三轴dc-ac连接系统的制作方法_2

文档序号:9749557阅读:来源:国知局
缆远端处(例如在DUT处)的连接。现有系统不提供从IV测试(如图1中所示)切换到AC测试(如图2和3中所示)的手段。
[0021]如图2和3中所示,中间导体正常不连接到线缆的近端或远端处的任何事物。这在中心和外部导体之间建立传输路径。然而,一些用户可能对允许中间导体浮动感到不适。因此,在其它实施例中,中间导体可以通过大阻抗连接到电信号(例如仪器上的端子、接地或某个其它信号)。该阻抗必须比中心与中间导体之间的线缆的特征阻抗大得多,以避免干扰线缆中的传输路径。典型地,阻抗至少为线缆的特征阻抗的十倍大。这可能使线缆的性能下降大约百分之十。当期望更好的性能时,可以使用甚至更大的阻抗。例如,使用线缆的特征阻抗的一百倍大的阻抗可以对线缆的性能仅具有1%的影响。
[0022]已经参照所图示的实施例描述和说明了本发明的原理,将认识到,所图示的实施例可以在布置和细节方面进行修改而不脱离于这样的原理,并且可以以任何期望的方式进行组合。并且虽然前述讨论已集中在特定实施例上,但是预计到其它配置。特别地,即使在本文使用诸如“根据本发明的实施例”等之类的表述,但是这些短语意在一般地引用实施例可能性,并且不意图将本发明限于特定实施例配置。如本文所使用的,这些术语可以引用可组合成其它实施例的相同或不同的实施例。
[0023]因此,鉴于对本文所描述的实施例的各种各样的置换,本详细描述和随附材料仅仅意图是说明性的,并且不应当被视为限制本发明的范围。因而,本发明所要求保护的是如可以进入随附权利要求及其等同物的范围和精神内的所有这样的修改。
【主权项】
1.一种系统,被配置成对被测器件(DUT)执行至少两种不同类型的测试而不改变DUT处的连接,其中第一类型的测试受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗并且第二类型的测试不受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗,所述系统包括: 测试仪器; 被测器件(DUT);以及 两个或更多个三轴线缆,其中远端靠近DUT定位并且近端靠近测试仪器定位,每一个线缆具有中心导体、中间导体和外部导体,其中: 中心导体在每一个线缆的远端处连接到DUT并且在每一个线缆的近端处连接到测试仪器; 外部导体在线缆的远端和近端二者处连接到彼此;并且外部导体在线缆的近端处连接到与测试仪器共享的接地;并且其中系统被配置成当中间导体未在线缆的近端处连接到彼此并且未连接到测试仪器时执行第一类型的测试。2.权利要求1所述的系统,其中测试仪器包括第一组端子和不同于第一组的第二组端子;并且 系统还被配置成当线缆连接到第一组端子时执行第一类型的测试;并且 系统还被配置成当线缆连接到第二组端子时执行第二类型的测试。3.权利要求1所述的系统,其中一个或多个中间导体还通过控制阻抗的至少十倍大的阻抗连接到电信号或接地。4.权利要求1所述的系统,其中接地是仪器的内部接地。5.权利要求1所述的系统,其中线缆的远端处的至少一个外部导体连接制作在DUT载体上。6.权利要求1所述的系统,其中每一个线缆在中心导体与外部导体之间具有50欧姆的期望特征阻抗。7.权利要求1所述的系统,其中测试仪器要求线缆具有匹配的阻抗。8.—种系统,被配置成对被测器件(DUT)执行至少两种不同类型的测试而不改变DUT处的连接,其中第一类型的测试受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗并且第二类型的测试不受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗,所述系统包括: 用于执行第一类型的测试的第一测试仪器; 用于执行第二类型的测试的第二测试仪器; 被测器件(DUT);以及 两个或更多个三轴线缆,其中远端靠近DUT定位并且近端靠近一个测试仪器定位,每一个线缆具有中心导体、中间导体和外部导体,其中: 中心导体在每一个线缆的远端处连接到DUT; 外部导体在线缆的远端和近端二者处连接到彼此;并且 外部导体在线缆的近端连接到与至少一个测试仪器共享的接地;并且 其中系统被配置成在下述情况时执行第一类型的测试: 中心导体在线缆的近端处连接到第一测试仪器; 中间导体未在线缆的近端处连接到彼此;以及 中间导体未连接到第一或第二测试仪器中的任一个;并且 其中系统被配置成在中心导体在线缆的近端处连接到第二测试仪器时执行第二类型的测试。9.权利要求8所述的系统,其中一个或多个中间导体还通过控制阻抗的至少十倍大的阻抗连接到电信号或接地。10.权利要求8所述的系统,其中接地是第一或第二仪器的内部接地。11.权利要求8所述的系统,其中线缆的远端处的至少一个外部导体连接制作在DUT载体上。12.权利要求8所述的系统,其中每一个线缆在中心导体与外部导体之间具有50欧姆的期望特征阻抗。13.权利要求8所述的系统,其中至少一个测试仪器要求线缆具有匹配的阻抗。14.一种利用测试仪器对被测器件(DUT)执行两个或更多个不同类型的测试而不改变DUT处的连接的方法,其中至少一种类型的测试受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗,所述方法包括: 将DUT连接到两个或更多个三轴线缆,其中每一个线缆具有远端和近端,每一个线缆包括中心导体和中间导体以及外部导体,连接DUT的步骤包括: 在线缆的远端处将中心导体连接到DUT; 在线缆的远端处将外部导体连接到彼此;以及 使中间导体在线缆的远端处断开; 配置线缆的近端以执行第一类型的测试而不改变线缆的远端处的连接;其中 第一类型的测试受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗;并且 配置的步骤包括: 在线缆的近端处将外部导体连接到彼此并且连接到与测试仪器共享的接地; 在线缆的近端处将中心导体连接到测试仪器;以及 使中间导体彼此断开并且与DUT断开;并且 配置线缆的近端以执行第二类型的测试而不改变线缆的远端处的连接;其中 第二类型的测试不受益于在测试仪器与DUT之间具有控制阻抗;并且 配置的步骤包括: 在线缆的近端处将中心导体连接到测试仪器;以及 在线缆的近端处将外部导体连接到彼此并且连接到与测试仪器共享的接地。15.权利要求14所述的方法,其中测试仪器包括单个测试仪器。16.权利要求14所述的方法,其中测试仪器包括用于执行第一类型的测试的第一测试仪器和用于执行第二类型的测试的第二测试仪器,并且方法还包括在配置线缆的近端以执行第一或第二类型的测试时将线缆连接到相应的第一或第二测试仪器。17.权利要求14所述的方法,还包括: 通过该线缆的中心导体与外部导体之间的特征阻抗的至少十倍大的阻抗将至少一个中间导体连接到电信号或接地。18.权利要求14所述的方法,其中接地是测试仪器的内部接地。19.权利要求14所述的方法,其中在线缆的远端处将外部导体连接到彼此的步骤包括通过DUT载体制作至少一个连接。20.权利要求14所述的方法,其中每一个线缆在中心导体与外部导体之间具有50欧姆的期望特征阻抗。
【专利摘要】本发明涉及三轴DC-AC连接系统。本发明的实施例提供了一种用于将电气测试仪器连接到被测器件(DUT)的改进的双线缆连接系统。在一个实施例中,单对等长三轴线缆每一个具有期望的特征阻抗。每一个线缆具有中心连接器、中间导体和外部导体。每一个线缆的近端连接到测试仪器,并且远端位于DUT处。在远端,中心导体连接到DUT,允许中间导体浮动,并且外部导体连接到彼此。每一个线缆的近端使用对于将执行的测试而言适当的连接而连接到设备。这允许测试仪器执行不同类型的测试而不改变到DUT的连接。
【IPC分类】G01R31/26, H01L21/66, G01R31/28, G01R31/02
【公开号】CN105510757
【申请号】CN201510615226
【发明人】W.C.格克, G.索波列夫斯基
【申请人】基思利仪器公司
【公开日】2016年4月20日
【申请日】2015年9月24日
【公告号】EP3001209A1, US20160084878
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