一种电磁铁综合参数测试仪电路的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电磁铁综合参数测试仪，具体涉及一种电磁铁综合参数测试仪电路。
【背景技术】
[0002]目前现有的电磁铁综合参数测试装置，其技术主要采用可调直流稳压源进行测量，在被测电磁铁激励输入端施加稳压电源，手动调节电压从OV缓慢上升，直至听到衔铁动作的声音停止电压的调节，用此方法测量电磁铁二次动作电压，由于操作复杂，必须要有专业人员进行检测，导致测试环节繁琐，工作效率极低，对于大批量的电磁铁生产检测极为困难。
【发明内容】
[0003]本实用新型的目的是提供一种测试时间短，操作简单，可靠性高，能够提高生产效率的测试电磁铁综合参数的仪表电路，以解决现有技术水平导致的工作效率低的状况。
[0004]本实用新型所采用的技术方案是:一种电磁铁综合参数测试仪电路，包括:时钟电路、AD信号采样处理电路、DA信号处理电路、LCD显示驱动电路、功能按钮电路、动作检测电路、通信接口电路及CPU ;所述CPU分别连接时钟电路、AD信号采样处理电路、DA信号处理电路、IXD显示驱动电路、键盘接口电路、动作检测电路及通信接口电路。
[0005]进一步地，所述时钟电路包括晶振Y1、电容C29及电容C30 ;所述晶振Yl分别连接电容C29和电容C30 ;所述电容C29和电容C30分别连接地。
[0006]更进一步地，所述AD信号采样处理电路包括A/D转换芯片U32、电容C23、电容C37、电容C38、电容C39、电容C40、电容C24、电容C42、电压源芯片U33、电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93、电阻R88、电阻R89、稳压管D44及稳压管D45 ;所述A/D转换芯片U32的第十二脚、第十四脚、第十五脚及第十六脚分别连接所述CPU ;所述电容C37、电容C38、电容C39、电容C40 —端分别连接A/D转换芯片U32的第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，这四个电容的另一端分别连接地MGND ;所述电容C23 —端连接电源VCC，另一端连接A/D转换芯片U32第^^一脚；所述电容C24、电容C42、电压源芯片U33及电阻R88 —端分别连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端分别连接地MGND ;所述电压源芯片U33连接电阻R88 ;所述电阻R89 —端连接A/D转换芯片U32的第八脚，另一端连接+6V电源；所述稳压管D44和稳压管D45 —端分别连接A/D转换芯片U32的第三管脚和第二管脚，另一端分别连接地MGND ;所述电阻R90、电阻R91、电阻R92、电阻R93 —端分别连接A/D转换芯片U32第二管脚、第三管脚、第四管脚及第五管脚，另一端分别连接通道0、通道1、通道2及通道3。
[0007]更进一步地，所述DA信号处理电路包括D/A转换芯片U26、电容C32、电容C33、电阻R65、电容C17、电容C41、电阻R64、电位器R87及电源模块U27 ;所述D/A转换芯片U26的第一脚、第二脚、第三脚及第四脚分别连接CPU ;所述D/A转换芯片U26的第八脚分别连接电源VCC和电容C32 ;所述电容C32的另一端连接地；所述电容C33 —端连接电阻R65，另一端连接地；所述电阻R65另一端连接D/A转换芯片U26的第七脚；所述D/A转换芯片U26的第五脚连接地；所述D/A转换芯片U26的第六脚分别连接电阻R64、电容C17、电容C41及电源模块U27的第二脚；所述电源模块U27的第三脚分别连接电容C17、电容C41和地；所述电源模块U27的第一脚连接电位器R87 ;所述电阻R64 —端连接电源模块U27的第二脚，另一端连接+6V电源。
[0008]更进一步地，所述IXD显示驱动电路包括IXD接口 J4、电位器W5、缓冲器U6及与门U3B ;所述IXD接口 J4的第五脚至第十二脚分别连接缓冲器U6的第十二脚至第十九脚，作为数据端口 DATAO至DATA7 ;所述IXD接口 J4的第一脚和第三脚分别连接地；所述IXD接口 J4的第二脚和第四脚分别连接电源VCC ;LCD接口 J4的第十三脚和第十四脚分别连接CPU ;所述LCD接口 J4的第十七脚和第十八脚分别连接电位器W5 ;所述电位器W5的另一端连接地；所述与门U3B的第四脚和第五脚分别连接CPU，第六脚连接缓冲器U6的第十一脚；所述缓冲器U6的第二脚至第九脚分别连接CPU ;所述缓冲器U6的第一脚连接地。
[0009]更进一步地，所述键盘接口电路包括二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39、二极管D23及键盘接口 J5 ;所述二极管D32、二极管D33、二极管D34、二极管D35、二极管D36、二极管D37、二极管D38、二极管D39正极分别连接CPU，负极分别连接键盘接口 J5。
[0010]更进一步地，所述动作检测电路包括电阻R81、场效应管W12、稳压二极管D48、电阻R54、电阻R55、电位器W15、运放U30、电容C51、电阻R72、电阻R56、电容C25、电阻R57、电位器W14、运放U34、二极管D49、电阻R58、电阻R9、稳压二极管D46及非门UlOC ;所述场效应管W12栅极连接CPU ;所述稳压二极管D48正极连接场效应管W12源极；所述场效应管W12源极连接地50VGND ;所述稳压二极管D48负极连接场效应管W12漏极；所述电阻R81 —端连接场效应管W12漏极，另一端分别连接输出端和电阻R55 ;所述电阻R55另一端连接运放U30正向端；所述电阻R54 —端接地，另一端连接运放U30反向端；所述运放U30第四脚连接-6V电源，第七脚连接+6V电源；所述电位器W15跨接在运放U30反向端和输出端之间；所述电容C51 —端连接运放U30输出端，另一端分别连接电阻R72和电阻R56 ;所述运放U34反向端分别连接电位器W14、电阻R56和电容C25，运放U34正向端连接电阻R57 ;所述电阻R57另一端分别连接电阻R72、电容C25和地MGND ;所述运放U34输出端分别连接电位器W14和二极管D49的正极；所述电阻R58 —端连接二极管D49负极，另一端分别连接电阻R9、稳压二极管D46负极和非门UlOC的第五脚；所述稳压二极管D46正极分别连接电阻R9和地MGND ;所述非门UlOC的第六脚连接CPU。
[0011]更进一步地，所述通信接口电路包括232芯片U22、485芯片U31、通信接口 J11、电容C45、电容C46、电容C47、电容C48、电容C49、电阻R70、电阻R71及电阻R86 ;所述232芯片U22第^^一脚分别连接CPU和485芯片U31第四脚；所述232芯片U22第十二脚分别连接CPU和485芯片U31第一脚；所述电容C45跨接在232芯片第一脚和第三脚之间；所述电容C46跨接在232芯片第四脚和第五脚之间；所述232芯片U22第十三脚和十四脚分别连接通信接口 Jll ;所述232芯片U22第十六脚分别连接电源VCC和电容C49 ;所述电容C47一端连接电源VCC，另一端连接232芯片U22第二脚；所述电容C47 —端连接电源地，另一端连接232芯片U22第六脚；所述232芯片U22第十五脚连接地；所述485芯片U31第二脚和第三脚分别连接CPU ;所述485芯片U31第五脚分别连接地和电阻R71 ;所述485芯片U31第六脚分别连接电阻R86和通信接口 Jll ;所述电阻R70分别连接电源VCC、485芯片U31第七脚及电阻R86。
[0012]本实用新型跟现有技术相比较具有如下优点:1.结构设计合理，2.测试功能齐全，3.操作简单。4测试速度快。
[0013]除了上面所描述的目的、特征和优点之外，本实用新型还有其它的目的、特征和优点。下面将参照图，对本实用新型作进一步详细的说明。
【附图说明】
[0014]构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。