分析方法和分析装置

本公开涉及分析测定数据的技术。

背景技术：

1、光谱学用于物理学、化学、农学、医学等各种研究领域，带来了许多宝贵的知识。在多数情况下，使用电荷耦合器件(ccd)等探测器来测定红外线、可见光、紫外线、x射线、电子等的光谱。

2、(现有技术文献)

3、(非专利文献)

4、非专利文献1：murray,c.a.&dierker,s.b.,「use of an unintensified charge-coupled device detector for low-light-level raman spectroscopy」,j.opt.soc.am.,a3,2151,1986年

技术实现思路

1、(发明所要解决的问题)

2、光谱的分辨率受探测器的数量的限制。因此，难以得到大范围且高分辨率的光谱数据。

3、本公开是鉴于这种问题而提出的，目的在于提供一种用于提高光谱数据等测定数据的精度的技术。

4、(解决问题所采用的措施)

5、为了解决上述问题，本公开的某一方式的分析方法包括取得由能够以规定的分辨率对测定对象量进行测定的测定装置测定出的、测定点不同的多个实际测定数据的步骤和根据多个实际测定数据并利用超解像来生成提高了分辨率的超解像测定数据的步骤。基于测定对象量的预测的分布来生成假设测定数据，根据假设测定数据并利用使用了参数的超解像来生成超解像假设测定数据，基于超解像假设测定数据与分布之间的差来确定用于超解像的参数的值。

6、本公开的其他方式为分析装置。该装置包括取得由能够以规定的分辨率对测定对象量进行测定的测定装置测定出的、测定点不同的多个实际测定数据的测定数据取得部和根据多个实际测定数据并利用超解像来生成提高了分辨率的超解像测定数据的超解像执行部。基于测定对象量的预测的分布来生成假设测定数据，根据假设测定数据并利用使用了参数的超解像来生成超解像假设测定数据，基于超解像假设测定数据与分布之间的差来确定用于超解像的参数的值。

7、此外，以上构件的任何组合、将本公开的表现在方法、装置、系统、存储介质、计算机程序等之间进行转换的方式都作为本公开的方式而有效。

8、(发明的效果)

9、根据本公开，可以提高测定数据的精度。

技术特征：

1.一种分析方法，其中，包括：

2.根据权利要求1所述的分析方法，其中，

3.根据权利要求2所述的分析方法，其中，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的分析方法，其中，

5.根据权利要求1至4中任一项所述的分析方法，其中，

6.一种分析装置，其中，包括：

7.根据权利要求6所述的分析装置，其中，

8.根据权利要求7所述的分析装置，其中，

9.根据权利要求6至8中任一项所述的分析装置，其中，

10.根据权利要求6至9中任一项所述的分析装置，其中，

技术总结
分析方法包括取得由能够以规定的分辨率对测定对象量进行测定的测定装置测定的、测定点不同的多个实际测定数据的步骤和根据多个实际测定数据并利用超解像来生成提高了分辨率的超解像测定数据的步骤。根据基于测定对象量的预测的分布而生成的假设测定数据并利用使用了超参数的超解像来生成超解像假设测定数据，基于超解像假设测定数据与分布之间的差来确定用于超解像的超参数的值。

技术研发人员：原田俊太,辻森皓太,广谷润
受保护的技术使用者：国立大学法人东海国立大学机构
技术研发日：
技术公布日：2024/3/11