子设备硬件结构示意图，该设备可以包括：处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030、通信接口1040和总线1050。其中处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030和通信接口1040通过总线1050实现彼此之间在设备内部的通信连接。
[0116]
处理器1010可以采用通用的cpu(central processing unit，中央处理器)、微处理器、应用专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、或者一个或多个集成电路等方式实现，用于执行相关程序，以实现本说明书实施例所提供的技术方案。
[0117]
存储器1020可以采用rom(read only memory，只读存储器)、ram(random access memory，随机存取存储器)、静态存储设备，动态存储设备等形式实现。存储器1020可以存储操作系统和其他应用程序，在通过软件或者固件来实现本说明书实施例所提供的技术方案时，相关的程序代码保存在存储器1020中，并由处理器1010来调用执行。
[0118]
输入/输出接口1030用于连接输入/输出模块，以实现信息输入及输出。输入/输出模块可以作为组件配置在设备中(图中未示出)，也可以外接于设备以提供相应功能。其中输入设备可以包括键盘、鼠标、触摸屏、麦克风、各类传感器等，输出设备可以包括显示器、扬声器、振动器、指示灯等。
[0119]
通信接口1040用于连接通信模块(图中未示出)，以实现本设备与其他设备的通信交互。其中通信模块可以通过有线方式(例如usb、网线等)实现通信，也可以通过无线方式(例如移动网络、wifi、蓝牙等)实现通信。
[0120]
总线1050包括一通路，在设备的各个组件(例如处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030和通信接口1040)之间传输信息。
[0121]
需要说明的是，尽管上述设备仅示出了处理器1010、存储器1020、输入/输出接口1030、通信接口1040以及总线1050，但是在具体实施过程中，该设备还可以包括实现正常运行所必需的其他组件。此外，本领域的技术人员可以理解的是，上述设备中也可以仅包含实现本说明书实施例方案所必需的组件，而不必包含图中所示的全部组件。
[0122]
上述实施例的电子设备用于实现前述任一实施例中相应的混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。
[0123]
基于同一发明构思，与上述任意实施例方法相对应的，本技术还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如上任一实施例所述的混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法。
[0124]
本实施例的计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(pram)、静态随机存取存储器
(sram)、动态随机存取存储器(dram)、其他类型的随机存取存储器(ram)、只读存储器(rom)、电可擦除可编程只读存储器(eeprom)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(cd-rom)、数字多功能光盘(dvd)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。
[0125]
上述实施例的存储介质存储的计算机指令用于使所述计算机执行如上任一实施例所述的混合型emi滤波器共模插入损耗的测试方法，并且具有相应的方法实施例的有益效果，在此不再赘述。
[0126]
所属领域的普通技术人员应当理解：以上任何实施例的讨论仅为示例性的，并非旨在暗示本技术的范围(包括权利要求)被限于这些例子；在本技术的思路下，以上实施例或者不同实施例中的技术特征之间也可以进行组合，步骤可以以任意顺序实现，并存在如上所述的本技术实施例的不同方面的许多其它变化，为了简明它们没有在细节中提供。
[0127]
另外，为简化说明和讨论，并且为了不会使本技术实施例难以理解，在所提供的附图中可以示出或可以不示出与集成电路(ic)芯片和其它部件的公知的电源/接地连接。此外，可以以框图的形式示出装置，以便避免使本技术实施例难以理解，并且这也考虑了以下事实，即关于这些框图装置的实施方式的细节是高度取决于将要实施本技术实施例的平台的(即，这些细节应当完全处于本领域技术人员的理解范围内)。在阐述了具体细节(例如，电路)以描述本技术的示例性实施例的情况下，对本领域技术人员来说显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下或者这些具体细节有变化的情况下实施本技术实施例。因此，这些描述应被认为是说明性的而不是限制性的。
[0128]
尽管已经结合了本技术的具体实施例对本技术进行了描述，但是根据前面的描述，这些实施例的很多替换、修改和变型对本领域普通技术人员来说将是显而易见的。例如，其它存储器架构(例如，动态ram(dram))可以使用所讨论的实施例。
[0129]
本技术实施例旨在涵盖落入所附权利要求的宽泛范围之内的所有这样的替换、修改和变型。因此，凡在本技术实施例的精神和原则之内，所做的任何省略、修改、等同替换、改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。