1.一种电池弯折展平测试设备，其特征在于，包括弯折展平机构，所述弯折展平机构包括：
2.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
3.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
4.根据权利要求3所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
5.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
6.根据权利要求5所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
7.根据权利要求5所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
8.根据权利要求5所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
9.根据权利要求8所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
10.根据权利要求8所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
11.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
12.根据权利要求11所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
13.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
14.根据权利要求13所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
15.根据权利要求14所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
16.根据权利要求15所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
17.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
18.根据权利要求17所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
19.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
20.根据权利要求1所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
21.根据权利要求20所述的电池弯折展平测试设备，其特征在于：
22.一种电池耐弯折展平测试方法，其特征在于，基于权利要求1-21任一项所述的电池弯折展平测试设备；所述电池耐弯折展平测试方法包括：
23.根据权利要求22所述的电池耐弯折展平测试方法，其特征在于：
24.根据权利要求22所述的电池耐弯折展平测试方法，其特征在于：
25.根据权利要求22所述的电池耐弯折展平测试方法，其特征在于：
26.根据权利要求22所述的电池耐弯折展平测试方法，其特征在于：
27.根据权利要求22所述的电池耐弯折展平测试方法，其特征在于：
28.根据权利要求27所述的电池耐弯折展平测试方法，其特征在于：
29.一种电子产品耐弯折展平测试方法，其特征在于，基于权利要求1-21任一项所述的电池弯折展平测试设备，所述电子产品耐弯折展平测试方法包括：
30.根据权利要求29所述的电子产品耐弯折展平测试方法，其特征在于：