一种用于电源老化试验和性能测试架的制作方法

1.本技术涉及老化机技术领域，特别涉及为一种用于电源老化试验和性能测试架。


背景技术：

2.人们日常生活中使用的一些电器，例如：电源、芯片和移动设备等，都需要经过测试才能在市场上进行售卖，通过老化测试机下的各种模拟环境，判断在不同的环境下机器设备会产生什么样的变化，长时间的使用，机器设备的使用参数与原定参数的差值有多大，以保证消费者的使用安全，不会因为外界因素导致机器设备失效无法使用，甚至在暴晒、极端的天气会引起机器设备的自燃甚至爆炸的可能；
3.但是目前的老化测试机对于电源的测试精度不高，在模拟环境时，针对各个不同的电源，所制造的环境不一致，在各个电源隔板之间会导温，无法使得每个隔间的内部温度达到对应的设定温度，且电源之间在测试时会释放静电，电源之间的静电汇集会造成老化机内部电流交错产生爆炸，导致老化机停止工作，或是机器损坏，影响人身安全。


技术实现要素：

4.本技术旨在解决目前的老化测试机对于电源的测试精度不高，在模拟环境时，针对各个不同的电源，所制造的环境不一致，在各个电源隔板之间会导温，无法使得每个隔间的内部温度达到对应的设定温度，且电源之间在测试时会释放静电，电源之间的静电汇集会造成老化机内部电流交错产生爆炸，导致老化机停止工作，或是机器损坏，影响人身安全的技术问题，提供一种用于电源老化试验和性能测试架。
5.本技术为解决技术问题采用如下技术手段：
6.一种用于电源老化试验和性能测试架，包括：
7.测试架外壳，所述测试架外壳包括活动门、透视窗和控制面板；所述测试架外壳内部具有空间，所述活动门活动嵌入在所述测试架外壳内，所述活动门与所述测试架外壳嵌合以形成封闭空间，所述透视窗设于所述活动门上，所述控制面板位于所述测试架外壳的侧面；
8.环境测试组件，所述环境测试组件包括若干温度隔板和温度调节器；若干所述温度隔板呈十字交错式与测试架外壳下层固定，若干所述温度调节器一一对应设于若干所述温度隔板形成的温度隔间内；
9.光照测试组件，所述光照测试组件包括若干光线隔板和紫外线强度调节器，若干所述光线隔板呈十字交错式与测试架外壳上层固定，若干所述紫外线强度调节器一一对应设于若干所述光线隔板形成的光线隔间内。
10.进一步地，所述测试架外壳的上层与下层分别被所述光线隔板和所述温度隔板分为8个光线隔间和8个温度隔间。
11.进一步地，每个所述温度隔间和光线隔间内都设有信号接头。
12.进一步地，还包括夹紧机构；
13.所述夹紧机构包括中心轴、导轨和弹力带，以及两个压杆和支轴；所述导轨设于所述温度隔间与光线隔间的底板内，两个所述压杆的一端垂直插入在导轨上，所述支轴设于所述压杆的低端，所述压杆随着导轨通过支轴活动，两个所述支轴通过中心轴呈对称结构设置，所述支轴与所述中心轴通过弹力带连接。
14.进一步地，所述压杆的上方呈弧状结构设置，且所述两个压杆的凹处相向。
15.进一步地，所述支轴与所述中心轴之间设有限位板。
16.进一步地，所述测试架外壳的相对于活动门的另一侧设有电源和数据箱。
17.进一步地，所述紫外线强度调节器和所述温度调节器的数量均为8个。
18.本技术提供了用于电源老化试验和性能测试架，具有以下有益效果：通过测试架外壳，所述测试架外壳包括活动门、透视窗和控制面板；所述测试架外壳内部具有空间，所述活动门活动嵌入在所述测试架外壳内，所述活动门与所述测试架外壳嵌合以形成封闭空间，所述透视窗设于所述活动门上，所述控制面板位于所述测试架外壳的侧面；环境测试组件，所述环境测试组件包括若干温度隔板和温度调节器；若干所述温度隔板呈十字交错式与测试架外壳下层固定，若干所述温度调节器一一对应设于若干所述温度隔板形成的温度隔间内；光照测试组件，所述光照测试组件包括若干光线隔板和紫外线强度调节器，若干所述光线隔板呈十字交错式与测试架外壳上层固定，若干所述紫外线强度调节器一一对应设于若干所述光线隔板形成的光线隔间内；具备解决目前的测试架所不能解决的老化测试机对于电源的测试精度不高，在模拟环境时，针对各个不同的电源，所制造的环境不一致，在各个电源隔板之间会导温，无法使得每个隔间的内部温度达到对应的设定温度，且电源之间在测试时会释放静电，电源之间的静电汇集会造成老化机内部电流交错产生爆炸，导致老化机停止工作，或是机器损坏，影响人身安全的技术问题。
附图说明
19.图1为本技术用于电源老化试验和性能测试架一个实施例的整体结构示意图；
20.图2为本技术用于电源老化试验和性能测试架一个实施例的整体结构剖视图；
21.图3为本技术用于电源老化试验和性能测试架一个实施例的整体结构侧视图；
22.图4为本技术用于电源老化试验和性能测试架一个实施例的夹紧机构结构剖视图。
23.本技术为目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
24.应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
25.下面将结合本技术的实施例中的附图，对本技术的实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
26.需要说明的是，本技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”、“包含”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没
有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。在本技术的权利要求书、说明书以及说明书附图中的术语，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体/操作/对象与另一个实体/操作/对象区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体/操作/对象之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
27.在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本技术的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其他实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其他实施例相结合。
28.参考附图1-4，为本技术一实施例中的用于电源老化试验和性能测试架的结构示意图；
29.一种用于电源老化试验和性能测试架，包括：
30.测试架外壳1，所述测试架外壳1包括活动门2、透视窗3和控制面板4；所述测试架外壳1内部具有空间，所述活动门2活动嵌入在所述测试架外壳1内，所述活动门2与所述测试架外壳1嵌合以形成封闭空间，所述透视窗3设于所述活动门2上，所述控制面板4位于所述测试架外壳1的侧面；
31.环境测试组件，所述环境测试组件包括若干温度隔板101和温度调节器103；若干所述温度隔板101呈十字交错式与测试架外壳1下层固定，若干所述温度调节器103一一对应设于若干所述温度隔板101形成的温度隔间104内；
32.光照测试组件，所述光照测试组件包括若干光线隔板105和紫外线强度调节器106，若干所述光线隔板105呈十字交错式与测试架外壳1上层固定，若干所述紫外线强度调节器106一一对应设于若干所述光线隔板105形成的光线隔间107内。
33.所述测试架外壳1的上层与下层分别被所述光线隔板105和所述温度隔板101分为8个光线隔间107和8个温度隔间104。
34.所述紫外线强度调节器106和所述温度调节器103的数量均为8个。
35.每个所述温度隔间104和光线隔间107内都设有信号接头102。
36.具体的，使用者打开活动门2，将不同的机器设备根据需要测试温度还是紫外线进行分类，需要测试温度的机器设备放置在测试架外壳1下方的温度隔板101形成的温度隔间104上，需要测试光线强度的机器设备放置在测试架外壳1上方的光线隔板105形成的光线隔间107上，然后将活动门2关闭，使内部形成密闭空间，避免影响其他机器设备的测试，然后使用者开始操控控制面板4，对每个不同的温度隔间104与光线隔间107调整参数。
37.在一实施例中，还包括夹紧机构5，
38.所述夹紧机构5包括中心轴505、导轨503和弹力带504，以及两个压杆501和支轴502；所述导轨503设于所述温度隔间104与光线隔间107的底板内，两个所述压杆501的一端垂直插入在导轨503上，所述支轴502设于所述压杆501的低端，所述压杆501随着导轨503通过支轴502活动，两个所述支轴502通过中心轴505呈对称结构设置，所述支轴502与所述中心轴505通过弹力带504连接。
39.所述压杆501的上方呈弧状结构设置，且所述两个压杆501的凹处相向。
40.所述支轴502与所述中心轴505之间设有限位板506。
41.具体的，因为机器设备的不同体积，需要一个相对的夹紧机构5来固定住机器设
备，使用者先将两个压杆501拉开，通过弹力带504和支轴502随着导轨503拉开，使用者将机器设备放置在两个压杆501之间，然后松开压杆501，通过压杆501的弧状设置与弹力带504的弹性回缩包裹住机器设备，已达到固定机器设备的作用，同时，当没有机器设备固定时，可通过限位板506避免相合磨损。
42.在一实施例中，所述测试架外壳1的相对于活动门2的另一侧设有电源109和数据箱108。数据箱108可将随着时间变化而产生的数据导向终端。
43.尽管已经示出和描述了本技术的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本技术的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本技术的范围由所附权利要求及其等同物限定。