数据处理装置以及数据处理方法_2

文档序号:9291481阅读:来源:国知局
比相应地对离子强度加权(例如将离子强度设为I,将质荷比设为M,如I =MX (1)1/2那样对某峰值的强度I进行加权),可以正确地评价未知化合物的MSn质谱与多个已知化合物的MSl谱的类似性。
[0028]又,在本发明的数据处理装置中,所述强度分数计算部可以在未知化合物的11^质谱中去除离子强度的大小为阈值以下的峰值。
[0029]根据本发明的数据处理装置,可以得到仅着眼于合适的峰值的分数,能够进行可靠性高的检索。
[0030]又,在本发明的数据处理装置中,所述位置分数计算部可以以已知化合物的1<质谱中的峰值的质荷比为基准,对于未知化合物的11^质谱中的各峰值分别求出随着偏离该基准而降低的位置分数。
[0031]根据本发明的数据处理装置,例如,通过对以下函数进行组合,对于各峰值分别求出位置分数:以已知化合物的1<质谱中的峰值的质荷比为基准,随着偏离该基准而降低的适当的分布函数;以已知化合物的MSn质谱中的峰值的质荷比为基准,以适当的斜率向位置分数“O”衰减的近似函数;以已知化合物的1<质谱中的峰值的质荷比为基准,在一定范围内设置为某位置分数,该一定范围外设为位置分数“O”的阶段函数。另外,作为基准的已知化合物的MSn质谱中的峰值的质荷比不仅可以设为一定的值,而且还可以设为基于存在概率、根据结构式的分子轨道计算求出的结合力等的可变值。又,在分布函数、近似函数、阶段函数中,已知化合物的MSn质谱中的峰值存在多个的情况下,可以选择最接近基准的峰值、强度分数与位置分数乘积高的峰值。
[0032]如上所述,根据本发明的数据处理装置,通过采用峰值的位置的函数,能够进行可靠性高的检索。又,在将峰值的位置的函数设为直线分布的情况下,能够简单化,并能够高效地进行检索。
[0033]又,在本发明的数据处理装置中,所述位置分数计算部可以采用加合离子的质量来对未知化合物的13。质谱中的峰值的质荷比进行校正。
[0034]根据本发明的数据处理装置,也考虑了由于加合离子(-H、-0H、-CO2等的附加体)的缘故峰值的位置偏离I以上的情况。因此,对于精度范围外的峰值,通过基于加合进行对应,即使峰值的位置偏离I以上,也能够找到类似的峰值。
[0035]又,在本发明的数据处理装置中,所述峰值分数计算部可以求出随着一致的成对数而增加的峰值分数。
[0036]根据本发明的数据处理装置,可以根据一致的成对数来改变对分数的影响度,能够正确地检索多个部分结构一致的同一化合物的代谢物等的变化体。
[0037]又,在本发明的数据处理装置中,所述分数计算部可以分别求出表示未知化合物的MSn+m质谱与多个已知化合物的MS n+m质谱的类似性的MS n+m质谱的分数,使MS。质谱的分数与MSn+m质谱的分数相加。
[0038]根据本发明的数据处理装置,相关联的子或母的质谱也能够反映于分数,能够进行可靠性高的检索。
[0039]而且,本发明的数据处理方法是采用数据处理装置的数据处理方法,该数据处理装置具有:预先存储有多个已知化合物的1<质谱的数据库存储区域、取得未知化合物的皿<质谱的取得部、以及分别求出表示未知化合物的MS n质谱与多个已知化合物的MS n质谱的类似性的分数的分数计算部,所述数据处理方法包括:强度分数计算步骤,根据离子强度的大小分别将未知化合物的MSn质谱中的各峰值以及已知化合物的MS n质谱中的各峰值分类为数个阶段的强度分数;中性丢失计算步骤,求出未知化合物的MSn质谱中的中性丢失的峰值;位置分数计算步骤,其基于已知化合物的MSn质谱中的包含所述中性丢失的峰值的峰值的质荷比与相对应的未知化合物的MSn质谱中的峰值的质荷比之差,对于各峰值分别求出表示质荷比的误差的位置分数;以及分数计算步骤,对于各峰值,将已知化合物的1<质谱中的峰值的强度分数、未知化合物的|^质谱中的峰值的强度分数以及位置分数相乘,计算出关于所有峰值的乘积的总和作为分数。
[0040]又,在本发明的数据处理方法中,包含峰值分数计算步骤,基于一致度,求得表示一致度的峰值分数,所述一致度根据在已知化合物的MSn质谱中的峰值的质荷比和未知化合物的1<质谱中的峰值的质荷比中一致的成对数求出;以及加法运算步骤,将所述分数与所述峰值分数相加。
【附图说明】
[0041]图1是示出作为本发明的一实施形态的质量分析装置的概略结构的框图。
[0042]图2是示出存储于分布函数存储区域的分布函数的一例的图。
[0043]图3a是用于对数据处理方法的一例进行说明的流程图。
[0044]图3b是用于对数据处理方法的一例进行说明的流程图。
【具体实施方式】
[0045]以下,采用附图对本发明的实施形态进行说明。另外,本发明并不限定于以下说明的那样的实施形态,其在不脱离本发明的主旨的范围内包含各种形态。
[0046]图1是示出作为本发明的一实施形态的质量分析装置的概略结构的框图。
[0047]液相色谱质量分析装置(LC/MS) I具有液相色谱装置(LC) 10、能够进行MSn分析的质量分析装置(MS) 20、以及计算机(数据处理装置)30。
[0048]另外,在此,以利用由LC/MS1得到的质谱的情况为例,但利用气相色谱质量分析装置(GC/MS)等其他的色谱质量分析装置、进行试样的直接导入的质量分析装置的情况也是同样的。
[0049]LClO具有柱温箱11、内装于柱温箱11中的色谱柱12、以及连接于色谱柱12的入口端的样品注入部13。
[0050]根据这样的LC10,试样被载气推压,从样品注入部13被导入色谱柱12内。由此,试样中所含有的各成分(未知化合物)在通过色谱柱12内的期间在时间轴方向上被分离,到达色谱柱12的出口端。另外,色谱柱12的出口端连接于MS20。
[0051]MS20具有使未知化合物离子化的离子源21、能够对所生成的离子进行质量分离且进行MSn分析的质量分离部22、以及对被质量分离后的离子进行检测的检测器23。离子源21除了采用电喷雾离子源之外,可以采用音喷离子源、离子喷雾、基质辅助激光解吸离子源等。作为质量分离部22,可以采用例如三重四极型的质量分析装置、离子阱型的质量分析装置等。另外,从来源于各试样成分的离子中自动地选择具有适当的质荷比(m/z)的离子作为前体离子,或者选定事先指定的质荷比(m/z)的峰值作为前体离子,进行使该前体离子碎裂而产生的碎片离子的质量分离.检测。
[0052]根据这样的MS20,由离子源21离子化后的离子被导入质量分离部22。在质量分离部22中,对离子进行质量分离。又,按照测定者的设定依次进行1<分析(η = 2,3,4,...)。被质量分离后的离子被送至检测器23,作为11^质谱(η = 2,3,4,...)被检测出,1<质谱(η = 2,3,4,...)的数据被送至计算机30。
[0053]计算机30包括CPU31、存储器32、输入装置33以及显示装置34。将CPU31所处理的功能模块化进行说明的话,具有:取得未知化合物的MSn质谱的数据的取得部31a、计算出强度分数Id、Iq的强度分数计算部31b、计算出位置分数S(err)的位置分数计算部31c、中性丢失计算部3Ie、计算出峰值分数S(N)的峰值分数计算部3If、以及计算出分数Scr的分数计算部3Id。
[0054]存储器32具有用于蓄积离子强度I的离子强度存储区域32a、用于存储未知化合物的MSn质谱的未知化合物数据存储区域32b、预先存储多个已知化合物的MS n质谱的数据库存储区域32c、以及预先存储有用于计算出位置分数S (err)的分布函数的分布函数存储区域32d。
[0055]在此,被存储于数据库存储区域32c的已知化合物的MSn质谱是在通过MS20实际对已知化合物进行MSn*析时所得到的质谱,通过对多个已知化合物进行MS n分析,被存储于数据库存储区域32c中。
[0056]而且,被存储于数据库存储区域32c的已知化合物的MSn质谱中,对于离子强度Id,利用强度分数计算部31b根据离子强度Id的大小,将各峰值分别分类为三个阶段,具体来说,将离子强度1在1:以上的峰值分类为上位的强度分数“4”,将离子强度I在12以上且低于1:的峰值分类为中位的强度分数“3”,将离子强度I d低于12的峰值分类为下位的强度分数“2”。
[0057]又,已知化合物的11^质谱中,对于质荷比(m/z),利用位置分数计算部31c分别求出各峰值的质荷比(m/z)。
[0058]由此,例如,在一已知化合物的1^质谱中,以对第i个峰值分配强度分数“4”、质荷比(mi/Zl),对第(i+1)个峰值分配强度分数“2”、质荷比(m(1+1)/z(1+1))的方式,对所有的峰值分配强
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