1.一种芯块多参数测量系统，其特征在于，所述芯块多参数测量系统包括：几何体积测量单元、真体积测量单元、数据处理单元和支撑台，所述支撑台用于实现各功能单元的结构支撑，由几何体积测量单元、真体积测量单元分别完成待测芯块的几何体积及真实体积测量，并由数据处理单元基于下式完成芯块的开口孔率φ的计算：
2.如权利要求1所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所述成像单元由若干阵列式成像传感器构成；
3.如权利要求2所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，基于两侧壁轮廓线ab及ij上各点坐标，取两条轮廓线ab及ij的最小距离作为芯块的圆柱直径值d；
4.如权利要求2所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，基于轮廓线bc端点的坐标信息，完成轮廓线bc的长度计算，得到倒角轮廓线bc的长度；
5.如权利要求2所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所述激光传感器安装于所述支撑台的底面，产生竖直方向激光线；
6.如权利要求5所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，基于底部轮廓线内各点坐标数据拟合获得直线l1，
7.如权利要求1所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所述芯块真实体积vreal采用如下方法测量：
8.如权利要求1所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所芯块多参数测量系统还包括质量测量单元，
9.如权利要求1所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所芯块多参数测量系统还包括：上料盒、下料盒和芯块转运单元，
10.如权利要求9所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所述芯块转运单元包括：轨道、支架、吸盘和直线电机；所述轨道设置于支撑台的台面之上，并与上料盒、真体积测量单元、质量测量单元、下料盒的排列方向平行设置；所述支架底端活动固定于轨道之上，另一端设有吸盘，所述吸盘经气缸驱动完成芯块的吸附固定；且所述直线电机与轨道平行设置，所述支架底端经连接件与直线电机连接，并由所示直线电机驱动支架移动至上料盒、真体积测量单元、质量测量单元或下料盒位置处，完成相应位置处芯块的取放。
11.如权利要求1所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所述静压机构包括：静压支架、静压气缸和密封盖，
12.如权利要求11所述的芯块多参数测量系统，其特征在于，所述静压机构还包括：顶推机构和导轨，