方向的间距）也难W变动。因此，能够与撑套器角度无关而高精度地测定在设置 有撑套器的社制机架间行进的钢板等板材的平面度。在与此相同的条件下，还能够提供一 种板材的平面度测定装置。
[0039] 此外，也可W在将校正板相对于上述社制线倾斜2°的状态下进行基准间距测定。 在通常的社制中撑套器角度为0~25°，板角度大约变化0~4°。如果为了使误差最小， 而如上述那样进行基准间距测定，则板角度变动幅度为±2°，能够使由撑套器角度变动导 致的影响成为±0.72°W下。
[0040] 此外，为了解决上述课题，第二方式还提供一种钢板的制造方法，具有：通过构成 精社机列的社制机架对由粗社机粗社的钢巧进行社制的工序；W及通过冷却带对所社制 的钢板进行冷却的工序，基于通过上述平面度测定方法对上述钢板的平面度进行测定的结 果，对上述社制机架的社制条件W及上述冷却带的冷却条件的至少一方进行控制。
[0041] 发明的效果
[0042] 根据本发明，能够与撑套器角度无关而高精度地测定在设置有撑套器的社制机架 间行进的钢板等板材的平面度，由此能够确保钢板的品质，并且能够进行稳定的钢板的制 造。
【附图说明】
[0043] 图1是示意性地表示用于实施格栅投影法的装置构成例的图。
[0044] 图2A是表示精社机列中的平面度测定装置的设置状况的示意图。
[0045] 图2B是表示用于实施本实施方式的平面度测定方法的平面度测定装置的概要构 成例、并且表示对撑套器的下游进行测定的情况下的参数的取得方法的示意图。
[0046] 图2C是表示用于实施本实施方式的平面度测定方法的平面度测定装置的概要构 成例、并且表示对撑套器的上游进行测定的情况下的参数的取得方法的示意图。
[0047] 图3A是表示板材表面的倾斜角度与明暗图案的明部的间距的变化之间的关系的 说明图。
[0048] 图3B是表示板材表面的倾斜角度与明暗图案的明部的间距的变化之间的关系的 曲线图。
[0049] 图4A是表示板材表面的高度与明暗图案的明部的间距的变化之间的关系的图。
[0050] 图4B是表示板材表面的高度与明暗图案的明部的间距的变化之间的关系的曲线 图。
[0051] 图4C是表示设置角度a+P与每单位角度的间距变化率之间的关系的曲线图。
[0052] 图5是表示撑套器的角度0L与在通板路线上通板的热社钢板表面的高度hsW 及倾斜角度0S之间的关系的一例的曲线图。
[0053] 图6是表示图5所示的条件下的撑套器的角度化、和与热社钢板表面的倾斜角度 相应的周期性的明暗图案的明部的间距的变化率r、与热社钢板表面的高度相应的周期性 的明暗图案的明部的间距的变化率r'W及r-r'之间的关系的曲线图。
[0054] 图7是表示对撑套器的下游进行测定时的布局例的示意图。
[0055] 图8是表示图7的布局下的撑套器的角度0L与周期性的明暗图案的明部的间距 的变化率r、r'W及r-r'之间的关系的曲线图。
[0056] 图9是表示对撑套器的下游进行测定时的布局例的示意图。
[0057] 图10是表示图9的布局下的撑套器的角度0L与周期性的明暗图案的明部的间 距的变化率r、r'W及r-r'之间的关系的曲线图。
[0058] 图11是表示对撑套器的下游进行测定时的布局例的示意图。
[0059] 图12是表示图11的布局下的撑套器的角度0L与周期性的明暗图案的明部的间 距的变化率r、r'W及r-r'之间的关系的曲线图。
[0060] 图13是表示对撑套器的下游进行测定时的布局例的示意图。
[0061] 图14是表示图13的布局下的撑套器的角度0L与周期性的明暗图案的明部的间 距的变化率r、r'W及r-r'之间的关系的曲线图。
[0062] 图15A是在基准板的测定试验的试验概要中示意性地表示基准板的设置状况的 说明图。
[0063] 图15B是表示在实施例W及比较例中设定的撑套器角度0LW及基准板表面的倾 斜角度0S的曲线图。
[0064] 图15C是表示所摄像的图案图像的一例化及所设定的形状测定线的曲线图。
[0065] 图16A是表示对于图15A至图15C所示的实施例化及比较例、针对明暗图案中的 形状测定线L1计算出的明部的纵向间距的分布的曲线图。
[0066] 图16B是表示对于图15A至图15C所示的实施例化及比较例、针对明暗图案中的 形状测定线L2计算出的明部的纵向间距的分布的曲线图。
[0067] 图16C是表示对于图15A至图15C所示的实施例化及比较例、针对明暗图案中的 形状测定线L3计算出的明部的纵向间距的分布的曲线图。
[006引图17A是表示在热社钢板的平面度（睹度）巧憶结果的一例中、通过设置在第六 社制机架与第屯社制机架之间的平面度测定装置测定的睹度的曲线图。
[0069]图17B是表示在热社钢板的平面度（睹度）测定结果的一例中、通过设置于第屯 社制机架出口侧的平面度测定装置测定的睹度的曲线图。
[0070] 图18是表示交错状的明暗图案的说明图。
【具体实施方式】
[0071]W下，将板材为热社钢板、在热社钢板生产线的精社机列的社制机架间测定平面 度的情况作为例子，适当参照附图对本发明的一个实施方式进行说明。
[0072] <1.平面度测定装置的整体构成〉
[0073] 图2A至图2C是表示用于实施本实施方式的平面度测定方法的平面度测定装置的 概要构成例的示意图。图2A表示精社机列中的平面度测定装置的设置状况，图2B和图2C 表示平面度测定装置的概要构成。
[0074] 如图2A所示，本实施方式的平面度测定装置100,是在设置有7台社制机架F1~ 巧的热社钢板生产线的精社机列的第六社制机架F6与第屯社制机架巧之间、对热社钢板 S的平面度进行测定的装置。在各社制机架间，在第六社制机架F6与第屯社制机架F7之间 设置有对热社钢板S的张力进行控制的撑套器200。平面度测定装置100具备：投影部1， 将由明部W及暗部构成的明暗图案投影到热社钢板S的表面；摄像部2,对投影到热社钢板 S的表面上的明暗图案进行摄像并取得图案图像；W及图像解析装置3,对由摄像部2取得 的图案图像进行解析。
[007引如图2B、图2C所示，能够将本实施方式的撑套器200与上游侧社制机架F6之间或 者撑套器200与下游侧社制机架巧之间的任一方作为测定位置。
[0076] a意味着铅垂方向、与将摄像部的光轴向包含平行于社制方向的方向W及铅垂方 向的平面进行投影而得到的直线所成的角度，在摄像部2的光轴从铅垂方向朝撑套器200 侧倾斜的情况下成为正值。图3A中的a意味着铅垂方向与摄像部的光轴所成的角度。0 意味着铅垂方向、与将投影部的光轴向包含平行于社制方向的方向W及铅垂方向的平面进 行投影而得到的直线所成的角度，在投影部1的光轴从铅垂方向朝与撑套器200相反侧的 社制机架侧（在图2B中为社制机架F7侧，在图2C中为社制机架F6侧）倾斜的情况下成 为正值。图3A中的P意味着铅垂方向与投影部的光轴所成的角度。
[0077] 作为投影部1，例如能够如日本专利第4666272号公报所记载的那样，应用由灯、 幻灯片构成的投影仪，如日本专利第4666273号公报所记载的那样，应用具备多个LED的 LED光源。作为来自投影部1的例如周期性的明暗图案，使用明部M1、M2、M3等在纵向W及 横向上分别W规定的设定间距交错状地配置的交错状图案（图18)。W该交错状图案的纵 向沿着板材的长度方向、横向沿着板材的宽度方向的方式，向板材的表面进行投影。板材的 长度方向的明部的间距为町，宽度方向的间距为IV作为投影部1，只要能够投影明暗图案， 则能够应用各种公知的构成，因此此处省略对其进行详细的说明。
[0078] 作为摄像部2,例如能够如日本专利第4666272号公报、日本专利第4666273号公 报所记载的那样，使用具有SVGA尺寸的受光元件、W顺序方式输出图像信号的带电子快口 的二维CCD摄像机。也能够如日本专利第4666272号公报、日本专利第4666273号公报所 记载的那样，将W低灵敏度进行摄像的CCD摄像机W及W高灵敏度进行摄像的CCD摄像机 设置为摄像部2,并W两者的摄像视野具有相互重叠的部分的方式进行并排设置。如此，作 为摄像部2,只要能够对明暗图案进行摄像，就能够应用各种公知的构成，因此此处省略对 其进行详细的说明。
[0079]作为图像解析装置3，例如能够如日本专利第4666272号公报、日本专利第 4666273号公报所记载的那样构成为，在通用的个人计算机中安装执行用于计算平面度的 处理的程序（W下，称作平面度解析程序）。图像解析装置3构成为，将从摄像部2输出的 图像信号W规定的灰度（例如，256灰度）取入到存储器内。通过平面度解析程序来解析被 取入到图像解析装置3的存储器内的图像数据（图案图像），作为解析结果的平面度测定值 被输出至图像解析装置3的监视器画面W及上位的控制装置（对精社机等进行控制的控制 装置4)。
[0080] <2.平面度解析程序的处理概要〉
[0081] 通过上述平面度解析程序，例如日本专利第4666272号公报、日本专利第4666273 号公报所记载的那样，执行（1)形状测定线的设定处理、（2)沿形状测定线的平均像素浓度 分布的计算处理、（3)沿形状测定线的热社钢板表面的倾斜角度分布W及表面形状的计算 处理、（4)平面度（睹度）的运算处理等，计算出平面度。作为平面度解析程序，能够应用 各种日本专利第4666272号公报、日本专利第4666273号公报所记载的公知的构成，因此此 处仅对其概要进行说明，而省略对其详细的说明。
[0082] (1)形状测定线的设定处理
[0083] 在本处理中，在由摄像部2取得的图案图像中，在图案图像的横向（与板材的宽度 方向相当）上，W规定的间距设定沿图案图像的纵向（与板材的长度方向相当）延伸的形 状测定线。
[0084] 似沿形状测定线的平均像素浓度分布的计算处理
[0085] 在本处理中，对于由摄像部2取得的图案图像，如