半导体制冷片温差测试装置的制作方法

文档序号:28361278发布日期:2022-01-05 12:43阅读:161来源:国知局
半导体制冷片温差测试装置的制作方法

1.本实用新型涉及半导体制冷片技术领域,特别涉及半导体制冷片温差测试装置。


背景技术:

2.半导体制冷片是一种由半导体所组成的一种冷却装置,利用半导体材料的特性,当直流电通过两种不同半导体材料串联成的电偶时,在电偶的两端分别吸收热量和放出热量实现制冷的目的,半导体制冷片的体积通常比较小巧,可靠性比较高,可以应用在空间受到限制的场所。
3.现有技术的半导体制冷片,在产品出厂前需要对其进行温差检测,当半导体制冷片上的温差不在预设阈值内时,即判断产品不合格,现有的半导体温差检测装置,检测时,先在半导体制冷片的正极接片和负极接片上焊接两根导线,然后通电,使半导体制冷片工作,再通过温度检测元件检测温差。在进行检测的过程中,半导体制冷片的热面的温度会一直上升,半导体制冷片热面的温度变化,无法保证半导体制冷片在恒温下进行测试,温差测试的准确率低,测试环境的稳定性和统一性差。


技术实现要素:

4.为此,需要提供一种半导体制冷片温差测试装置,解决了半导体制冷片热面的温度无法保持恒温的问题,提高温差测试的准确率。
5.为实现上述目的,本实用新型提供了一种半导体制冷片温差测试装置,包括工作台、两个限位板、底板、温差测试仪、恒温器和半导体制冷片;所述底板固定在工作台上,所述恒温器固定在底板上,两个所述限位板相对固定在底板两侧,所述限位板竖直设置,两个所述限位板相对的一侧均设置有卡槽,所述半导体制冷片安装在卡槽内,所述半导体制冷片的上表面为冷面,下表面为热面,所述半导体制冷片位于恒温器上面,所述半导体制冷片的热面与所述恒温器的上表面贴合;温差测试仪包括温度检测器、支架和两个导电片;所述支架固定在其中一个限位板顶面,所述温度检测器固定在支架上,所述温度检测器位于半导体制冷片的上方;所述温度检测器与半导体制冷片的冷面相贴合;所述工作台在限位板的一侧边固定有绝缘板,所述导电片固定在绝缘板上,两个所述导电片分别连接半导体制冷片的正负极,所述导电片给半导体制冷片通电,通过恒温器对半导体制冷片的热面进行恒温,保证半导体制冷片在测试过程中保证热面达到恒温状态,不会受到温度的影响,提高温差测试的准确率,通过导电片给半导体制冷片通电,不需要半导体制冷片焊接导线,简化测量工序,提高测量工作效率。
6.进一步的,所述恒温器包括温度传感器、壳体和设置在壳体内的散热器、微处理器和数字温控器,所述温度传感器设置在壳体上表面,所述温度传感器与半导体制冷片的热面贴合,所述散热器、温度传感器和数字温控器均与微处理器电性连接,通过微处理器控制,保证温度恒定,波动范围小,节能并提高控温精度,通过散热器保证半导体制冷片的热面保持恒温状态。
7.进一步的,所述温差测试仪还包括电源处理器、多个反馈导线和温度显示器;所述电源处理器固定在工作台一侧,所述温度显示器固定在电源处理器的侧边上;所述微处理器、温度测试器、温度显示器和导电片均通过反馈导线与电源处理器连接,反馈导线反馈半导体制冷片的温差变化情况,温度显示器显示温度,电源处理器通电和处理数据,保证每个数据及时反馈和记录,保证温差测试的准确率。
8.进一步的,所述导电片的一端设有接线器,所述导电片与反馈导线通过接线器连接,连接时保证导电片与反馈导线能连接稳定,不会断连,安装方便,使用时电源处理器通过反馈导线向导电片通电,保证电流的稳定。
9.进一步的,所述导电片上套设有绝缘套,保证测试过程的安全性,避免接触不良导致短路。
10.进一步的,所述支架包括固定杆、旋转杆和万向旋转接头,所述固定杆竖直固定在限位板上面,所述旋转杆的一端通过万向旋转接头与固定杆连接,温度检测器固定在旋转杆的另一端上,通过万向旋转接头可调节旋转杆的位置,测试时可以根据要求调节温度检测器的测量距离和高度,测量半导体制冷片不同位置的温度,提高测试的准确率。
11.进一步的,所述限位槽内设置有弹性隔热垫,所述半导体制冷片安装在弹性隔热垫上,所述弹性隔热垫为泡沫塑料片,弹性隔热垫富有弹性,保证半导体制冷片的稳定,降低了导热速率,提高检测准确率。
12.进一步的,所述工作台上固定有风扇,所述风扇朝向恒温器设置,抑制测试过程的升温,提升测试环境的稳定性和统一性。
13.区别于现有技术,上述技术方案具有以下有益效果:通过恒温器对半导体制冷片的热面进行恒温,保证半导体制冷片在测试过程中半导体制冷片的热面不会受到温度变化的影响,提高温差测试的准确率,通过导电片给半导体制冷片通电,不需要半导体制冷片焊接导线,简化测量工序,提高测量工作效率。
附图说明
14.图1为具体实施方式所述的整体主视图;
15.图2为图1中a部分的放大图;
16.图3为图1中b部分的放大图;
17.图4为具体实施方式所述的整体俯视图;
18.图5为具体实施方式所述的恒温器的整体图;
19.图6为具体实施方式所述的恒温器的电路图。
20.附图标记说明:
21.1、工作台,101、绝缘板,2、底板,3、限位板,301、卡槽,302、弹性隔热垫,4、恒温器,401、温度传感器,402、壳体,403、数字温控器,404、微处理器,405、散热器,5、半导体制冷片,501、冷面,502、热面,6、温差测试仪,601、支架,6011、固定杆,6012旋转杆,6013、万向旋转接头,602、温度检测器,603、导电片,6031、接线器,6032、绝缘套,604、电源处理器,605、温度显示器,606、反馈导线,7、风扇。
具体实施方式
22.为详细说明技术方案的技术内容、构造特征、所实现目的及效果,以下结合具体实施例并配合附图详予说明。
23.请参阅图1

6,本实施例公开一种半导体制冷片温差测试装置,包括工作台1、两个限位板3、底板2、恒温器4、半导体制冷片5和温差测试仪6;底板2固定在工作台1上,恒温器4固定在底板2上,两个限位板3相对固定在底板2两侧,限位板3竖直设置,两个限位板3相对的一侧均设置有卡槽301,半导体制冷片5安装在卡槽301内,半导体制冷片5的上表面为冷面501,下表面为热面502,如图2所示,限位槽内设置有弹性隔热垫302,半导体制冷片5安装在弹性隔热垫302上,弹性隔热垫302为泡沫塑料片,半导体制冷片5位于恒温器4上面,半导体制冷片5的热面502与恒温器4的上表面贴合;温差测试仪6包括温度检测器602、支架601和两个导电片603;支架601固定在两个限位板3的其中一个限位板3的顶面,温度检测器602固定在支架601上,支架601包括固定杆6011、旋转杆6012和万向旋转接头6013,固定杆6011竖直固定在限位板3上面,旋转杆6012的一端通过万向旋转接头6013与固定杆6011连接,温度检测器602固定在旋转杆6012的另一端上,温度检测器602位于半导体制冷片5的上方;温度检测器602与半导体制冷片5的冷面501相贴合;工作台1在限位板3的一侧边固定有绝缘板101,导电片603固定在绝缘板101上,两个导电片603分别连接半导体制冷片5的正负极,导电片603给半导体制冷片5通电,通过恒温器4对半导体制冷片5的热面502进行恒温,保证半导体制冷片5在测试过程中热面502达到恒温状态,不受温度变化的影响,提高温差测试的准确率,通过导电片603给半导体制冷片5通电,不需要半导体制冷片5焊接导线,简化测量工序,提高测量工作效率,弹性隔热垫302富有弹性,保证半导体制冷片5的稳定,降低了导热速率,提高检测准确率,通过万向旋转接头6013可调节旋转杆6012的位置,测试时可以根据要求调节温度检测器602的测量距离和高度,测量半导体制冷片5不同位置的温度,提高测试的准确率。
24.如图5所示,恒温器4包括温度传感器401、壳体402和设置在壳体402内的散热器405、微处理器404和数字温控器403,如图3所示,温度传感器401设置在壳体402上表面,温度传感器401与半导体制冷片5的热面502贴合,如图6所示,散热器405、温度传感器401和数字温控器403均与微处理器404电性连接,通过微处理器404控制,保证温度恒定,波动范围小,节能并提高控温精度,通过散热器405保证半导体制冷片5的热面502保持恒温状态。
25.如图4所示,温差测试仪6还包括电源处理器604、多个反馈导线606和温度显示器605;电源处理器604固定在工作台1一侧,如图1所示,温度显示器605固定在电源处理器604的侧边上;微处理器404、温度测试器、温度显示器605和导电片603均通过反馈导线606与电源处理器604连接,反馈导线606反馈半导体制冷片5的温差变化情况,温度显示器605显示温度,电源处理器604通电和处理数据,保证每个数据及时反馈和记录,保证温差测试的准确率。
26.如图4所示,导电片603的一端设有接线器6031,导电片603与反馈导线606通过接线器6031连接,导电片603上套设有绝缘套6032,保证测试过程的安全性,避免接触不良导致短路,连接时保证导电片603与反馈导线606能连接稳定,不会断连,安装方便,使用时电源处理器604通过反馈导线606向导电片603通电,保证电流的稳定。
27.如图4所示,工作台1上固定有风扇7,风扇7朝向恒温器4设置,抑制测试过程的升
温,提升测试环境的稳定性和统一性。
28.测试时,将半导体制冷片5安装在限位板3的卡槽301中固定,半导体制冷片5的热面502在恒温器4上面,通过恒温器4对半导体制冷片5的热面502进行恒温,两个导电片603分别连接半导体制冷片5的正负极给半导体制冷片5通电,给半导体制冷片5恒定电流进行制冷,待半导体制冷片5的冷面501温度达到恒温,通过温度显示器605进行温差计算。
29.本实施例中,微处理器404的型号为mc68000fn12,温度传感器401的型号为ds18s20,恒温散热器405的型号为tzygl3

3,数字温控器403的型号为rkc xte

7000。
30.本实施例中通过恒温器4对半导体制冷片5的热面502进行恒温,保证半导体制冷片5在测试过程中不会受到环境温度的影响,提高温差测试的准确率,通过导电片603给半导体制冷片5通电,不需要半导体制冷片5焊接导线,简化测量工序,提高测量工作效率。
31.需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者终端设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者终端设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括
……”
或“包含
……”
限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者终端设备中还存在另外的要素。此外,在本文中,“大于”、“小于”、“超过”等理解为不包括本数;“以上”、“以下”、“以内”等理解为包括本数。
32.尽管已经对上述各实施例进行了描述,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例做出另外的变更和修改,所以以上所述仅为本实用新型的实施例,并非因此限制本实用新型的专利保护范围,凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本实用新型的专利保护范围之内。
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