一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质与流程

本发明涉及检测，尤其涉及一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质。

背景技术：

1、薄膜开关由多层薄膜材料组成，包括导电层、绝缘层和触摸感应层，这些层协同工作以提供触控功能；薄膜开关作为一种广泛应用于各类电子设备的组件，其性能直接影响用户的操作体验；随着智能设备的普及和技术的发展，对薄膜开关的触觉反应特性要求越来越高。

2、现有的薄膜开关检测技术薄膜开关的性能检测主要通过检测治具来测量按压力度，以及使用电阻或电流测量来评估开关的响应；但是常规的检测治具及其检测方法的性能指标单一，如按压力度或开关响应时间，而忽视了更为复杂的触觉反应特性，例如在不同操作强度下的灵敏度变化，并不能完全模仿真实的用户操作场景，可能无法全面评估薄膜开关在实际使用中的表现，在精确性、全面性和效率方面都存在局限，难以满足日益增长的高性能薄膜开关的检测需求。

3、鉴于此，需要对现有技术中的薄膜开关检测技术加以改进，以解决其检测性能指标单一，检测不准确的技术问题。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种薄膜开关的性能检测方法、系统、处理器和存储介质，解决以上的技术问题。

2、为达此目的，本发明采用以下技术方案：

3、一种薄膜开关的性能检测方法，包括：

4、提供触控模拟器和电容测量装置，将触控模拟器与所述电容测量装置同步设置；

5、触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；

6、设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；

7、对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征，根据所述触觉反应特征评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果。

8、可选的，提供触控模拟器和电容测量装置，将触控模拟器与所述电容测量装置同步设置；具体包括：

9、根据待测薄膜开关的特性，选取能够模拟多种触控行为的触控模拟器，以及电容测量装置；

10、设定触控模拟器的工作参数；所述工作参数包括触控频率、持续时间、触控强度及模式；

11、调整电容测量装置，以使所述电容测量装置的检测频率与所述触控模拟器的触控频率保持同步；

12、通过操作界面，以实时监控所述触控模拟器和电容测量装置的性能数据，结合所述性能数据对所述电容测量装置进行微调；

13、初步测试，验证触控模拟器和电容测量装置的同步性能是否满足测试要求，若否，则根据初步测试结果对所述调整电容测量装置进行进一步调整；若是，则继续执行。

14、可选的，所述触控模拟器运行以进行模拟触控操作，通过电容测量装置获取电容变化信号；具体包括：

15、在所述触控模拟器上搭载预设的触控程序，并校对触控模拟器的动作精度，使其与薄膜开关的尺寸参数相匹配；

16、启动所述电容测量装置，并对其进行预热工作，检测其与触控模拟器连接的同步性；

17、将薄膜开关装载至所述触控模拟器的检测位，启动所述触控模拟器按照其所述触控程序运行，以对薄膜开关进行模拟触控操作；

18、连续捕获薄膜开关在不同触控状态下的电容变化信号，并记录所述触控模拟器不同触控状态下对应的工作参数；

19、判断所述电容变化信号的信号是否为连续性的，若是，则输出所述电容变化信号；若否，则对所述触控模拟器进行故障修复或调整所述触控程序。

20、可选的，所述模拟触控操作过程中还包括：

21、采用取像组件对薄膜开关进行拍摄，以获取图像信息；

22、应用图像处理算法对图像信息进行处理，识别薄膜开关在不同触控状态下的视觉特征的变化，通过所述视觉特征的变化，触发对薄膜开关性能的评估；

23、解析处理后的图像信息，识别视觉响应中的模式和异常，获得视觉响应数据；

24、输出基于图像分析的性能评估结果和所述视觉响应数据。

25、可选的，所述设定电容变化的若干个触发阈值区间，并读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，以得到每个触发阈值区间内的变化幅度；具体包括：

26、分析薄膜开关的预期性能，基于所述预期性能设定电容变化的若干个触发阈值区间，并对每个所述触发阈值区间进行标记和编码；

27、在电容测量装置中编程，设置当电容变化达到或超过触发阈值时触发信号的逻辑；所述逻辑为当电容变化达到触发阈值时自动记录对应的电容读数；

28、在进行触控模拟操作时，实时监控电容变化，当达到设定的阈值区间时，自动记录对应的电容变化值；

29、在若干个触发阈值区间分别读取对应的触发阈值区间的触控强度变化值，从而制定对应的触控强度区间；

30、将记录的若干个触发阈值区间的电容变化值按照不同的触控强度区间进行分类，通过判断所述触控强度区间内电容变化值的最大值和最小值的差值，得到每个触发阈值区间内的变化幅度。

31、可选的，对获取的电容变化信号进行频率分析，根据电容变化频率和变化幅度，以识别薄膜开关的触觉反应特征；具体包括：

32、对获取的电容变化信号进行预处理，确定合适的分析窗口和样本间隔，并优化频率分析的分辨率；

33、采用傅里叶变换的频率分析方法，对电容变化信号进行处理，以获取频率谱；在频率谱中识别和记录电容变化的主要频率成分和相应的幅度；

34、分析所述频率谱中的特征峰值和谱线分布，以识别薄膜开关在不同触控条件下的电容变化模式；

35、在频率谱中提取电容变化频率和变化幅度的关系，确定触觉灵敏度的定量指标，以识别薄膜开关的触觉反应特征。

36、可选的，根据所述触觉反应特征评估薄膜开关的触觉灵敏度和一致性的结果；具体包括：

37、根据所述定量指标的大小评估薄膜开关的触觉灵敏度，获得第一评估结果；

38、利用多组触发阈值区间的电容数据比较不同触控状态下的频率分布和幅度变化，评估薄膜开关在重复触摸下的性能一致性，获得第二评估结果；

39、综合所述第一评估结果和所述第二评估结果，定量化薄膜开关的触觉特征；所述触觉特征的定量化过程包括响应时间、频率响应范围和一致性的评价。

40、本发明还提供了一种薄膜开关的性能检测系统，用于实现如上所述的薄膜开关的性能检测方法，所述性能检测系统包括：

41、触控模拟器，用于对薄膜开关进行模拟触控操作；

42、电容测量装置，用于检测薄膜开关在不同触控条件下的电容变化；

43、数据处理模块，用于对电容变化信号进行频率分析，并从中提取触觉反应特征；

44、交互界面，用于显示所述触控模拟器和所述电容测量装置的工作状态，以及电容检测数据；

45、控制模块，用于控制所述性能检测系统运行；

46、环境适应性模块，用于监测测试环境的温度、湿度，并对性能检测结果进行误差补偿。

47、本发明还提供了一种处理器，包括存储器和至少一个处理器，所述存储器中存储有指令；

48、所述处理器调用所述存储器中的所述指令，以使得所述处理器执行如上所述的薄膜开关的性能检测方法。

49、本发明还提供了一种存储介质，所述存储介质上存储有指令，所述指令用于实现如上所述的薄膜开关的性能检测方法。

50、与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：检测时，基于电容测量技术和触控模拟的相互配合，触控模拟器被用来模仿在薄膜开关上的触控操作，从轻触到按压，模拟不同的触控场景，在模拟操作进行的同时，与模拟器同步的电容测量装置记录薄膜开关内部的电容变化，薄膜开关在受到触控时其介电常数会发生变化，从而改变电容值；电容变化的数据被捕捉并通过设定的触发阈值区间进行分类，然后进行频率分析；通过综合观察电容值的变化频率和幅度，检测方法将准确地评估出薄膜开关的触觉反应特征，其对触控操作的反应速度和灵敏度，从而能够精确地描述开关的性能表现；本性能检测方法能够通过触控模拟和电容测量集成，能够综合考量薄膜开关在不同触控强度下的性能，捕捉到更复杂的触觉反应特性，从而克服了现有技术只关注单一性能指标的局限，提高了测试的精准度和全面性，确保了批量生产中薄膜开关品质的稳定性。