专利名称：光谱测量密封垫片的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于光谱测量激发室密封的密封垫片。
原光谱测量密封激发室用的氮化硼片，是由紫铜垫片与镶在垫片凹槽内的橡胶圈和氮化硼片组成。氮化硼片的缺点是材质脆、易裂，需经常更换，并且测试高含量合金钢的稳定性差。
本实用新型的目的在于提供一种新型光谱测量密封垫片，它使用寿命长，测试稳定性好。
本实用新型是这样实现的，圆形密封垫片上带有凸台，垫片有一中心孔，凸台外径与中心孔之间形成扇面，垫片直径D＝31.6±0.1mm，垫片厚度B＝3.1±0.1mm，凸台直径d＝21.5±0.1mm，凸台厚度b＝1.5±0.1mm，中心孔直径D0＝10±0.1mm，中心孔厚度B0＝0.5±0.1mm，密封垫片用钢制成，使用时，将密封垫片凸台向下置入激发室中，然后将被测试物放在密封垫片的上面，即可测试。
本实用新型结构简单、使用方便，耐用，易于加工。
图1是本实用新型光谱测量密封垫片的正视图；图2是图1光谱测量密封垫片的俯视图。
权利要求1.本实用新型是一种用于光谱测量激发室密封的密封垫片，其特征在于圆形密封垫片上带有凸台，垫片有一中心孔，凸台外径与中心孔之间形成扇面，垫片直径D=31.6±0.1mm，垫片厚度B=3.1±0.1mm，凸台直径d=21.5±0.1mm，凸台厚度b=1.5±0.1mm，中心孔直径Do=10±0.1mm，中心孔厚度Bo=0.5±0.1mm。
2.根据权利要求1所述的光谱测量密封垫片，其特征在于密封垫片用钢制成。
专利摘要本实用新型提供了一种光谱测量激发室密封的密封垫片，其特征在于圆形密封垫片上带有凸台，垫片有一中心孔，凸台外径与中心孔之间形成扇面。它不仅克服了原氮化硼片材质脆、易裂、测试高含量合金钢稳定性差的缺点，而且结构简单，使用方便，易于制造。
文档编号G01J3/02GK2096053SQ9122348
公开日1992年2月12日 申请日期1991年8月22日 优先权日1991年8月22日
发明者胡剑秋, 黄铁峰 申请人:第一重型机器厂