新型可调节测试插座盖的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种芯片测试插座盖，具体为一种新型可调节测试插座盖。
【背景技术】
[0002]随着科学技术的发展，电子芯片已经广泛应用于各种电子产品中。在完成芯片大批量生产后，需要对芯片的合格性进行检测，以此来挑选出不合格的芯片，而保留合格的芯片。然而，由于芯片属于高精密产品，在对其进行检测的时候，需要将检测模具的探针准确对准芯片上的引脚，因此，对裸露的芯片放置在测试工装夹具时，需要对裸芯片进行准确定位，才能对裸芯片进行准确检测。而传统的测试设备只能同一个测试设备应用于一种厚度的芯片测试，即使同样长宽尺寸的芯片，由于芯片厚度不同，也需要制作新的插座盖来保证精密测量，造成成本过高。
【发明内容】
[0003]本发明要解决的技术问题是:为克服上述问题，提供一种能测试不同厚度芯片的新型可调节测试插座盖。
[0004]本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:
[0005]一种新型可调节测试插座盖，其特征在于，包括中空的底座，所述底座上侧设置有上壳体，所述底座的一侧与所述上壳体的一侧可旋转的连接，所述上壳体上在与所述底座连接侧的相对一侧设置有可旋转的锁定件，所述锁定件可锁扣在所述底座的卡扣上，所述上壳体的下侧还弹性固定有压板，所述上壳体中间设置有圆柱形的中空部，所述中空部的内壁上设置有内螺纹，所述中空部内设置有压圈，所述压圈上设置有与所述内螺纹配合的外螺纹，所述压圈上固定连接有旋钮部，所述压圈和旋钮部之间固定有刻度盘，所述刻度盘上设置有多个定位孔，所述上壳体上设置有与所述定位孔对应的定位件，所述刻度盘上在所述压圈一侧还设置有限位件，所述限位件限制压圈旋转的角度。
[0006]优选地，所述定位件为定位销，所述定位销从所述上壳体下侧贯穿后伸入所述定位孔中，所述定位销的下端还连接有固定座，所述固定上还设置有按钮件，所述按钮件贯穿所述上壳体后伸出。
[0007]优选地，所述上壳体在所述锁定件的两侧分别设置有两个凸起块，所述锁定件的两边侧中间分别设置有销孔，所述两个凸起块上设置的边侧销分别伸入所述销孔内，所述锁定件与所述上壳体之间还设置有弹簧，所述锁定件上在靠近所述上壳体的一侧上部设置有卡孔，所述上壳体上对应设置所述卡孔设置有卡固销，所述卡固销贯穿所述上壳体外壁延伸入所述中空部中，所述卡固销可被所述旋钮部顶出并伸入卡孔内。
[0008]优选地，所述中空部的上边缘设置有对应所述刻度盘的凹槽，所述刻度盘可在所述凹槽内旋转。
[0009]优选地，所述压板通过弹簧固定连接到上壳体的下侧。
[0010]优选地，所述底座的一侧通过固定销与所述上壳体可旋转的连接。
[0011]优选地，所述定位孔设置2-8个。
[0012]本发明的有益效果是:本发明所述新型可调节测试插座盖在需要测试另外不同厚度的芯片时，将所述定位件从所述定位盘上的一个定位孔取出，并卡位在另一个定位孔内，所述刻度盘可从原定位孔位置被旋转到另一个定位孔位置，使限位杆的位置发生变化，所述旋钮部可旋转的幅度相应变化，此时旋转旋钮部至所述限位杆的止动位时，所述压板的高度发生改变并与当前芯片厚度匹配，从而实现一套测试插座盖应用于多个不同厚度的芯片测试。
【附图说明】
[0013]下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
[0014]图1是本发明一个实施例的爆炸图；
[0015]图2是本发明一个实施例另一个角度的爆炸图。
[0016]图中标记:1-旋钮部，2-压圈，3-限位件，4-上壳体，5-卡固销，6-压板，7-锁定件，8-底座，9-刻度盘，10-固定销，11-卡扣，12-弹簧，13-凸起块，14-中空部，15-按钮件，16-定位件，17-固定座，18-定位孔。
【具体实施方式】
[0017]现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。
[0018]如图1和图2所示的本发明所述一种新型可调节测试插座盖，包括中空的底座8，所述底座8上侧设置有上壳体4，所述底座8的一侧与所述上壳体4的一侧可旋转的连接，所述底座8与所述上壳体4可采用现有技术中各种常规的旋转连接，具体不限定，所述上壳体4上在与所述底座8连接侧的相对一侧设置有可旋转的锁定件7，所述锁定件7可锁扣在所述底座8的卡扣11上，因此，上壳体4在连接侧可以连接线为轴转动，并且覆盖在所述底座8上之后，可通过锁定件7牢固的卡固在所述底座8的卡扣11上，所述上壳体4的下侧还弹性固定有压板6，所述上壳体4中间设置有圆柱形的中空部14，所述中空部14的内壁上设置有内螺纹，所述中空部14内设置有压圈2，所述压圈2上设置有与所述内螺纹配合的外螺纹，所述压圈2通过外螺纹与所述中空部14内壁齿合，所述压圈2上固定连接有旋钮部1，当旋转旋钮部I时，所述压圈2通过螺纹在中空部14内上下运动，所述压圈2和旋钮部I之间固定有刻度盘9，所述刻度盘9上设置有多个定位孔18，所述上壳体4上设置有与所述定位孔18对应的定位件16，所述刻度盘9上在所述压圈2 —侧还设置有限位件3，所述限位件3限制压圈2旋转的角度，所述限位件3根据选择的定位孔18不同能限制所述压圈2旋转不同的角度；
[0019]本发明的原理如下:测试芯片时，选择所述刻度盘9上的一个定位孔A与所述定位件16对准并卡位，将本发明测试插座盖组装到带有芯片的测试插座上，转动所述旋钮部I使得所述压圈2在所述中空部14内向下运动，所述压圈2再推动所述压板6，因为所述压板6与所述上壳体4为弹性连接，因此压板6向下运动并压在测试芯片上。当旋钮部I旋转被限位件3止动时，所述压板6的下表面刚好完全压住测试芯片表面，将芯片固定，保证芯片测试状况稳定可靠。
[0020]当需要测试另外不同厚度的芯片时，将所述定位件16从所述定位盘上的定位孔A