一种基于光学偏振态的参数测量方法

文档序号:35266788发布日期:2023-08-30 01:33阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,方法采用光学偏振测量仪,所述光学偏振测量仪包括至少一个待定标偏振态调制器件、至少一个驱动电路和至少一个偏振片,驱动电路用于在定标后的偏振态调制器件上施加电压信号,在光的入射方向上,一个偏振片之前至少有一个待定标偏振态调制器件,最接近测量装置的光学器件为偏振片,穿过最接近测量装置的偏振片的光进入测量装置,测量装置连接计算机,所述待定标偏振态调制器件的光轴与偏振片透光轴的之间形成一定夹角,

2.一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,方法采用光学偏振测量仪,所述光学偏振测量仪包括已知偏振态的光源、一个待测液晶盒、至少一个待定标偏振态调制器件、至少一个驱动电路和至少一个偏振片,驱动电路用于在定标后的偏振态调制器件上施加电压信号,在光的入射方向上,一个偏振片之前至少有一个待定标偏振态调制器件,最接近测量装置的光学器件为偏振片,穿过最接近测量装置的偏振片的光进入测量装置,测量装置连接计算机,所述待定标偏振态调制器件的光轴与偏振片透光轴的之间形成一定夹角,

3.根据权利要求1或2所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,迭代计算、判断是否满足精度和反馈的过程具体为:

4.根据权利要求3所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,偏差度函数的表达式为:

5.根据权利要求4所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,比较函数的表达式为:

6.根据权利要求5所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,待定标偏振态调制器件采用两个待定标液晶盒,确定待测光源的琼斯矢量参数时,尝试解模式的表达式为:

7.根据权利要求1或2所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,人工智能算法为最速梯度下降法、深度学习算法或神经网络算法。

8.根据权利要求1或2所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,测量装置为cmos/ccd相机、光功率计或光电二极管,测量装置用于测量变化的光强。

9.根据权利要求1或2所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,静态定标的步骤具体为:将需要定标的液晶盒放在两个正交偏振片之间,在各个电压下测量稳定的透过光强,以此获得光强透过率-电压曲线,基于光强透过率-电压曲线计算出相位延迟量-电压曲线,以相位延迟量-电压曲线获得待定标的偏振态调制器件的琼斯矩阵表达式;

10.根据权利要求1或2所述的一种基于光学偏振态的参数测量方法,其特征在于,待定标偏振态调制器件和驱动电路的连接关系为:待定标偏振态调制器件之间并联连接,一个驱动电路同时与所有待定标偏振态调制器件连接,驱动电路电压信号同时施加在各个定标后的偏振态调制器件上,或每个驱动电路分别与一个待定标偏振态调制器件连接,控制每个驱动电路的驱动电路电压信号同时施加在各个定标后的偏振态调制器件上。


技术总结
本发明涉及一种基于光学偏振态的参数测量方法,方法采用光学偏振测量仪,方法包括以下步骤:设置待测光源;对液晶盒的相位延迟量进行动态定标或静态定标;完成定标后,驱动电路向液晶盒上施加按照一定规律变化的电压信号,基于测量装置得到实验测量模式;扫描多组参数组,得到尝试解模式;将实验测量模式和尝试解模式进行比较,进行迭代计算,得到偏振态参数的最优解,基于最优解确定待测的参数。与现有技术相比,本发明具有减小测量偏差、提高精度、提高效率等优点。

技术研发人员:王骁乾,朱科安,罗锻斌,沈冬,郑致刚
受保护的技术使用者:华东理工大学
技术研发日:
技术公布日:2024/1/14
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