技术特征：
1.一种用于校准分析仪的系统，所述系统包括：测试条带本体；在所述测试条带本体上的多个引线部；在所述测试条带本体上的电路，所述电路包括：与所述多个引线部中的至少第一部分互连的第一电阻器；与所述多个引线部中的至少第二部分互连的第二电阻器；其中，当所述测试条带本体被插入所述分析仪中时，所述电路被配置成提供模拟电化学测试条带的信号。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一电阻器与所述多个引线部中的工作电极引线部互连，所述工作电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供分析物信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述分析物信号是恒定的电阻。4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第二电阻器与所述多个引线部中的填充电极引线部互连，所述填充电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供填充电阻信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带。5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述填充电阻信号是恒定的电阻。6.一种用于校准分析仪的系统，所述系统包括：测试条带本体；在所述测试条带本体上的多个引线部；在所述测试条带本体上的电路，所述电路包括用于在所述测试条带被插入所述分析仪中时模拟电化学测试条带的电路系统。7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述电路系统包括：与所述多个引线部中的至少第一部分互连的第一电阻器；与所述多个引线部中的至少第二部分互连的第二电阻器。8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述第一电阻器与所述多个引线部中的工作电极引线部互连，所述工作电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供分析物信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带，并且所述第二电阻器与所述多个引线部中的填充电极引线部互连，所述填充电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供填充电阻信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带。9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述电路系统包括选自由电阻器和电容器组成的组的多个电器件。10.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述电路系统包括微处理器。11.根据权利要求10所述的系统，其特征在于，所述微处理器产生分析物信号和填充电阻信号。12.根据权利要求11所述的系统，其特征在于，所述分析物信号和所述填充电阻信号是恒定的电阻。13.根据权利要求11所述的系统，其特征在于，所述分析物信号和所述填充电阻信号是可变的电阻。14.根据权利要求11所述的系统，其特征在于，所述微处理器产生信号电压。
15.根据权利要求14所述的系统，其特征在于，所述信号电压是恒定的电压。16.根据权利要求11所述的系统，其特征在于，所述信号电压是可变的电压。17.一种校准分析仪的方法，所述方法包括：提供校验条，所述校验条包括：测试条带本体；在所述测试条带本体上的多个引线部；在所述测试条带本体上的电路，所述电路包括用于在所述测试条带被插入分析仪中时模拟电化学测试条带的电路系统；将所述校验条插入所述分析仪中；用所述校验条校准所述分析仪。18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，所述校验条包括：与所述多个引线部中的至少第一部分互连的第一电阻器；与所述多个引线部中的至少第二部分互连的第二电阻器，所述第一电阻器与所述多个引线部中的工作电极引线部互连，所述工作电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供分析物信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带，并且所述第二电阻器与所述多个引线部中的填充电极引线部互连，所述填充电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供填充电阻信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带。19.一种校验分析仪的电路系统的方法，所述方法包括：提供校验条，所述校验条包括：测试条带本体；在所述测试条带本体上的多个引线部；在所述测试条带本体上的电路，所述电路包括用于在所述测试条带被插入所述分析仪中时模拟电化学测试条带的电路系统；将所述校验条插入所述分析仪中；用所述校验条确认所述分析仪是否正确工作所述分析仪。20.根据权利要求19所述的方法，其特征在于，所述校验条包括：与所述多个引线部中的至少第一部分互连的第一电阻器；与所述多个引线部中的至少第二部分互连的第二电阻器，所述第一电阻器与所述多个引线部中的工作电极引线部互连，所述工作电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供分析物信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带，并且所述第二电阻器与所述多个引线部中的填充电极引线部互连，所述填充电极引线部在被插入所述分析仪中时向所述分析仪提供填充电阻信号，以模拟施加有样本的电化学测试条带。
技术总结
一种用于校准分析仪的系统，该系统包括测试条带本体。该系统进一步包括在该测试条带本体上的多个引线部。该系统进一步包括在该测试条带本体上的电路。该电路包括与该多个引线部中的至少第一部分互连的第一电阻器以及与该多个引线部中的至少第二部分互连的第二电阻器。当测试条带本体被插入分析仪中时，该电路被配置成提供模拟电化学测试条带的信号。被配置成提供模拟电化学测试条带的信号。被配置成提供模拟电化学测试条带的信号。
技术研发人员：B
受保护的技术使用者：聚合物技术系统公司
技术研发日：2021.08.19
技术公布日：2023/3/30