放射性金属样品的结构测定方法与流程

本发明的实施例涉及利用中子进行材料结构测定的，具体涉及一种放射性金属样品的结构测定方法。

背景技术：

1、这里的陈述仅仅提供与本发明有关的背景信息，而不必然地构成现有技术。金属材料在反应堆中进行长期服役后会产生放射性，而为了保证核工业设施运行的安全性和稳定性，需要对放射性金属材料的结构进行准确测定，传统的测定方法主要包括使用电子显微镜进行局部分析的方法，例如，使用扫描电子显微镜(sem)以及透射电子显微镜(tem)等进行结构测定。

技术实现思路

1、在下文中给出了关于本申请的简要概述，以便提供关于本申请的某些方面的基本理解。应当理解，这个概述并不是关于本申请的穷举性概述。它并不是意图确定本申请的关键或重要部分，也不是意图限定本申请的范围。其目的仅仅是以简化的形式给出某些概念，以此作为稍后论述的更详细描述的前序。

2、本发明的实施例提供一种放射性金属样品的结构测定方法，该方法包括以下步骤：将放射性金属样品放置于屏蔽容器内；将屏蔽容器转移至中子导管出口与小角中子散射探测器之间；控制中子束照射屏蔽容器内的放射性金属样品，并对放射性金属样品进行小角中子散射测试，得到放射性金属样品的二维散射数据；根据二维散射数据，确定放射性金属样品的纳米结构。

3、本发明的实施例中的测定方法，通过将放射性金属样品放置于屏蔽容器中进行测定，使小角中子散射测试无需在热室内进行，简化了测试流程，降低了测试的难度，同时使测试效率得到提高。并且，相比于传统通过电子显微镜进行局部分析的方法，本发明的实施例中的小角中子散射测试的取样体积更大，提供的纳米结构信息更全面，从而能够实现对放射性金属样品的整体进行结构测定，得到更为准确、全面的测定结果。

技术特征：

1.一种放射性金属样品的结构测定方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述二维散射数据，确定所述放射性金属样品的纳米结构，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述二维散射数据，确定所述放射性金属样品的纳米结构，包括：

5.根据权利要求2或4所述的方法，其特征在于，所述根据所述斜率，确定所述放射性金属样品的纳米结构，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据期望获得的所述放射性金属样品的纳米结构尺度，确定中子的波长以及所述小角中子散射探测器与所述放射性金属样品之间的距离。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述屏蔽容器沿所述中子束的照射方向上的两侧形成有探测窗；

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述屏蔽容器包括：

9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述屏蔽容器包括：

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，还包括：

11.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

技术总结
本发明的实施例涉及利用中子进行材料结构测定的技术领域，具体涉及一种放射性金属样品的结构测定方法，该方法包括：将放射性金属样品放置于屏蔽容器内；将屏蔽容器转移至中子导管出口与小角中子散射探测器之间；控制中子束照射屏蔽容器内的放射性金属样品，并对放射性金属样品进行小角中子散射测试，得到放射性金属样品的二维散射数据；根据二维散射数据，确定放射性金属样品的纳米结构。本实施例提供的测定方法简化了测试流程，降低了测试的难度，提高了测试效率。相比于传统的通过电子显微镜进行局部分析的方法，本发明的实施例中的小角中子散射测试的取样体积更大，提供的纳米结构信息更全面，能够得到更为准确、全面的测定结果。

技术研发人员：陈东风,闫士博,李天富,孙凯,王子军,王成龙,陈忠,赵永鹏,刘荣灯,贺新福
受保护的技术使用者：中国原子能科学研究院
技术研发日：
技术公布日：2024/3/24