表面检测方法、系统、装置、计算机设备及存储介质与流程

本技术涉及产品表面检测，具体涉及一种表面检测方法、系统、装置、计算机设备及存储介质。

背景技术：

1、随着3c电子产品的发展，人们对电子产品的外观要求越来越高。为了使电子产品的外观具有高级感以及提升手感，电子产品的表面会进行特殊处理以使电子产品的表面具有起伏的外观纹理。在实际的生产中，在对电子产品进行特殊处理后，还需要对电子产品的表面进行检测，以确定电子产品的表面是否存在缺陷。目前，通常由人工进行检测。然而，人工检测没有统一的检测标准，导致存在漏检和误检的情况。

技术实现思路

1、鉴于以上内容，有必要提出一种表面检测方法、系统、装置、计算机设备及存储介质，用于对产品的纹理表面进行检测，形成统一的检测标准，避免出现漏检和误检的情况，提升检测效率。

2、本技术实施例提供一种表面检测方法，用于检测具有不规则纹理表面的产品，包括：

3、获取待检测的所述产品表面的2d图像及3d高度图像；

4、基于所述3d高度图像中所述产品表面的高度数据得到所述产品表面的高度平均标准差；

5、对所述2d图像进行处理获得2d灰阶图及灰阶能量分布图，标记所述2d灰阶图中灰阶值符合预设条件的区域为缺陷区域，并获取所述缺陷区域的灰阶能量数据；

6、获取所述3d高度图像中与所述缺陷区域对应的所述产品表面的高度数据，并计算所述缺陷区域对应的所述产品表面的高度数据与所述高度平均标准差的高度差值；

7、基于所述缺陷区域的所述灰阶能量数据与所述高度差值判断所述缺陷区域的缺陷类别，如所述灰阶能量数据与所述高度差值在预设范围内，判定所述缺陷区域内的缺陷为脏污；如所述灰阶能量数据与所述高度差值超出所述预设范围，判定所述缺陷区域内的缺陷为瑕疵。

8、在一些实施例中，所述表面检测方法还包括：

9、基于所述高度平均标准差判断所述产品表面的粗糙度是否合规，如所述高度平均标准差在预定范围内，判定所述产品表面的粗糙度合规；如所述高度平均标准差超出所述预定范围，判定所述产品表面的粗糙度不合规；

10、基于所述产品表面的粗糙度合规判断所述产品表面的粗糙度等级，如所述高度平均标准差在第一标准值内，判定所述产品表面的粗糙度等级为等级一，如所述高度平均标准差超出所述第一标准值且在第二标准值内，判定所述产品表面的粗糙度等级为等级二，如所述高度平均标准差超出所述第二标准值且在第三标准值内，判定所述产品表面的粗糙度等级为等级三，其中所述第一标准值、所述第二标准值、所述第三标准值和所述预定范围的数值依次增大。

11、在一些实施例中，所述表面检测方法还包括：

12、基于所述3d高度图像中所述产品表面的高度数据得到第一轮廓图像，所述第一轮廓图像为沿第一方向选定所述产品表面的包含高度数据的第一区域所形成的图像；

13、基于所述第一轮廓图像确定所述产品表面的轮廓特征；

14、基于所述第一轮廓图像中的高度数据拟合得到第一斜率；

15、基于所述第一斜率与第一预设斜率确定所述产品表面的缺陷，其中，基于所述第一斜率与所述第一预设斜率所确定的所述产品表面的缺陷为应力痕。

16、在一些实施例中，所述表面检测方法还包括：

17、基于所述第一轮廓图像获取交接线区域；

18、基于所述交接线区域中的高度数据拟合得到第二斜率；

19、基于所述第二斜率和第二预设斜率确定所述产品表面交接线处的缺陷。

20、在一些实施例中，所述表面检测方法还包括：

21、基于所述3d高度图像中所述产品表面的高度数据得到第二轮廓图像，所述第二轮廓图像为沿第二方向选定所述产品表面的包含高度数据的第二区域所形成的图像；

22、基于所述第二轮廓图像中的高度数据拟合得到第三斜率；

23、基于所述第三斜率与第三预设斜率确定所述产品表面r角处的缺陷。

24、在一些实施例中，所述获取待检测的所述产品表面的2d图像及3d高度图像的步骤，包括：

25、确定获取所述产品表面的图像的原始参数，所述原始参数包括光强度参数和曝光值参数；

26、基于所述原始参数获取所述产品表面的初步图像，并基于所述初步图像确定初步校正参数；

27、基于所述初步校正参数获取所述产品表面的目标图像，并基于所述目标图像确定目标参数；

28、基于所述目标参数获取所述产品表面的验证图像，并基于所述验证图像确定目标光波长参数；

29、基于所述目标参数和所述目标光波长参数获取所述产品表面的所述2d图像及所述3d高度图像。

30、本技术实施例还提供一种表面检测系统，用于检测具有不规则纹理表面的产品，包括：

31、获取模块，用于获取待检测的所述产品表面的2d图像及3d高度图像；

32、计算模块，用于基于所述3d高度图像中所述产品表面的高度数据得到所述产品表面的高度平均标准差；

33、灰度处理模块，用于对所述2d图像进行处理获得2d灰阶图及灰阶能量分布图，标记所述2d灰阶图中灰阶值符合预设条件的区域为缺陷区域，并获取所述缺陷区域的灰阶能量数据；

34、所述获取模块还用于获取所述3d高度图像中与所述缺陷区域对应的所述产品表面的高度数据，所述计算模块还用于计算所述缺陷区域对应的所述产品表面的高度数据与所述高度平均标准差的高度差值；

35、判定模块，用于基于所述缺陷区域的所述灰阶能量数据与所述高度差值判断所述缺陷区域的缺陷类别，如所述灰阶能量数据与所述高度差值在预设范围内，判定所述缺陷区域内的缺陷为脏污；如所述灰阶能量数据与所述高度差值超出所述预设范围，判定所述缺陷区域内的缺陷为瑕疵。

36、本技术实施例还提供一种表面检测装置，用于检测具有不规则纹理表面的产品，包括：

37、运动机构，用于承接待检测的所述产品及带动所述产品沿预定轨迹运动；

38、传感器，用于对所述产品进行拍摄；

39、处理器，与所述传感器和所述运动机构耦接，用于执行：

40、控制所述传感器获取待检测的所述产品表面的2d图像及3d高度图像；

41、基于所述3d高度图像中所述产品表面的高度数据得到所述产品表面的高度平均标准差；

42、对所述2d图像进行处理获得2d灰阶图及灰阶能量分布图，标记所述2d灰阶图中灰阶值符合预设条件的区域为缺陷区域，并获取所述缺陷区域的灰阶能量数据；

43、获取所述3d高度图像中与所述缺陷区域对应的所述产品表面的高度数据，并计算所述缺陷区域对应的所述产品表面的高度数据与所述高度平均标准差的高度差值；

44、基于所述缺陷区域的所述灰阶能量数据与所述高度差值判断所述缺陷区域的缺陷类别，如所述灰阶能量数据与所述高度差值在预设范围内，判定所述缺陷区域内的缺陷为脏污；如所述灰阶能量数据与所述高度差值超出所述预设范围，判定所述缺陷区域内的缺陷为瑕疵。

45、本技术实施例还提供一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的表面检测方法的步骤。

46、本技术实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质有计算机程序，其中，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的表面检测方法的步骤。

47、本技术的表面检测方法、系统、装置、计算机设备及存储介质，通过获取待检测的产品表面的2d图像及3d高度图像，通过3d高度图像中产品表面的高度数据得到产品表面的高度平均标准差；通过对2d图像进行处理获取2d灰阶图及灰阶能量分布图，筛选出2d灰阶图中灰阶值符合预设条件的区域并标记为缺陷区域，并获取缺陷区域的灰阶能量数据；再通过获取3d高度图像中与缺陷区域对应的产品表面的高度数据，计算缺陷区域对应的产品表面的高度数据与高度平均标准差的高度差值；再通过缺陷区域的灰阶能量数据与高度差值判断缺陷区域的缺陷类别，如灰阶能量数据与高度差值在预设范围内，判定缺陷区域内的缺陷为脏污，如灰阶能量数据与高度差值超出预设范围，判定缺陷区域内的缺陷为瑕疵，从而实现对产品的纹理表面的缺陷进行检测并判定缺陷的类别为脏污或为瑕疵；藉此实现对产品的纹理表面的缺陷区域的缺陷的自动化检测，形成统一的检测标准，避免出现漏检和误检的情况，有效替代人工进行检测，提升检测效率。