检测装置、检测程序、存储介质、检测方法及发光装置与流程

本发明涉及一种检测装置、检测程序、存储介质、检测方法及发光装置。

背景技术：

1、专利文献1中公开了一种测定深度的方法，所述深度对由内部反射产生的破坏光不敏感，所述方法包括如下步骤：通过光源将光发射到场景上；在破坏光击中像素但来自所述像素的视场内的物体的返回光不会击中所述像素的第一期间内，控制所述像素的第一电荷蓄积单元，以根据击中所述像素的光来收集电荷，由此进行破坏光的测定；根据所述破坏光的测定从受所述破坏光影响的一个以上测定中去除所述破坏光的贡献；及根据去除所述破坏光的所述贡献后的所述一个以上测定来判断所述深度。

2、专利文献2中公开了一种距离测定装置，其特征在于，具备：投光部，其向对象物投射光；受光部，其接收被所述对象物反射或散射的光；扫描部，其向扫描区域扫描从所述投光部投射的光；及距离测定部，其测量从所述投光部投射光至所述受光部接收光为止的时间，测定到所述对象物的距离，若将所述扫描区域分割为多个分割区域，并将该分割的所有分割区域中的一个分割区域的扫描开始至所有分割区域的扫描结束为止定义为一次扫描，则根据在所述一次扫描期间由所述距离测定部测得的第一分割区域的测定值和在所述第一分割区域的测定值之前测得的第二分割区域的测定值来判定所述第一分割区域的测定值是否能够作为所述第一分割区域的测定结果，在判定为能够作为所述第一分割区域的测定结果的情况下，输出所述第一分割区域的测定值作为所述第一分割区域中的到对象物的距离。

3、专利文献3中公开了一种光飞行型测距装置，其特征在于，具备：第一光源，其向第一发光空间发射第一光；受光部，其具有多个像素，并且通过各像素接收光；距离图像获取部，其在从所述第一光源反复发射所述第一光的发光期间，在所述受光部接收包括该第一光被对象物的表面反射而产生的第一反射光的光，由此获取表示每个像素的从本装置到对象物的距离的距离图像；亮度值图像获取部，其在不从所述第一光源反复发射所述第一光的非发光期间，在所述受光部接收包括第二反射光的光，由此获取表示每个像素的亮度值的亮度值图像，所述第二反射光是以使光轴与所述第一光不同的方式从第二光源向包括第一发光空间的至少一部分的第二发光空间发射的第二光被对象物的表面反射而产生的光；及多路径检测部，其使用所述距离图像和所述亮度值图像来检测产生了多路径的区域。

4、专利文献4中公开了一种距离测定装置，其具备：发光部，其射出探测光；及受光部，其接收所述探测光的反射光，所述距离测定装置根据由所述受光部接收的反射光来测定到反射所述探测光的对象物的距离，所述距离测定装置的特征在于，将通过所述探测光透射具有比该探测光的波长大的直径的水滴或通过所述探测光被该水滴反射而产生的散射光的强度成为超过所述受光部的噪声水平的大小的以所述发光部为中心的区域作为强散射区域，将所述受光部设置于所述强散射区域外的位置，并且设置有遮光装置，所述遮光装置遮挡所述散射光中向特定方向会聚的会聚散射光及要以大于该会聚散射光的入射角入射于所述受光部的散射光。

5、现有技术文献

6、专利文献

7、专利文献1：日本特开2019-219400号公报

8、专利文献2：日本特开2019-028039号公报

9、专利文献3：日本特开2017-15448号公报

10、专利文献4：日本特开2007-333592号公报

技术实现思路

1、发明要解决的技术课题

2、本发明的实施方式涉及提供一种在通过检测从具备多个发光元件的发光元件阵列向检测对象物发射的光的反射光来检测检测对象物的情况下，相较于未考虑发光的发光元件的配置变化的影响的情况，即使发光的发光元件的配置发生变化，也能够抑制发光上升特性的变化的影响的检测装置、检测程序、存储介质、检测方法及发光装置。

3、用于解决技术课题的手段

4、[1]根据本发明的一方式，提供一种检测装置，其具备：发光元件阵列，其具备多个发光元件；受光元件阵列，其具备多个受光元件，所述受光元件接收从所述发光元件阵列向检测对象物发射的光的反射光；驱动部，其驱动所述发光元件；以及检测部，其控制向发光的所述发光元件供给驱动电流的供给定时及所述受光元件的受光定时中的至少一方，以便即使发光的所述发光元件的配置发生变化，也使发光的所述发光元件开始发光至所述受光元件的受光定时为止的时间的变化在预定范围内，并检测检测对象物。

5、[2]在[1]所涉及的检测装置中，在即使发光的所述发光元件的数量发生变化也不改变发光的所述发光元件各自的光量的情况下，所述检测部可以根据发光的所述发光元件的数量来控制所述供给定时及所述受光定时中的至少一方。

6、[3]在[2]所涉及的检测装置中，所述检测部可以控制所述供给定时，以使所述供给定时随着发光的所述发光元件的数量增加而变得更早。

7、[4]在[2]所涉及的检测装置中，所述检测部可以控制所述受光定时，以使所述受光定时随着发光的所述发光元件的数量增加而变得更晚。

8、[5]在[1]所涉及的检测装置中，在发光的所述发光元件的数量发生变化也不改变发光的所述发光元件整体的光量的情况下，所述检测部可以控制根据流向发光的所述发光元件的驱动电流的电流路径的电感来确定的所述供给定时及所述受光定时中的至少一方。

9、[6]在[5]所涉及的检测装置中，所述检测部可以控制所述供给定时，以使所述供给定时随着发光的所述发光元件的数量减少而变得更早。

10、[7]在[5]所涉及的检测装置中，所述检测部可以控制所述受光定时，以使所述受光定时随着发光的所述发光元件的数量减少而变得更晚。

11、[8]在[1]至[7]中任一项所涉及的检测装置中，所述发光元件阵列中，可以使多个发光分区均能够各自发光，所述发光分区包括至少两个以上发光元件，所述检测部可以针对所述多个发光分区的每一个控制所述发光元件的发光。

12、[9]在[1]至[8]中任一项的方式所涉及的检测装置中，所述检测部可以根据飞行时间来检测从所述检测装置到所述检测对象物的距离。

13、[10]根据本发明的另一方式，提供一种检测装置，其具备处理器，所述处理器构成为：控制发光元件阵列所包括的多个发光元件的发光；及控制向发光的所述发光元件供给驱动电流的供给定时及受光元件阵列所包括的受光元件的受光定时中的至少一方，以便即使发光的所述发光元件的配置发生变化，也使从发光的所述发光元件开始发光至所述受光元件的受光定时为止的时间的变化在预定范围内，并检测检测对象物。

14、[11]根据本发明的另一方式，提供一种检测程序，其用于使计算机执行包括如下步骤的处理：控制发光元件阵列所包括的多个发光元件的发光；及控制向发光的所述发光元件供给驱动电流的供给定时及受光元件阵列所包括的受光元件的受光定时中的至少一方，以便即使发光的所述发光元件的配置发生变化，也使从发光的所述发光元件开始发光至所述受光元件的受光定时为止的时间的变化在预定范围内，并检测检测对象物。

15、[12]根据本发明的另一方式，提供一种存储介质，其存储检测程序，所述检测程序用于使计算机执行包括如下步骤的处理：控制发光元件阵列所包括的多个发光元件的发光；及控制向发光的所述发光元件供给驱动电流的供给定时及受光元件阵列所包括的受光元件的受光定时中的至少一方，以便即使发光的所述发光元件的配置发生变化，也使从发光的所述发光元件开始发光至所述受光元件的受光定时为止的时间的变化在预定范围内，并检测检测对象物。

16、[13]根据本发明的另一方式，提供一种检测方法，其包括如下步骤：控制发光元件阵列所包括的多个发光元件的发光；及控制向发光的所述发光元件供给驱动电流的供给定时及受光元件阵列所包括的受光元件的受光定时中的至少一方，以便即使发光的所述发光元件的配置发生变化，也使从发光的所述发光元件开始发光至所述受光元件的受光定时为止的时间的变化在预定范围内，并检测检测对象物。

17、[14]根据本发明的另一方式，提供一种发光装置，其具备：发光元件阵列，其具备多个发光元件；驱动部，其驱动所述发光元件；以及控制部，其控制向发光的所述发光元件供给驱动电流的供给定时，以便即使发光的所述发光元件的配置发生变化，也使从发光的所述发光元件开始发光至受光元件的受光定时为止的时间的变化在预定范围内。

18、[15]根据本发明的另一方式，提供一种发光装置，其具备：发光元件阵列，其具备多个发光元件；驱动部，其驱动所述发光元件；及控制部，其控制向所述发光元件供给驱动电流的供给定时，以使所述供给定时随着发光的所述发光元件的数量增加而变得更早。

19、发明效果

20、根据[1]、[10]～[14]，在通过检测从具备多个发光元件的发光元件阵列向检测对象物发射的光的反射光来检测检测对象物的情况下，相较于未考虑发光的发光元件的配置变化的影响的情况，即使发光的发光元件的配置发生变化，也能够抑制发光上升特性的变化的影响。

21、根据[2]，即使发光的发光元件的数量发生变化，也能够抑制发光上升特性的变化的影响。

22、根据[3]，相较于与发光的发光元件的数量无关地统一驱动电流的供给定时的情况，即使发光的发光元件的数量增加，也能够抑制发光上升特性的变化的影响。

23、根据[4]，相较于与发光的发光元件的数量无关地统一受光定时的情况，即使发光的发光元件的数量增加，也能够抑制发光上升特性的变化的影响。

24、根据[5]，即使发光的发光元件的数量发生变化，也能够抑制发光上升特性的变化的影响。

25、根据[6]，相较于与发光的发光元件的数量无关地统一驱动电流的供给定时的情况，即使发光的发光元件的数量减少，也能够抑制发光上升特性的变化的影响。

26、根据[7]，相较于与发光的发光元件的数量无关地统一受光定时的情况，即使发光的发光元件的数量减少，也能够抑制发光上升特性的变化的影响。

27、根据[8]，相较于针对每个发光元件控制发光的情况，能够抑制发光元件的控制变得复杂。

28、根据[9]，能够确定检测对象物的三维形状。

29、根据[15]，即使发光的发光元件的数量发生变化，发光的发光元件各自的光量也不会发生变化。