专利名称：微控制器功能的测试方法
技术领域：
本发明涉及一种集成电路功能的测试方法，尤指一种针对微控制器集成电路功能的测试方法，经由外部模式、内部模式及读应用程序模式三个通道来进行微控制器功能的测试以提高其测试效率。
从日用品至高技术产品，集成电路已被广泛地使用于各方面，而集成电路的质量好坏将影响产品性能的优劣性，故在测试集成电路功能的方法上，便成一重要环节。
知集成电路测试方法可分为两种，请参阅
图1，其为一习知集成电路测试方法的示意图，其中由测试机台10输出一控制讯号至待测元件12以执行测试工作，然后再由待测元件12输出一讯号至测试机台10并比对其期望值，以推断待测元件是否能正常使用。测试机台10主要在模拟待测元件12的实际动作，故当待测元件12要测试的功能增加时，由测试机台10输入的测试项目势必跟著增加，使得整个测试时间延长亦即增加测试成本。
但在微控制器的测试时，因为微控制器的内建程序单元及状态机(statemachine)的元件，其元件功能会受内部程序控制，不同的程序运作下会有不同的输出，若仍采用图1所示的传统测试方法，则势必会有测试上的困难，因为若微控制器的内建程序一改，即需重新修改各项测试项目及测试模式。
针对微控制器的测试，有人设计出由测试机台输入各项指令给微控制器执行，再由微控制器将执行结果送回测试机台以供比较之用。但采用此技术时，势必要将原有时序错开以便传递两种信号，不但浪费时间且此时的时序与实际时序已不同，有时会产生已测试成功，而元件实际应用却失败的现象，而影响集成电路的质量。
再者，请参阅图2，其为另一习知集成电路测试方法的示意图，其中待测元件16包含有控制线路18为将指令解码及执行指令并输出信号至测试机台14，原控制信号源24是作为储存应用程序之用，控制信号产生装置22是作为储存测试程序用并进行自我测试，且不随应用程序更改其测试程序，在测试时，程序记忆体切换至测试程序，即控制信号产生装置22其依据内建的测试程序以对待测元件进行自我测试，测试信号由控制线路18传送至测试机台14与期望值比对以检视待测元件的功能正常与否，在此测试方法中，因控制信号产生装置22的内建测试程序一旦设计后便很难修改，将使其测试弹性降低；再者，基于成本的考虑，一程序记忆体会把大部分的空间用来储存应用程序而剩下空间再做测试程度记忆体之用，故在有限的测试记忆体空间下，很难将待测元件测试完全，以至影响其质量。
由以上可知，上述习知的微控制器的测试方式，显然存在不便与缺点，而可待加以改善。
本发明的主要目的，在于提供一种不影响电路质量的微控制器的测试方法，主要可由外部模式、内部模式及读应用程序模式三通道传送指令进行测试，以减少测试用的时间及避免因测试而影响集成电路的质量，并为便利于测试不同的集成电路以了解其功能是否正常，本发明的微控制测试方法设有数个测试路径及功能，且在测试功能项目下，发明者可在能利用的容量空间下增设多个测试项目。
结合附图及实施例对本发明的特点详细说明如下附图简单说明图1习知集成电路的测试方法示意图；图2另一习知集成电路的测试装置示意图；图3本发明实施例的测试示意图；图4本发明实施例的控制流程图。
首先，请先参阅图3本发明实施例的系统示意图，其中待测元件26包括测试模式切换寄存器42及测试控制线路38属于外部模式，而测试模式切换寄存器42为接受一测试单元如测试机台28输入的外部指令以选择测试模式，是作为各种测试模式转换用，并可视实际需要增加其它测试模式，测试控制线路38为控制由测试单元输入的外部指令的时序并传送外部指令经多工器32至控制线路30，而控制线路30是作为将指令解码及执行程序指令并将信号传送至一测试单元如测试机台28以进行比对；另微控制器的原有记忆体，被分割成二部分而构成内部模式，一应用程序记忆体34是作为储存应用程序之用，另一测试程序记忆体36做为储存测试程序之用，测试时微控制器的记忆体切换至测试程序记忆体36并依据其内建测试程序来进行自我测试，其测试程序采用模组化设计，以单项测试功能为主而强化测试弹性；另外只读记忆体读取装置40为读取应用程序记忆体34的程序码，以测试应用程序记忆体34是否能够输出正常指令以执行其程序动作，而构成读应用程序模式；本发明可利用三个通道以进行测试工作，其中当内部模式部分测试功能不足或不适用时，可暂时由外部模式取代测试工作，解决以往测试不完的困难，故此测试方法不但提高测试效率并且可测试各种不同的待测元件。
请参阅图4，其为本发明实施例的控制流程图，首先进行打开电源开启44，接著判断是否要进行测试动作46，若否则待测元件正常执行程序动作48，若是则信号进入外部模式50的测试模式切换寄存器，接著切换寄存器读取由外界输入的指令(f)以选择测试模式52，若选择外部模式50则外部模式50的测试控制线路将传送信号，待测试完毕，再将主控仅交回外部模式50的测试模式切换寄存器并继续作业，若选择内部模式58则进入内部模式58的测试程序记忆体，并选择要测试的测试功能，待测试完毕将主控权送回外部模式50的测试模式切换寄存器并继续作业，待外部模式50及内部模式58要测试的全部测试功能测试完毕后，则选择读应用程序模式54以执行指令，并结束测试工作56。
权利要求
1.一种微控制器功能的测试方法，用以执行下述的测试模式，待测元件的测试结果送至一测试单元，测试单元进行比对，所述测试模式包括有一外部模式，将测试单元输出的外部指令输入至待测元件以选择待测元件的测试路径；一内部模式，接受由所述测试单元输入的外部指令的选择，使待测元件执行其所储存所内建测试程序以进行自我测试；一读应用程序模式，接受由所述测试单元输入的外部指令的选择，读取所述待测元件所储存的应用程序的程序码，以供测试单元进行比对。
2.根据权利要求1所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，其测试步骤包括有a、判断是否进行测试运作，若否则待测元件正常执行所要执行的程序动作，若是则进入外部模式阶段；b、于外部模式读取由所述测试单元输入的外部指令，以选择执行外部模式的测试，或选择各种测试模式的测试；c、若选择外部模式的测试，则待测元件将测试单元输入的外部指令解码及执行指令，并将结果送回测试单元；d、待各项测试步骤完毕后，测试单元输入一外部指令将测试模式切换至所述读应用程序模式，并执行测试；e、结束测试。
3.根据权利要求2所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，所述测试步骤C不选择所述外部模式的测试，测试步骤C若选择所述内部模式的测试，则进入所述内部模式并选择要测试的测试功能以执行测试，并将结果送回测试单元。
4.根据权利要求3所述的微控制器的测试方法，其特征在于，若选择内部模式的测试，则待测元件的内建测试程序至少包括一种以上的测试模组功能。
5.根据权利要求2所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，所述测试步骤C可不执行，则测试步骤d为测试单元输入一外部指令将测试模式切换至读应用程序模式，并执行测试。
6.根据权利要求1所述的微控制器功能的测试方法，其特征在于，所述待测元件包括有一测试模式切换寄存器，为接受所述测试单元输入的外部指令以选择测试模式，并作各种测试模式转换；一测试控制线路，电连接至所述测试模式切换寄存器，以控制所述测试单元输入的外部指令的时序，并传送外部指令；一多工器，电连接至所述测试控制线路，接受测试控制线路的输出信号；一控制线路，电连接至所述多工器以接受其输出信号，将输入信号解码及执行，并将执行结果输出至测试单元。一测试程序记忆体，电连接至所述多工器，用以储存一内建测试程序，于所述内部模式测试时，输出信号至多工器；一应用程序记忆体，用以储存应用程序，于执行读应用程序模式时，输出程序码；一记忆体读取装置，电连接至所述多工器，为读取所述应用程序记忆体的程序码，以供测试单元进行比对。
全文摘要
一种微控制器功能的测试方法,主要由测试模式切换寄存器读取由外界输入的指令以选择要测试的模式,测试步骤:判断是否进行测试运作,若否则待测元件正常执行所要执行的程序动作,若是则进入外部模式阶段;于外部模式读取由所述测试单元输入的外部指令,以选择执行外部模式的测试,或选择各种测试模式的测试;若选择外部模式的测试,则待测元件将测试单元输入的外部指令解码及执行指令,并将结果送回测试单元;待各项测试步骤完毕后,测试单元输入一外部指令将测试模式切换至所述读应用程序模式,并执行测试;结束测试。
文档编号G01R31/28GK1170877SQ9610718
公开日1998年1月21日 申请日期1996年7月12日 优先权日1996年7月12日
发明者方议谅, 余国成 申请人:合泰半导体股份有限公司