1.一种基于结构光的三维测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的基于结构光的三维测量方法，其特征在于，在所述步骤s102中，获取待识别物体的图像之后，还包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的基于结构光的三维测量方法，其特征在于，在所述步骤s103中，解算图像中各点的绝对相位的方法包括以下步骤：
4.根据权利要求1所述的基于结构光的三维测量方法，其特征在于，在所述步骤s105中，求解相位差和参考平面的关系函数的方法包括以下步骤：
5.根据权利要求1所述的基于结构光的三维测量方法，其特征在于，在所述步骤s101中，采用dlp投影仪投射结构光的方法包括如下步骤：
6.根据权利要求1所述的基于结构光的三维测量方法，其特征在于，在所述步骤s102中，采用ccd摄像机获取待识别物体的图像，包括：
7.一种基于结构光的三维测量装置，其特征在于，包括投影仪投影模块、摄影机图像获取模块、计算机解算相位模块、滑轨模块和待测物拍摄模块；
8.根据权利要求7所述的基于结构光的三维测量装置，其特征在于，所述背景板是一个不透明不反光的白色刚性板材，垂直于滑轨固定在型材上。
9.一种电子设备，其特征在于，包括处理器和存储器；所述存储器上存储有可被所述处理器执行的计算机可读程序；所述处理器执行所述计算机可读程序时实现权利要求1-6任意一项所述的结构光三维测量方法中的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现权利要求1-6任意一项所述的结构光三维测量方法中的步骤。