缺陷检测方法及缺陷检测装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种检测方法，特别是涉及一种检测电路缺陷的缺陷检测方法及缺陷检测装置。
【背景技术】
[0002]参见图1所示，现有一种缺陷检测方法用以检测一电路板，例如一形成有触控电路的玻璃面板上的电路缺陷。且由于触控电路所包含的金属线路及ITO线路对光有不同的反射率，因此现有的缺陷检测方法会针对玻璃面板上的一部分区域，先以对于金属线路有较佳反射率的第一种光LI照射，并取得该区域的一第一影像(影像I)，再以对于ITO线路有较佳反射率的第二种光L2照射，以取得同一区域的一第二影像(影像2)，依此，循序扫描玻璃面板的全部区域，以分别取得各个区域在第一种光LI及第二种光L2照射下的影像1、2、3...，并将在第一种光LI照射下取得的所述影像1、3、5…组合在一起，即为整个玻璃面板在第一种光10照射下的完整影像，且将在第二种光L2照射下取得的所述影像2、4、6...组合在一起，即为整个玻璃面板在第二种光20照射下的完整影像。
[0003]然后，即可从所述影像1、3、5…组成的完整影像中检测金属线路的缺陷，并从所述影像2、4、6…组成的完整影像中检测ITO线路的缺陷。
[0004]然而，如图1所示，由于产生第一种光LI的第一发光单元11与产生第二种光L2的第二发光单元12被开启时，皆需要经过一段充电时间TU才会达到预设亮度而完全点亮，且其被关闭时，亦需要经过一段放电时间TD才会完全熄灭。因此，若影像1、3、5...的取像时间tl涵盖第一发光单元11的充电时间TU及放电时间TD，且影像2、4、6…的取像时间t2亦涵盖第二发光单元12的充电时间TU及放电时间TD，则影像1、3、5…及影像2、4、6...的头尾部分将因第一种光LI及第二种光L2在充电时间TU及放电时间TD的亮度不足，或是产生第一种光LI及第二种光L2的光混杂现象，而不能清楚显现所拍摄的内容。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种能使所取得的待测物的影像清楚显现待测物的内容的缺陷检测方法及缺陷检测装置。
[0006]本发明一种缺陷检测方法，用以取得一待测物的影像以对其进行缺陷检测，并包括:提供一灯源，使交替发出一第一种光及一第二种光；当该灯源发出该第一种光时，以一控制器控制一取像单元，使在该第一种光的亮度维持在一第一预设亮度的至少一半以上的一第一时间区间，取得该待测物的一第一影像；及当该灯源发出该第二种光时，以该控制器控制该取像单元，使在该第二种光的亮度维持在一第二预设亮度的至少一半以上的一第二时间区间，取得该待测物的一第二影像。
[0007]再者，本发明实现上述方法的一种缺陷检测装置，用以取得一待测物的影像以对其进行缺陷检测，并包括一灯源、一取像单元及一控制器；该灯源交替发出一第一种光及一第二种光；该取像单元用以取得该待测物的一影像；该控制器与该取像单元电耦接，并在该灯源发出该第一种光时，控制该取像单元在该第一种光的亮度维持在一第一预设亮度的至少一半以上的一第一时间区间，取得该待测物的一第一影像，且在该灯源发出该第二种光时，控制该取像单元在该第二种光的亮度维持在一第二预设亮度的至少一半以上的一第二时间区间，取得该待测物的一第二影像。
[0008]较佳地，该控制器还控制该取像单元在该第一时间区间与该第二时间区间之间的一第三时间区间停止取像，或取得该待测物的一第三时间区间的第三影像。
[0009]较佳地，该灯源包含一发出该第一种光的第一发光单元及一发出该第二种光的第二发光单元。
[0010]较佳地，该第一发光单元被关闭，使得该第一种光的亮度下降至该第一预设亮度的一半以下时，该控制器即控制该第二发光单元被开启，且该第二发光单元被关闭，使得该第二种光的亮度下降至该第二预设亮度的一半以下时，该控制器即控制该第一发光单元被开启，借此缩短该第三时间区间。
[0011]较佳地,该第一种光与该第二种光的颜色相同但强度不同，或者该第一种光与该第二种光的颜色不同。
[0012]较佳地，该取像单元被控制在该第一种光的亮度维持在该第一预设亮度的百分之九十以上的该第一时间区间取像，且该取像单元被控制在该第二种光的亮度维持在该第二预设亮度的百分之九十以上的该第二时间区间取像。
[0013]本发明的有益效果在于:借由将取像单元的取像时间控制在第一种光的亮度维持在第一预设亮度的至少一半以上的第一时间区间，以及控制取像单元的取像时间在第二种光的亮度维持在第二预设亮度的至少一半以上的第二时间区间，使取像单元在第一种光及第二种光的亮度至少维持在百分之五十以上时取像，而解决了现有技术中取得的影像的头尾端因亮度不足而无法清楚呈现的问题。
【附图说明】
[0014]图1显示现有一种缺陷检测方法取得待测物的影像的示意图。
[0015]图2显示本发明缺陷检测方法的一较佳实施例的流程图。
[0016]图3显示本发明缺陷检测装置的一较佳实施例的电路方块图。
[0017]图4显示本实施例在第一时间区间Tl及第二时间区间T2取得待测物的影像的示意图。
[0018]图5显示本实施例的第一种光及第二种光的波形示意图。
[0019]图6显示本实施例在第一时间区间Tl与第二时间区间T2之间的第三时间区间T3取得待测物的影像的示意图。
[0020]图7显示本实施例的第三时间区间T3可以被缩短的示意图。
【具体实施方式】
[0021]下面结合附图及实施例对本发明进行详细说明。
[0022]参见图2及3所示，是本发明缺陷检测方法的一较佳实施例，其使用一缺陷检测装置100取得一待测物(图未示)的影像，以对其进行缺陷检测。缺陷检测装置100主要包括一灯源1、一取像单元2及一与灯源I及取像单元2电耦接的控制器3。
[0023]由于要取得待测物的清楚影像，需要提供一定的亮度，且在本实例中，是以检测例如一形成有触控电路的玻璃面板(待测物)上的电路缺陷为例，而由于触控电路所包含的金属线路及ITO线路对光的反射率的差别很大，无法以同一种光进行检测。因此，首先，如图2的步骤SI所示，灯源I会以一默认频率交替地发出一第一种光LI及一第二种光L2，即所谓的闪频(stroboflash)，其波形交替周期如图4所示。因此灯源I包含一发出第一种光LI的第一发光单元11及一发出第二种光L2的第二发光单元12，其中第一种光LI对于金属线路有较佳的反射率，第二种光L2则对于ITO线路有较佳的反射率。例如第一种光LI与第二种光L2是颜色相同但强度不同的光，或者，第一种光LI与第二种光L2是不同颜色的光。
[0024]当然，若是待测物包含由三种或三种以上的材料构成的线路，且这三种或三种以上的线路对光的反射率的差别很大时，则需以三种或三种以上不同的光(强度不同或颜色不同)分次对待测物进行取像。
[0025]取像单元2在本实施例是一采用CXD或CMOS的影像传感器，用以取得待测物的一影像。且本实施例的取像单元2是一长条形的影像传感器阵列，且灯源I与取像单元2设置在一起并同时移动，类似扫描仪，取像单元2以循序移动方式于待测物上方从头到尾依序扫描待测物，以逐次取得待测物的每一部分的影像，进一步来说，其较佳地是以线扫描(Linescan)进行取像，且取像单元2的扫描(取像)频率与灯源I的默认频率相同。惟前述线扫描仅为举例，本发明并非以此为限。
[0026]且如图5所不，由于产生第一种光LI的第一发光单兀11与产生第二种光L2的第二发光单元12被开启时，皆需要经过一段充电时间TU，才会达到预设亮度而完全点亮，且其被关闭时，亦需要经过一段放电时间TD才会完全熄灭。
[0027]因此，为使取得的影像的头尾部分不致因第一种光LI及第二种光L2在充电时间TU及放电时间TD区间内亮度不足而无法清楚呈现，如图2的步骤S2及图4所示，当取像单元2依序扫描待测物时，控制器3在灯源I每次发出第一种光LI时，控制取像单元2在第一种光LI的亮度达到一第一预设亮度的至少一半以上的一第一时间区间Tl，取得待测物在第一种光LI之下的一第一影像，即影像1、3、5、…。
[0028]且如图2的步骤S3所示，控制器3会在