技术特征：
1.一种用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，包括：测试架外壳，所述测试架外壳包括活动门、透视窗和控制面板；所述测试架外壳内部具有空间，所述活动门活动嵌入在所述测试架外壳内，所述活动门与所述测试架外壳嵌合以形成封闭空间，所述透视窗设于所述活动门上，所述控制面板位于所述测试架外壳的侧面；环境测试组件，所述环境测试组件包括若干温度隔板和温度调节器；若干所述温度隔板呈十字交错式与测试架外壳下层固定，若干所述温度调节器一一对应设于若干所述温度隔板形成的温度隔间内；光照测试组件，所述光照测试组件包括若干光线隔板和紫外线强度调节器，若干所述光线隔板呈十字交错式与测试架外壳上层固定，若干所述紫外线强度调节器一一对应设于若干所述光线隔板形成的光线隔间内。2.根据权利要求1所述的用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，所述测试架外壳的上层与下层分别被所述光线隔板和所述温度隔板分为8个光线隔间和8个温度隔间。3.根据权利要求2所述的用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，每个所述温度隔间和光线隔间内都设有信号接头。4.根据权利要求2所述的用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，还包括夹紧机构；所述夹紧机构包括中心轴、导轨和弹力带，以及两个压杆和支轴；所述导轨设于所述温度隔间与光线隔间的底板内，两个所述压杆的一端垂直插入在导轨上，所述支轴设于所述压杆的低端，所述压杆随着导轨通过支轴活动，两个所述支轴通过中心轴呈对称结构设置，所述支轴与所述中心轴通过弹力带连接。5.根据权利要求4所述的用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，所述压杆的上方呈弧状结构设置，且所述两个压杆的凹处相向。6.根据权利要求4所述的用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，所述支轴与所述中心轴之间设有限位板。7.根据权利要求1所述的用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，所述测试架外壳的相对于活动门的另一侧设有电源和数据箱。8.根据权利要求1所述的用于电源老化试验和性能测试架，其特征在于，所述紫外线强度调节器和所述温度调节器的数量均为8个。
技术总结
本申请提供了一种用于电源老化试验和性能测试架，运用于老化机领域，通过测试架外壳，测试架外壳包括活动门、透视窗和控制面板；测试架外壳内部具有空间，活动门活动嵌入在测试架外壳内，活动门与测试架外壳嵌合以形成封闭空间，透视窗设于活动门上，控制面板位于测试架外壳的侧面；具备解决目前的测试架所不能解决的老化测试机对于电源的测试精度不高，在模拟环境时，针对各个不同的电源，所制造的环境不一致，在各个电源隔板之间会导温，无法使得每个隔间的内部温度达到对应的设定温度，且电源之间在测试时会释放静电，电源之间的静电汇集会造成老化机内部电流交错产生爆炸，导致老化机停止工作，或是机器损坏，影响人身安全的技术问题。技术问题。技术问题。
技术研发人员：左浩 林宇
受保护的技术使用者：深圳市卓帝科技有限公司
技术研发日：2022.08.17
技术公布日：2023/2/6