颗粒物测量装置的制造方法_4

文档序号:9372940阅读:来源:国知局
第六气流通道314到达另一侧的外部空间。
[0070]由于气流阻力不同,第一贮存室321、第二贮存室322、第三贮存室323和第四贮存室324分别收集和排出第一平均粒径的颗粒物,测量室360收集第二平均粒径的颗粒物,其中第二平均粒径小于第一平均粒径。在环境大气中的小颗粒物比大颗粒更容易吸入测量室360中,从而可以将大气中的小颗粒物与大颗粒分离。结果,在测量室360中主要俘获小颗粒物。
[0071]大颗粒物偶然地进入测量室360。由于质量和体积的差异,不同粒径的颗粒物的运动特性不同。小颗粒物的运动方向容易受到气流方向变化的影响。在从测量室360到达第四气流通道352或第八气流通道354改变气流方向时,小颗粒物的运动方向也随之改变。然而,大颗粒物的运动方向受到气流方向变化的影响很小,容易到达并碰撞测量室360的侧壁。如果侧壁是垂直的,则大颗粒物将弹射返回测量室。在该实施例中,由于第三气流通道351和第四气流通道352、第七气流通道353和第八气流通道354、以及测量室360的至少一部分侧壁大角度倾斜,因此与侧壁碰撞的大颗粒物容易经由第七气流通道353和第八气流通道354弹射出测量室360。该改进设计进一步利用颗粒物的动力学特性提高了测量室360分离去除大颗粒物的能力,从而提高颗粒物测量装置的分辨率和测量精度。
[0072]根据第六实施例的颗粒物测量装置的其他方面与根据第一实施例的颗粒物测量装置相同。
[0073]图7示出根据本发明的第七实施例的颗粒物测量装置的示意性截面图。与第六实施例的颗粒物测量装置不同,除了第一至第八气流通道之外,在第二部件210中还形成了与第三气流通道351连通并且延伸方向一致的第九气流通道315、以及与第四气流通道352连通并且延伸方向一致的第十气流通道316,在第三部件220中还形成了与第七气流通道353连通并且延伸方向一致的第i^一气流通道317、以及与第八气流通道354连通并且延伸方向一致的第十二气流通道318。
[0074]在工作中,大颗粒物偶然地进入测量室360。由于质量和体积的差异,不同粒径的颗粒物的运动特性不同。小颗粒物的运动方向容易受到气流方向变化的影响。在从测量室360到达第四气流通道352或第八气流通道354改变气流方向时,小颗粒物的运动方向也随之改变。然而,大颗粒物的运动方向受到气流方向变化的影响很小,容易到达并碰撞测量室360的侧壁。如果侧壁是垂直的,则大颗粒物将弹射返回测量室。在该实施例中,由于第三气流通道351和第四气流通道352、第七气流通道353和第八气流通道354、以及测量室360的至少一部分侧壁大角度倾斜,因此与侧壁碰撞的大颗粒物容易经由第十气流通道316和第十二气流通道318弹射出测量室360。第十气流通道316与第四气流通道352连通并且延伸方向一致,第十二气流通道318与第八气流通道354连通并且延伸方向一致,从而可以避免大颗粒物弹射返回测量室的概率。该改进设计进一步利用颗粒物的动力学特性提高了测量室360分离去除大颗粒物的能力,从而提高颗粒物测量装置的分辨率和测量精度。
[0075]根据第七实施例的颗粒物测量装置的其他方面与根据第六实施例的颗粒物测量装置相同。
[0076]上述实施例只是本发明的举例,尽管为说明目的公开了本发明的实施例和附图,但是本领域的技术人员可以理解:在不脱离本发明及所附的权利要求的精神和范围内,各种替换、变化和修改都是可能的。因此,本发明不应局限于实施例和附图所公开的内容。
【主权项】
1.一种颗粒物测量装置,所述颗粒物测量装置在环境大气运动而产生气流,包括: 彼此相对的第一贮存室和第二贮存室,用于收集和排出第一平均粒径的颗粒物; 测量室,用于收集第二平均粒径的颗粒物,其中第二平均粒径小于第一平均粒径; 位于所述测量室中的光源和光电探测器,所述光源和所述光电探测器彼此成夹角以检测由第二平均粒径的颗粒物产生的散射光; 第一气流通道,将外部空间与第一贮存室连通; 第二气流通道,将外部空间与第二贮存室连通; 第三气流通道,将第一气流通道的末端与测量室连通,并且第三气流通道与第一气流通道的延伸方向不同; 第四气流通道,将第二气流通道的末端与测量室连通,并且第四气流通道与第二气流通道的延伸方向不同。2.根据权利要求1所述的颗粒物测量装置,还包括第一部件和位于第一部件上方的第二部件,其中在第一部件中形成测量室,在第二部件中形成第一贮存室和第二贮存室,并且第一部件和第二部件一起限定第一气流通道、第二气流通道、第三气流通道和第四气流通道。3.根据权利要求2所述的颗粒物测量装置,其中第一部件和第二部件由选自塑料、玻璃、半导体、铝合金、不锈钢中的一种材料组成。4.根据权利要求1所述的颗粒物测量装置,其中测量室的至少一部分侧壁相对于测量室的底部的夹角大于90度。5.根据权利要求4所述的颗粒物测量装置,其中第三气流通道和第四气流通道各自的至少一部分侧壁相对于测量室的底部的夹角大于90度。6.根据权利要求5所述的颗粒物测量装置,还包括: 第五气流通道,将第一气流通道的末端与外部空间连通,并且第五气流通道与第三气流通道的延伸方向相同;以及 第六气流通道,将第二气流通道的末端与外部空间连通,并且第六气流通道与第四气流通道的延伸方向相同。7.根据权利要求5所述的颗粒物测量装置,还包括: 第三贮存室和第四贮存室,用于收集和排出第三平均粒径的颗粒物, 其中,第三贮存与第三气流通道的中部连通,第四贮存室与第四气流通道的中部连通,并且,第三平均粒径小于第一平均粒径且大于第二平均粒径。8.根据权利要求1至7中任一项的颗粒物测量装置,还包括位于第一部件下方的第三部件,并且采用第三部件形成与第一部件相对应的多个气流通道和多个贮存室。9.根据权利要求1所述的颗粒物测量装置,还包括连接通道,将第一贮存室和第二贮存室连通,并且连接通道的截面积小于第一气流通道和第二气流通道的截面积。10.根据权利要求1所述的颗粒物测量装置,还包括与光源相对的遮光罩,用于吸收光源的直射光。11.根据权利要求1所述的颗粒物测量装置,其中所述光源为LED阵列光源。12.根据权利要求1所述的颗粒物测量装置,其中所述光电探测器为光电二极管。
【专利摘要】本发明公开了一种颗粒物测量装置,该颗粒物测量装置在环境大气运动而产生气流,包括:彼此相对的第一贮存室和第二贮存室,用于收集和排出第一平均粒径的颗粒物;测量室,用于收集第二平均粒径的颗粒物;位于该测量室中的光源和光电探测器;第一气流通道,将外部空间与第一贮存室连通;第二气流通道,将外部空间与第二贮存室连通;第三气流通道,将第一气流通道的末端与测量室连通,并且第三气流通道与第一气流通道的延伸方向不同;第四气流通道,将第二气流通道的末端与测量室连通,并且第四气流通道与第二气流通道的延伸方向不同。该颗粒物测量装置可以减小体积并且提高小颗粒物的分辨率和测量精度。
【IPC分类】G01N15/06
【公开号】CN105092443
【申请号】CN201510309718
【发明人】朱慧珑
【申请人】朱慧珑
【公开日】2015年11月25日
【申请日】2015年6月8日
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