例中，每个所述子密封环境内的所述插座的个数相等，且至少为3个，且每个所述子密封环境内的所述光源的个数相等。因为同一类待测芯片106对光谱要求一般不会超过三种，可以根据测试过程中待测芯片106对光谱的具体需要安装不同的所述LED灯105，以实现待测芯片106多光谱测试。从而可以实现多种待测芯片106的测试，比如CIS (CMOS Image Sensor，CMOS图像传感器)芯片、光电传感芯片、金融IC卡等。
[0036]进一步的，根据实际需要，每个所述子密封环境中所述光源的个数可以随意设置，也就是说，如果待测芯片106只需要一种光，则每个所述密封子环境中只要有一个所述光源即可；如果待测芯片106只需要两种光，则每个所述密封子环境中只要有两个个所述光源即可；如果待测芯片106需要三种光，则每个所述密封子环境中就要有三个所述光源。即，每个所述子密封环境中至少要有一个所述光源。
[0037]具体的，图像传感芯片一般需要全暗、白光标准光照、白光饱和光照三种测试环境，因此可在每个所述光源隔离单元103的3个所述LED灯105插座内均安装最高照度值可达到图像传感芯片需要的饱和照度的白光LED，不点亮LED灯105即为全暗环境。
[0038]进一步的，所述多个光源隔离单元103均为空心柱状盒，所述空心柱状盒的两端均为开口，所述空心柱状盒的两端分别与所述光源基板102和所述测试接口板109可拆卸式连接。所述空心柱状盒可以为空心圆柱状，也可以是空心长方体柱状，或者其他形状的空心柱状。较优的为空心圆柱状。每一个所述空心柱状盒与所述光源基板102和所述测试接口板109形成一个密封环境，可以实现对一个待测芯片106进行测试。
[0039]更进一步的，所述空心柱状盒的内表面设置有抗反射材料涂层，避免光线反射。
[0040]所述光源结构还包括照度控制单元，所述照度控制单元位于所述光源基板102上，并通过一控制信号线108与所述测试接口板109与ATE的控制信号连接，用于调整所述多个光源的照度。通过调节所述ATE的控制信号的脉冲宽度比来控制所述LED等的照度。
[0041]具体的，在对图像传感芯片进行测试时，调节所述ATE控制信号的脉冲宽度比来控制所述LED灯105，使得所述LED灯105提供标准或者饱和光照环境，从而实现对图像传感芯片在全暗、白光标准光照、白光饱和光照三种测试环境中的测试。
[0042]所述LED灯105照度的反馈是通过安装在待测芯片106旁边的光敏电阻107来实现的ATE给所述光敏电阻107施加一电压值，读取流经所述光敏电阻107的电流值，可计算出所述光敏电阻107的阻值，根据预先存储的阻值-照度曲线可算出相应的光照照度。
[0043]所述光源结构还包括保护及自检单元，所述保护及自检单元与所述多个光源连接，所述保护及自检单元的信号线通过所述测试接口板109与所述ATE连接。
[0044]具体的，所述保护及自检单元包括多个保护电阻，所述多个保护电阻的个数与所述多个光源的个数相等，更进一步的，每个所述光源与一个所述保护电阻串联，也就是说每个LED灯105均与一个所述保护电阻串联，所述保护电阻可以限制流经与所述保护电路连接的所述LED灯105的电流，从而对所述LED灯105进行保护，提高所述LED灯105的使用寿命，降低所述光源结构的成本及芯片测试成本。所述ATE对所述保护电阻施加一电流，检测所述保护电阻两端的电压，根据所检测到的电压的大小来判断所述LED灯105是开路还是短路。当检测到的所述电压为零的时候，所述LED等是开路；如果所述电压大于零时，则所述LED灯105为短路。
[0045]综上，在本发明实施例提供的光源结构中，所述多个光源隔离单元103可以实现多个待测芯片106同时进行测试，提高芯片测试效率，降低芯片测试成本。所述照度控制单元可以用来调整所述光源的照度，所述保护及自检单元可对所述光源电路进行保护和自检，提高所述光源结构的安全性，进一步降低了芯片测试成本。
[0046]上述仅为本发明的优选实施例而已，并不对本发明起到任何限制作用。任何所属技术领域的技术人员，在不脱离本发明的技术方案的范围内，对本发明揭露的技术方案和技术内容做任何形式的等同替换或修改等变动，均属未脱离本发明的技术方案的内容，仍属于本发明的保护范围之内。
【主权项】
1.一种光源结构，其特征在于，包括: 壳体，所述壳体设一开口，所述壳体放置于一测试接口板上，所述开口面向所述测试接口板，所述壳体与所述测试接口板形成一密封环境； 光源基板，所述光源基板位于所述壳体内表面且正对着所述测试接口板的一面上； 多个光源隔离单元，所述多个光源隔离单元可拆卸式连接于所述光源基板和所述测试接口板之间，用于在所述光源基板和所述测试接口板之间形成多个子密封环境； 多个光源，所述多个光源位于所述光源基板上，所述多个光源提供多个光谱，每个所述子密封环境内至少有一个所述光源； 照度控制单元，所述照度控制单元位于所述光源基板上，并与所述测试接口板上的控制信号连接，用于调整所述多个光源的照度；以及 保护及自检单元，所述保护及自检单元与所述多个光源连接。
2.如权利要求1所述的光源结构，其特征在于，所述壳体内表面设置有抗反射材料涂层，以避免光线反射。
3.如权利要求1所述的光源结构，其特征在于，所述壳体与所述测试接口板的连接处设置有密封圈。
4.如权利要求1所述的光源结构，其特征在于，所述光源基板面向所述测试接口板的一面上设置有多个插座。
5.如权利要求4所述的光源结构，其特征在于，所述多个插座的个数与所述多个光源的个数相等，所述多个光源插入所述插座中。
6.如权利要求4所述的光源结构，其特征在于，每个所述子密封环境内的所述插座的个数相等。
7.如权利要求6所述的光源结构，其特征在于，每个所述子密封环境内的所述插座的个数至少为3个。
8.如权利要求1所述的光源结构，其特征在于，每个所述光源隔离单元内的所述光源的个数相等。
9.如权利要求1所述的光源结构，其特征在于，所述多个光源隔离单元均为空心柱状盒，所述空心柱状盒的两端均为开口，所述空心柱状盒的两端分别与所述光源基板和所述测试接口板可拆卸式连接。
10.如权利要求9所述的光源结构，其特征在于，所述空心柱状盒的内表面设置有抗反射材料涂层，避免光线反射。
11.如权利要求1所述的光源结构，其特征在于，所述保护及自检单元包括多个保护电阻，所述多个保护电阻的个数与所述多个光源的个数相等。
12.如权利要求11所述的光源结构，其特征在于，每个所述光源与一个所述保护电阻串联。
【专利摘要】本发明提供了一种光源结构，包括：壳体，所述壳体设一开口，所述壳体与所述测试接口板形成一密封环境；光源基板，所述光源基板位于所述壳体内表面且正对着所述测试接口板的一面上；多个光源隔离单元，所述多个光源隔离单元可拆卸式连接于所述光源基板和所述测试接口板之间；多个光源，所述多个光源位于所述光源基板上；照度控制单元，所述照度控制单元位于所述光源基板上保护及自检单元。所述多个光源隔离单元可以实现多个待测芯片同时进行测试，提高芯片测试效率，降低芯片测试成本。所述照度控制单元可以用来调整所述光源的照度，所述保护及自检单元可对所述光源电路进行保护和自检，提高所述光源结构的安全性，进一步降低了芯片测试成本。
【IPC分类】G01R1-28
【公开号】CN104535807
【申请号】CN201410838341
【发明人】张文情, 祁建华, 张志勇, 余琨, 叶建明, 王锦
【申请人】上海华岭集成电路技术股份有限公司
【公开日】2015年4月22日
【申请日】2014年12月25日