1.一种芯片测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对待测芯片的发送模组和接收模组的直流电平输出进行校准，得到校准发送模组和校准接收模组，包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述发送模组对应的第一补偿量对所述发送模组的直流电平输出进行校准，得到所述校准发送模组，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述接收模组
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述校准发送模组和所述校准接收模组进行内部环回测试，得到内部测试结果，包括：
6.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述对所述校准发送模组和所述校准接收模组进行外部环回测试，得到外部测试结果，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，其中，所述外部环回通路为多个电阻组成的衰减电路。
8.一种芯片测试装置，其特征在于，所述装置包括：校准模块、内部环回测试模块以及外部环回测试模块；
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括存储器和处理器，所述存储器中存储有程序指令，所述处理器运行所述程序指令时，执行权利要求1-7中任一项所述方法中的步骤。
10.一种计算机可读取存储介质，其特征在于，所述可读取存储介质中存储有计算机程序指令，所述计算机程序指令被一处理器运行时，执行权利要求1-7任一项所述方法中的步骤。