氙灯发光强度分布测试装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及氙灯，特别是一种测试氙灯发光强度分布装置。
【背景技术】
[0002]氙灯发光强度分布测试广泛应用于工业和科研领域。氙灯发光强度分布控制技术可以有效提高氙灯在激光放大器中的工作效率，提高放大器的增益性能。在设计激光放大器时，一般假设氙灯为点光源或者柱状发射，从而形成了成像泵浦腔结构设计方法。成像泵浦腔结构放大器工作过程中存在氙灯自吸收导致自身负载增加等问题。氙灯工作前需要测试其光强分布，确认其发射特性和自吸收系数，选择不同的泵浦腔结构设计方法。
【发明内容】
[0003]本发明的目的是为解决上述问题而提供一种氙灯发光强度分布测试装置。
[0004]本发明的技术解决方案如下:
[0005]一种氙灯发光强度分布测试装置，其特征在于该装置包括平台、第一垫块、氙灯固定架、铝箔、氙灯、第一旋转轴支撑臂、旋转轴、导轨、光电探测器、紧固螺钉、滑块、第二旋转轴支撑臂、转换器和第二垫块，在所述的平台的一端固定第一垫块，所述的第二垫块固定在所述的平台的另一端，所述的第一垫块由基体和悬壁板构成的“ Γ ”形结构，所述的氙灯固定架固定在第一垫块的基体上，氙灯的两端分别固定在所述的氙灯固定架的上下两端轴孔中，所述的氙灯采用铝箔包裹，并留有微型发射窗口，第一旋转轴支撑臂固定在第一垫块的悬壁板上，所述的第二旋转轴支撑臂固定在第二垫块上，所述的旋转轴的一端置于第一旋转轴支撑臂的轴孔中，另一端置于第二旋转轴支撑臂的轴孔中。
[0006]所述的导轨包括半圆形工字导轨和导轨底座，所述的导轨底座的轴孔装套在所述的旋转轴上，形成绕所述的旋转轴的移动和转动结构，所述的半圆形导轨通过紧固螺钉固定在所述的导轨底座上，所述的滑块通过紧固螺钉固定在所述的半圆形导轨上，所述的光电探测器固定在所述的滑块上，所述的光电探测器的输出端与位于所述的第二垫块上的转换器的输入端相连接。
[0007]所述的铝箔可以是其它具有屏蔽光线的相关材料，包裹氙灯并留有微型发射窗口，窗口尺寸大小可调。
[0008]所述的半圆形导轨可以是工字导轨及其变形，使得测试系统具有最佳抗弯性能，保证系统的稳定性。
[0009]所述测试装置中采用单个光电探测器，滑块和底座具有两个运动自由度，包括一个转动副和一个移动副。根据光强大小，可调整光电探测器与氙灯之间的测试距离，通过调整转动副，实现2 31半球空间的氙灯发光强度分布测试。
[0010]所述的转换器，其测量波长可调，触发电平可调，可以测试多波长的光强分布，且可避免杂散光对测试的影响，保证测试的准确性。
[0011]本发明的优点:
[0012](I)结构简单，精度高，可实现多波长的光强分布测试。
[0013](2)导轨底座的主要作用是通过其绕旋转轴的转动和沿旋转轴的移动，并结合滑块绕工字导轨的转动，实现半球空间内的光强分布测试。
[0014](3)测试装置通过测试任一波长经过氙灯等离子体内不同传输距离后的光强值，可计算出自吸收系数，设计人员可根据根据吸收系数配置电路参数。
【附图说明】
[0015]图1为本发明氙灯发光强度分布测试装置结构示意图
[0016]图2为沿旋转轴轴向的装置剖面图
[0017]图3为图2的局部放大图
[0018]图4为垫块示意图
[0019]图5为铝箔示意图
[0020]图6为氙灯固定架剖面示意图
[0021]图7为半圆工字导轨示意图
【具体实施方式】
[0022]参看图1，氙灯发光强度分布测试装置的结构示意图。由图可见，本发明氙灯发光强度分布测试装置的构成包括:垫块2，分为基体21和悬壁板22，其结构示意图如图4所示。氣灯固定架3，其结构示意图如图6所示，氣灯固定架3固定在基体21上。氣灯5采用铝箔4包裹，并留有微型发射窗口 41，铝箔包裹的结构示意图如图5所示，氙灯5的两端分别位于氙灯固定架3的上下两端的轴孔中，并形成间隙配合，防止氙灯5放电过程中产生的冲击波击碎灯管。
[0023]参看图2，旋转轴支撑臂6固定在悬壁板22上，旋转轴7的一端位于旋转轴支撑臂6的轴孔内，旋转轴7的另一端位于旋转轴支撑臂13的轴孔内。旋转轴支撑臂13固定在垫块15上。垫块2和垫块15等高调整，并通过调整两者位置保证旋转轴支撑臂6、旋转轴支撑臂13、微型发射窗口 41三者的对称轴在同一平面内。
[0024]参看图3，氙灯发光强度分布测试装置的局部放大图。半圆工字导轨8分为导轨底座81和工字导轨82两部分。导轨底座81通过其轴孔和旋转轴7配合，形成绕旋转轴7的转动和移动，并通过禁固螺钉9锁紧。滑块12装在工字导轨81内，形成绕氙灯5的半圆转动。光电探测器10固定在滑块12上。
[0025]现结合实施例对本发明进一步说明。
[0026]氙灯发光强度分布测试装置:逆时针旋转紧固螺钉9至导轨底座81可自由运动，并调整导轨底座81与氙灯5的距离，满足光电探测器10与氙灯5的测试距离要求，待测试距离满足要求后，转动导轨底座81至所需的测试角度，拧紧紧固螺钉9使导轨底座81固定。转动滑块12在工字导轨81上的位置，并拧紧紧固螺钉11。铝箔微型发射窗口 41确定了氙灯5表面的发光点，光电探测器10确定了发光点的发光空间中的某一点。打开转换器14，选择测试波长和触发电平，点燃氙灯5，从而测得氙灯5在特定空间位置，特定波长的发光强度值，通过转换器14转换为能量值。继续转动滑块12，测试得到氙灯5在由半圆工字导轨8的姿态决定的空间平面内的光强分布。重复上述步骤，可得到氙灯5表面发光点的特定波长在半球空间内的光强分布。
【主权项】
1.一种氙灯发光强度分布测试装置，其特征在于该装置包括一个平台(I)、第一垫块(2)、氙灯固定架(3)、铝箔(4)、氙灯(5)、第一旋转轴支撑臂(6)、旋转轴(7)、导轨(8)、紧固螺钉(9)、光电探测器(10)、紧固螺钉(11)、滑块(12)、第二旋转轴支撑臂(13)、转换器(14)和第二垫块(15)，在所述的平台(I)的一端固定第一垫块(2)，所述的第二垫块(15)固定在所述平台⑴的另一端，所述的第一垫块⑵由基体(21)和悬壁板(22)构成的“ Γ ”形结构，所述的氙灯固定架(3)固定在第一垫块(2)的基体(21)上，氙灯(5)的两端分别固定在所述的氙灯固定架(3)的上下两端的轴孔中，所述的氙灯(5)采用铝箔(4)包裹，并留有微型发射窗口(41)，第一旋转轴支撑臂(6)固定在第一垫块(2)的悬壁板(22)上，所述的第二旋转轴支撑臂(13)固定在第二垫块(15)上，所述的旋转轴(7)的一端置于第一旋转轴支撑臂(6)的轴孔中，另一端置于第二旋转轴支撑臂(13)的轴孔中； 所述的导轨(8)包括半圆形导轨(81)和导轨底座(82)，所述的导轨底座(82)的轴孔套设在所述的旋转轴(7)上，形成绕所述的旋转轴(7)的移动和转动结构，所述的半圆形导轨(81)通过紧固螺钉(9)定位在所述的导轨底座(82)上，所述的滑块(12)通过紧固螺钉(11)定位在所述的半圆形导轨(81)上，所述的光电探测器(10)固定在所述的滑块(12)上，所述的光电探测器(10)的输出端与位于所述的第二垫块(15)上的转换器(14)的输入端相连接。2.根据权利要求1所述的氙灯发光强度分布测试装置，其特征在于所述的半圆形导轨(81)为工字导轨。
【专利摘要】一种氙灯发光强度分布测试装置，包括平台、两个垫块、氙灯固定架、氙灯、铝箔、旋转轴、两个旋转轴支撑臂、两个紧固螺钉、半圆工字轨道、滑块、光电探测器和转换器。本发明装置具有结构简单，可靠性高，测试距离、测试角度、测试波长可调的特点。
【IPC分类】G01M11/02
【公开号】CN104913908
【申请号】CN201510325928
【发明人】朱健强, 吴永忠, 焦翔, 李养帅, 尹进
【申请人】中国科学院上海光学精密机械研究所
【公开日】2015年9月16日
【申请日】2015年6月15日