航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法

文档序号:37242674发布日期:2024-03-06 17:12阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,其包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s1中对待检测的航空涡轮盘异形件进行超声测试,采集携带非均匀晶粒信息的超声尾波信号具体包括以下步骤:

3.根据权利要求1所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s1中基于超声尾波信号幅值的包络线,确定尾波在航空涡轮盘异形件内均匀混合的起始时间t0具体包括以下子步骤:

4.根据权利要求2所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s1中用于确定幅值包络线的信号为剔除信号起始串扰部分后的信号。

5.根据权利要求1所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s3中提取的参考时间窗包含超声信号的主能量。

6.根据权利要求1所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s4中,对体波为主的尾波,选取β=2,对表面波为主的尾波,选取β=1,对发生强散射或以扩散波场为主的尾波,选取β=1.5。

7.根据权利要求6所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s6中航空涡轮盘异形件的平均晶粒尺寸由n个时间窗的评估结果求取平均值获得。

8.根据权利要求7所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s6中航空涡轮盘异形盘的平均晶粒尺寸的量化模型为:

9.根据权利要求6所述的航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其特征在于,步骤s6中模型第一拟合参数和第二拟合参数采用一系列与待测航空涡轮盘相同材料但具有不同已知晶粒尺寸的均匀试件进行确定。


技术总结
本发明提出了一种航空涡轮盘非均匀异形件平均晶粒尺寸检测方法,其包括:S1、采集待检测的航空涡轮盘异形件超声尾波信号并确定尾波在试件内混合均匀的起始时间;S2、选取N个尾波时间窗;S3、分别求取尾波时间窗及参考时间窗内信号的平均功率特征;S4、构建航空涡轮盘异形件超声尾波平均功率衰减模型;S5、计算尾波的有效衰减系数;S6、通过平均晶粒尺寸量化模型,计算具有非均匀晶粒的航空涡轮盘异形件的平均晶粒尺寸。本发明的检测效率更高;且相比于现有的基于尾波技术的平均晶粒尺寸检测方法,改进了描述尾波衰减规律的物理模型,使其更适用于具有非均匀晶粒的航空涡轮盘异形件的平均晶粒尺寸检测问题,检测结果更加准确且鲁棒性好。

技术研发人员:何晶靖,关雪飞,高晨竣
受保护的技术使用者:北京航空航天大学
技术研发日:
技术公布日:2024/3/5
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1