专利名称：1∶4短锥内外测规的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种加工过程中的检测装置，特别是涉及对于机床主轴端的外锥体及与之配套的卡盘或法兰盘锥孔作定量检测的短锥内外测规。
普通的短锥检测方法是用一套公母塞规来检测，它是以锥面为基础检测面，由于锥面短操作难以掌握，而且塞规磨损快，给计量和制造都带来浪费，它的工作规和校对规同是一个，计量时就不能使用，不适合大批量生产。
本实用新型的目的是提供一种以平面作为测量基准面、便于计量、同时可使工作规和校对规分开的14短锥内外测规。
本实用新型的14短锥内外测规包括一个测量规体，在规体上设有两个测量基准平面，两个测量基准平面之间固定设置有一个斜面固定测头和一个精密微测装置，该精密微测装置固定地安装在设于两测量基准平面之间的安装斜面上，精密微测装置的轴向垂直于安装斜面。用来检测内锥孔的测规，其精密微测装置是内孔千分尺测头；而用来检测外锥面的测规，其精密微测装置是外径千分尺测头。检测时，被测件的基准端面贴紧测规的测量基准平面，斜面固定测头与被测件的内锥孔壁或外锥面相切，并使千分尺测头顶紧内孔壁或外锥面即可读数计量。
本实用新型的内外测规以平面为测量基准面，操作容易，而且可以用普通塞规作为校对规，便于管理，适于大批量生产。
以下结合附图详细说明本实用新型的实施例。
图1是本实用新型的内锥测规的侧视图。
图2是图1的内锥测规的俯视图。
图3是本实用新型的外锥测规的侧视图。
图4是图3的外锥测规的俯视图。
图5是内锥孔被测件的示意图。
图6是外锥面被测件的示意图。
如图1，3所示，14短锥内外测规包括测量规体5，在规体5上设有两个处于同一平面的测量基准平面1，两个测量基准平面1之间设有斜面固定测头2和精密微测装置3，精密微测装置3固定在设于两基准平面1之间的安装斜面6的孔中，其轴向与安装斜面6垂直。如图1所示，用来检测被测件内锥孔的内测规的精密微测装置3是内孔千分尺测头，使用时把被测件7的基准端面8与测量基准面1贴紧，再把斜面固定测头2与被测件7的内锥孔壁相切，旋转微测装置3使微测头4顶紧被测件7的内锥孔壁即可读数计量。如图3所示，用以检测被测件外锥面的外测规的精密微测装置3是外径千分尺测头，检测方法与内测规相同，被测件9如图6所示，符号10表示被测件基准端面。
本实用新型的14短锥内外测规的安装斜面6以及斜面固定测头2与测量基准平面1的法线的夹角均为7°7′30″。
本实用新型的短锥内外测规以平面为测量基准面，操作简单，工作规与校对规分用，便于管理，适于大批量生产。
权利要求1.一种1∶4短锥内外测规，其特征在于由测量规体、斜面固定测头和精密微测装置组成，其中测量规体设置有两个测量基准平面，两基准平面处于同一平面上，斜面固定测头固装在两基准平面之间，精密微测装置固装在两基准平面间与测量规体一体成形的安装斜面上，精密微测装置的轴向垂直安装斜面。
2.根据权利要求1的14短锥内外测规，其特征在于斜面固定测头和安装斜面与测量基准平面法线的夹角都是7°7′30″。
3.根据权利要求1或2的14短锥内外测规，其特征在于精密微测装置是内孔千分尺测头。
4.根据权利要求1或2的14短锥内外测规，其特征在于精密微测装置是外径千分尺测头。
专利摘要本实用新型涉及一种1∶4短锥内外测量规，该内外规都包括有测量规体，在规体上设有测量平面，在规体上还设有斜面固定测头及精密微测装置，该精密微测装置是装在规体的孔中的。本实用新型以平面为测量基准面，使用时，可将斜面固定测头与被测件的内锥面或外锥面相切，再旋转微测装置，使精密微测头靠紧被测件，便可通过微测装置读数。本实用新型的测量规简单、易行、适于批量生产。
文档编号G01B3/38GK2127168SQ9222406
公开日1993年2月17日 申请日期1992年6月10日 优先权日1992年6月10日
发明者隋钰三 申请人:隋钰三