一种便携式x射线衍射仪的制作方法
【技术领域】
[0001]本发明属于X射线技术领域，特别是涉及可精确控制测头做空间轨迹扫描的便携式X射线衍射仪。
【背景技术】
[0002]常见的X射线衍射仪采用常规的机械机构固定靶材和光管，靠步进电机控制机械结构运动做扫描测试。采用X射线管和探测器联动的方式进行衍射谱的采集，其靶材一般为Cr靶、Cu靶、Fe靶、Ag靶、Mo靶等，工作电压通常不超过50kV，所产生特征X射线(Ka)的波长较长，为0.07nm~0.29nm，导致X射线对样品的穿透深度较浅，约为1ym，难以获得材料内部的物相、织构和应力分布等信息。而采用重金属靶X射线管，如W靶或U靶X射线管，工作电压为2001^~4501^，所产生特征乂射线的波长小于0.03 nm，其穿透能力大大提高，但是仪器多采用固定式，难以实现对现场的扫描测试。
[0003]本发明提出的基于机械手(8)的X射线衍射仪即可采用常规Cr靶、Cu靶、Fe靶、Ag靶、Mo靶等，由于特征X射线的波长长，根据布拉格公式2dSin0=A可知，衍射角2Θ比较大，实现反射法进行衍射分析。同时在更换侧头(7)后也可用采用重金属靶X射线管，进行工件内部测试。如W勒或U靶X射线管，工作电压为200kV?450kV，所产生特征X射线的波长小于0.03nm，其穿透能力高，可分析厘米级金属样品内部的物相、织构和应力。如W革EKa1射线可穿透40mm招、4mm铁；U革EKa1射线可穿透约60mm招、1mm铁。由于短波长特征X射线的波长短，衍射角较小，通常在5°?20°范围内，适于采用透射法进行衍射分析。
[0004]现有X射线衍射仪的控制系统，主要有以下几点不足:
1.现场异形工件测试不变；
2.通常采用半闭环步进电机控制，精度不高；
3.样品台或仪器的移动轴少，测试样品不同部位时调整不变；
4.穿透深度有限，难以实现不同深度的应力测试。。
【发明内容】
[0005]本发明针对上述不足，提供一种基于机械手精确控制侧头做空间轨迹扫描的便携式X射线衍射仪，能更具现场条件在不移动工件位置只移动仪器的情况下完成测试。
[0006]本发明一种便携式X射线衍射仪，包括透射式测头、机械手、接收光阑、入射光阑、X射线管和X射线探测器;机械手的自由度为4或以上;透射式测量衍射谱时，X射线管和入射光阑安装于样品一侧，入射光阑固定于X射线管前端，机械手安装于样品另一侧，透射式测头安装于机械手末端的旋转轴上，透射式测头呈圆弧形，透射式测头具有圆弧轨道，X射线探测器安装于圆弧轨道上可沿轨道运动，入射光阑安装固定于X射线探测器前端。
[0007]本发明还包括能实现反射式衍射测试的反射式测头，反射式测头呈圆弧形，反射式测量衍射谱时，反射式测头安装于机械手上，X射线管和X射线探测器安装于反射式测头上，入射光阑固定于X射线管前端;接收光阑和X射线探测器安装于反射式测头上，与X射线管的夹角为样品的衍射角。
[0008]本发明的一种便携式X射线衍射仪，所述X射线探测器上设有激光对中仪。
[0009]本发明的一种便携式X射线衍射仪，所述反射式测头居中部位设有激光测距仪。
[0010]本发明能在同一台机械手和同一台主机的情况下只需更换测头就能完成反射式和透射式测试。
[0011]本发明在做反射式测试时，机械手上安装反射式测头，测试时测头位于机械手侧。本发明在做反射式测试时，反射式测头上安装X射线管和X射线探测器。
[0012]本发明在做透射式时，机械手上安装透射式测头，测试时测头在机械手侧，透射式测头上安装X射线探测器，X射线管在测试样品的相对侧。
[0013]本发明在测试时工件位置不动，机械手和测头完成定位和扫描动作，可实现测头对被测工件任意点完成定位测试。
[0014]本发明的X射线衍射仪还包括控制系统，控制系统包括:
X射线管控制模块，控制系统指令控制X射线管的开关和电流、电压等运行参数；
测头运动控制模块，透射式时控制系统指令测头带动探测器运动。
[0015]本发明的控制系统是一套基于机械手的完整数控系统，主要多关节机械手、其他电机及其驱动器等硬件和相应的控制软件组成。该系统的主要功能是实现测头的空间运动(包括平动和转动)和测头对被测点的空间定位。
[0016]本发明的控制系统可控制X射线管高压发生器的通断，并可对光管的运行参数进行调整。
[0017]本发明的X射线管(I)可为重金属靶的X射线管，如W靶或U靶X射线管，采用透射式或反射式衍射光路测量衍射谱。本发明的X射线管也可为常规金属靶的X射线管，如Cu靶、Cr靶、Fe靶、Ag靶等X射线管，采用反射式衍射光路测量晶体样品表层的衍射谱；
本发明的优点有:
I.可到用户车间进行现场测试。
[0018]2.探测器可选用点探测器、线探测器或面探测器。
[0019]3.可快速、精确控制测头位置和角度，快速精确控制衍射角度测量，能适应各种晶体物质微观结构的测量研究。
[0020]4.在工件或样品不移动动的情况下，可在一台设备上采用透射式和反射式衍射光路测量衍射谱。
[0021 ] 5.对工件大小、外形等无特殊限制。
【附图说明】
[0022]图1 X射线衍射仪透射式结构示意图图2 X射线衍射仪反射式结构示意图图3反射式测头示意图图4反射式衍射光路示意图图5透射式衍射光路示意图图1中，1.X射线管、2.入射光阑、3.工件/样品、4.接收光阑、5.X射线探测器、6.激光测距仪、7a.透射式测头、7b.反射式测头8.多轴机械手。
【具体实施方式】
[0023]下面结合附图对本发明作进一步说明。
[0024]见图1，本发明的X射线衍射仪，在做透射式实验时主要包括多轴机械手8、透射式测头7、X射线管1、入射光阑2;其中接收光阑4、X射线探测器5、激光对中仪，安装于透射式测头7a弧形导轨上，测头安装于机械手的末端旋转轴上。
[0025]见图2、图3，本发明的X射线衍射仪，在做反射式实验时主要包括多轴机械手8和反射式测头7b。其中X射线管1、X射线探测器5、激光测距仪均安装于反射式测头7b上，反射式测头7b安装于机械手的末端旋转轴上。入射光阑2固定于X射