料位测量设备的制造方法_6

文档序号:8367309阅读:来源:国知局
线狂)对称延伸的两个主发射波束,W及 -所述主发射波束相对于所述空屯、导体壁(37)的表面法线狂)延伸的角度(0。)随所 述发射信号(S。)的中屯、频率(f。)而改变。
6. -种方法,用于通过如权利要求2所述的根据脉冲雷达原理工作的料位测量设备 巧),测量在容器(1)中形成平表面的填充物质(3)的料位(L),包括W下步骤: -在测量周期中,执行利用不同中屯、频率(f。)的多个发射信号(S。)的多次测量,其中, 在每一情况下, --发送具有对特定测量预确定的中屯、频率(f。)的微波脉冲的发射信号(S。), --接收其相关接收信号(R。),W及 --基于所述接收信号(R。),在每一情况下,得出测量曲线(AD(t)),所述测量曲线 (AD(t))示出作为相关信号传播时间(t)的函数的各个接收信号(R。)的振幅(A), -对每一测量曲线(AD(t)),确定所述测量曲线(AD(t))的最大值(Es,EuEb)的传播时 间(tn,,t\,tV和最大振幅(AD,,A\,A",),在每一情况下,它们分别归因于位于所述容器(1) 中的反射器,尤其是所述填充物质(3)、所述容器底部或横向伸入到所述发射信号(S。)的光 束路径中的干扰(7)上的反射, -基于所记录的测量曲线(AD(t))的最大值(Es,EuEb)的传播时间(*"5,的,的),确定 归因于同一反射器的包含在不同测量曲线(AD(t))中的那些最大值巧S,町,岛), -基于归因于同一反射器的测量曲线(AD(t))的最大值化,町,Eb)的最大振幅 (An,,A\,Ane)及相关福射特性,得出与间距(X)有关的信息,特定反射器在垂直于所述天线 (9)的主发射方向(脚延伸的平面中离所述主发射方向(脚的轴W所述间距(X)定位,其 中,归因于同一反射器的最大值(Es,EuEb)在该反射器的较大间距(X)下,与较低中屯、频率 相比,在较高中屯、频率(f。)下,具有较低最大振幅(An,,A\,AV ;并且在较小间距(X)下,与 较低中屯、频率相比,在较高中屯、频率(f。)具有较大最大振幅(An,,A\,Ane)。
7. 根据权利要求6所述的方法,其中 基于与所述反射器的间距(X)有关的信息,区别归因于横向伸入到所述容器(1)中的 干扰(7)的反射的最大值巧S)和归因于所述填充物质的表面或所述容器底部的反射的测 量曲线(AD(t))的最大值巧uEb)。
8. 根据权利要求7所述的方法,其中 在测量周期中发现的归因于横向伸入到所述容器(1)中的干扰(7)的反射的最大值 巧S)和归因于所述填充物质的表面或所述容器底部的反射的测量曲线(AD(t))的最大值 (EuEb)之间的区别被应用于料位(L)的后续确定中,尤其是在用于屏蔽归因于干扰(7)的 反射的各个测量曲线(AD(t))的振幅部分的方法,或在对至少一个反射器,基于从后续执行 的测量周期得出的测量曲线(AD(t)),确定归因于各个反射器的反射的最大值(Es,EuEc)的 时间发展的方法的执行或检查中。
9. 一种方法,用于在填充物质(21)形成基本上关于所述填充物质的主发射方向(脚的 轴旋转对称延伸的表面的应用中,通过如权利要求2所述的根据脉冲雷达原理(5)工作的 料位测量设备巧),测量在容器(1)中的所述填充物质(21)的料位(L),包括W下步骤: -在测量周期中,执行利用不同中屯、频率(f。)的多个发射信号(S。)的多次测量,其中, 在每一情况下, --发送具有对特定测量预确定的中屯、频率(f。)的微波脉冲的发射信号(S。), --接收其相关接收信号(R。),W及 --基于所述接收信号(R。),在每一情况下,得出测量曲线(AD(t)),所述测量曲线 (AD(t))示出作为相关信号传播时间(t)的函数的各个接收信号(R。)的振幅(A) -由于在不同中屯、频率(f。)下主波束的孔径角(a。)不同,在单独测量中,所述发射信 号(S。)照射容器(1)中的不同大的同屯、宽度炬n),W及 -基于同屯、宽度炬。)和传播时间范围中的测量曲线(AD(t))的振幅属性,得出容器(1) 中的填充物质的表面的轮廓,在该传播时间范围中,在测量曲线(AD(t))中出现归因于所述 填充物质(21)的反射的最大值巧
10. 根据权利要求9所述的方法,其中 -所述容器(1)中的所述填充物质(21)形成粒状材料锥形(23),其锥形纵轴与所述天 线(9)的主发射方向㈱的轴重合, -基于对通过最高中屯、频率(fi)得出的测量曲线(Ai(t)),归因于填充物质(21)的反 射的最大值巧^f。))出现的传播时间(t^sp),确定在锥形尖端的区域中的填充物质(21) 的料位(Li),-形成通过相邻中屯、频率的发射信号(Sw,S。)得出的单独测量曲线 (AW(t),An(t))之间的差(Aw,n), -对每一差(Aw,。),确定各个差(Aw,。)的最大值(Mw,。)的传播时间(tw,。), -在每一情况下,与所述差(AwJ相关的是与主发射方向(脚的轴形成的平均发射角 (0。^。),在所述平均发射角(0。^。)下,在每一情况下,具有较低中屯、频率(fw)的发射信 号(Sw)被发送到环形区(Rw,。)上,所述环形区(Rw,。)位于通过具有分别较高中屯、频率 (f。)的发射信号(S。)照射的宽度炬。)外并且在通过分别较低中屯、频率(fw)的发射信号 (Sw)照射的宽度炬W)内,W及 -基于所述差(Aw,。)的最大值(Mw,。)的传播时间(tw,。)和相关发射角(0。+1,。),在 经各自的相关传播时间(tw,。)和相关的发射角(0。+1,。)确定的垂直于锥形轴的距所述锥 形轴的距离(X),确定所述容器(1)中的填充物质(21)的料位(Lw,。)。
11. 一种方法,用于通过具有末端无反射、闭合的矩形空屯、导体(29)的如权利要求5所 述的根据脉冲雷达原理(5)工作的料位测量设备,测量在容器(1)中的所述填充物质(32) 的料位(L),包括W下步骤: -在测量周期中,执行利用不同中屯、频率(f。)的多个发射信号(S。)的多次测量,其中, 在每一情况下, --发送具有对特定测量预确定的中屯、频率(f。)的微波脉冲的发射信号(S。), --接收其相关接收信号(R。),W及 --基于所述接收信号(R。),在每一情况下,得出测量曲线(AD(t)),所述测量曲线 (AD(t))示出作为相关信号传播时间(t)的函数的各个接收信号(R。)的振幅(A) -对每一测量曲线(AD(t)),确定其中包含的归因于填充物质的表面的反射的最大值 斬)的传播时间(t。),W及 -基于该些传播时间(t。)、相关发射信号(S。)的中屯、频率(f。),和W各自的中屯、频率 (f。)形成的主发射波束与表面法线狂)形成的角度(0。),在经传播时间(t。)和各自的相关 角(0。)确定的、垂直于表面法线狂)的离表面法线狂)的间距(X。)处,确定所述容器(1) 中的填充物质(32)的料位(L。)。
12. -种方法,用于在天线(27)的发射平面中,填充物质(21)形成基本上关于矩形空 屯、导体(29)的表面法线狂)对称的表面的应用中,通过具有末端开路或短路的矩形空屯、导 体(29)的天线(27)的如权利要求5所述的根据脉冲雷达原理工作的料位测量设备,测量 容器(1)中的填充物质的料位,其中, -在测量周期中,执行利用不同中屯、频率(f。)的多个发射信号(S。)的多次测量,其中, 在每一情况下, --发送具有对特定测量预确定的中屯、频率(f。)的微波脉冲的发射信号(S。), --接收其相关接收信号(R。),W及 --基于所述接收信号(R。),在每一情况下,得出测量曲线(AD(t)),所述测量曲线 (AD(t))示出作为相关信号传播时间(t)的函数的各个接收信号(R。)的振幅(A), -对每一测量曲线(AD(t)),确定归因于所述填充物质的表面的反射的其中包含的最大 值恥)的传播时间(t。),W及 -基于该些传播时间(t。)、相关发射信号(S。)的中屯、频率(f。),和W各自的中屯、频率 (f。)形成的主发射波束与表面法线狂)形成的角度(0'。),在经传播时间(t。)和在每一情 况下的相关角(0'。)确定的、垂直于表面法线狂)的离表面法线狂)的间距(X。)处,确定 所述容器(1)中的填充物质(3。的料位(L。)。
13. 根据权利要求10、11或12所述的方法,其中,基于由料位(L"a";L。)和它们出现的 各自的相关间距(Xw,",X。)给出的测量点,特别是通过内插、滤波或平滑,得出轮廓,该轮廓 示出作为间隔(X)的函数的料位(L(x))。
14. 根据权利要求13所述的方法,其中,对作为间隔(X)的函数的料位(L(x))的突然 弯曲或跳变,检查该轮廓。
15. 根据权利要求6、9、11或12所述的方法,其中 使测量曲线(A"(t))的振幅(A)归一化,所述归一化考虑到取决于各个发射信号(S。) 的微波脉冲的中屯、频率(f。)的天线(7, 27)的福射特性的方向相关性。
16. -种空屯、导体缝隙天线(27),用于发送或用于发送并且接收位于由下限频率 (fmJ和上限频率(fmJ限定的频谱内的不同中屯、频率(f。)的信号(S。),并且取决于各个 发射信号(S。)的中屯、频率也),具有对不同的中屯、频率也)不同的空间福射特性,包括; -矩形空屯、导体(29), --所述矩形空屯、导体(29)具有输入(33),经所述输入(33)馈送待发送的信号, --所述矩形空屯、导体(29)的与所述输入(33)相对的末端(35)被短路、被端接有无反 射端,或被开路,W及 --所述矩形空屯、导体(29)具有空屯、导体壁(37),所述空屯、导体壁(37)配备有槽形切 口(39),所述槽形切口(39) W与所述空屯、导体壁(37)的中屯、相同的间距(Ay),在每一情 况下,平行于所述矩形空屯、导体(29)的纵轴延伸的两行中相继布置,其中, ---就两行中相继的切口的形状和间距而言,两行是相同的, ---在矩形空屯、导体(29)的纵向中,使两行W偏移量(A)相对于彼此偏移布置,所述 偏移量(A)处于W上限频率(fmJ,在所述矩形空屯、导体(29)中形成的波长(A (fmJ)的 约一半大小, ---在每一行中的切口(39) W周期距离值)周期性地布置,所述周期距离值)处于W 下限频率(fmJ,在所述矩形空屯、导体(29)中形成的约波长(A (fmJ)大小,化及 ---所述切口(39)具有长度(L),所述长度(L)处于W上限频率在所述矩形空 屯、导体(29)中形成的波长(A (fmJ)的约一半大小,并且显著小于所述偏移量(A)。
【专利摘要】公开了一种料位测量设备(5,25),其根据脉冲雷达原理工作,用于测量容器(1)中的填充物质(3,21,32)的料位(L),包括:发射系统(11),其具有脉冲生成系统(15),脉冲生成系统(15)连接到控制单元(13)并且对分别包括至少两次测量的预确定测量周期中的各个测量,对每一测量,产生由预确定的平均频率(fn)的至少一个微波脉冲,尤其是周期性相继的一系列微波脉冲构成的发射信号(Sn),其中,至少两次测量的发射信号(Sn)的平均频率(fn)相互不同;进一步包括天线(9,27),其连接到发射系统(11),将发射信号(Sn)发送到容器(1)中,并且接收朝向天线(9,27)在容器(1)中反射的信号部分作为接收信号(Rn),并且对不同的平均频率(fn),具有取决于发射信号(Sn)的平均频率(fn)的不同空间辐射特性;进一步包括信号处理系统(19),其连接到发射系统(11)和天线(9,27),并且接收并且基于对应发射信号(Sn)的微波脉冲的平均频率(fn)和天线(9,27)的空间辐射特性的平均频率相关性评估接收信号(Rn)。
【IPC分类】G01F23-284
【公开号】CN104685327
【申请号】CN201380050332
【发明人】托马斯·布勒德特
【申请人】恩德莱斯和豪瑟尔两合公司
【公开日】2015年6月3日
【申请日】2013年8月28日
【公告号】DE102012109101A1, DE102012109101A8, EP2901110A1, US20150253177, WO2014048663A1
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